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1、1第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 sampling第一節(jié)第一節(jié) 概述概述 一、定義在礦體和近礦圍巖以及礦山的產(chǎn)品上,按照一定的規(guī)格和重量采取一部分樣品,目的為了研究礦石的質(zhì)量:即化學(xué)成分、物理性質(zhì)、礦床開采技術(shù)條件(性質(zhì))、礦石的 加工技術(shù)性能,這一項(xiàng)專門性的地質(zhì)工作叫做取樣二、工作環(huán)節(jié)1、采樣:在采樣過(guò)程中要保證樣品總體具有可靠性、代表性2、樣品加工:原樣破碎 拌勻縮分3、化驗(yàn)和試驗(yàn)取樣的 關(guān)鍵問(wèn)題是樣品的代表性問(wèn)題三、取樣任務(wù)及分類三、取樣任務(wù)及分類確定有用組份和有害組份的含量確定有用組份和有害組份的含量確定化學(xué)確定化學(xué)組分組分 化學(xué)取樣化學(xué)取樣確定物理性質(zhì)確定物理性質(zhì) 物理取樣物

2、理取樣確定礦床的開采條件確定礦床的開采條件 技術(shù)取樣技術(shù)取樣確定礦石的確定礦石的 加工技術(shù)性能加工技術(shù)性能 加工技術(shù)取樣加工技術(shù)取樣2取樣分類取樣分類化學(xué)取樣化學(xué)取樣確定有用組份和有害組份的含量確定化學(xué)組分確定物理性質(zhì)確定礦床的開采條件物理取樣物理取樣技術(shù)取樣技術(shù)取樣加工技術(shù)加工技術(shù)取樣取樣確定礦石的 加工技術(shù)性能3第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling第一節(jié)第一節(jié) 概述概述第二節(jié)第二節(jié) 化學(xué)分析取樣化學(xué)分析取樣Chemical samplingChemical sampling 一、目的與任務(wù)一、目的與任務(wù)1、目的、目的 了解礦石質(zhì)量及礦床中的物質(zhì)組份的分布了解礦石質(zhì)量及礦

3、床中的物質(zhì)組份的分布規(guī)律,要達(dá)到該目的,只有通過(guò)化學(xué)取樣才能夠達(dá)到。規(guī)律,要達(dá)到該目的,只有通過(guò)化學(xué)取樣才能夠達(dá)到。2、任務(wù)、任務(wù)確定有用組份、有害組份、有益組份的種類和含量,確定有用組份、有害組份、有益組份的種類和含量,以及他們的以及他們的 賦存狀態(tài)及分布規(guī)律賦存狀態(tài)及分布規(guī)律確定礦與非礦確定礦與非礦圈定礦體界線圈定礦體界線 確定礦與非礦的界線確定礦與非礦的界線劃分礦石的自然類型和工業(yè)品級(jí)劃分礦石的自然類型和工業(yè)品級(jí)并圈出它并圈出它們的分布地段們的分布地段了解開采時(shí)的貧化和損失情況了解開采時(shí)的貧化和損失情況化學(xué)樣品的采取必須在不同的化學(xué)樣品的采取必須在不同的 探礦探礦工程中采取,工程中采取,

4、為此,可以分為為此,可以分為坑探坑探工程取樣工程取樣和和鉆探工程取樣鉆探工程取樣。4第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling坑探工程包括探槽坑探工程包括探槽(exploration trench)、淺井、淺井(shaft)、沿脈、穿脈、暗井等,在以上工程中、沿脈、穿脈、暗井等,在以上工程中對(duì)揭露的對(duì)揭露的 礦體和礦體和 圍巖進(jìn)行樣品的采集叫坑探圍巖進(jìn)行樣品的采集叫坑探工程取樣(包括天然露頭)工程取樣(包括天然露頭)取樣方法取樣方法有:有:刻槽法刻槽法carve、剝層法、剝層法stripping、全巷法全巷法whole tunnel method、方格法、方格法square pa

5、ttern method、揀塊法、揀塊法picked sampling method、打眼法、打眼法cut hole method等等一一) )、刻槽法、刻槽法1 1、定義、定義在礦體或圍巖上按一定的規(guī)格開一個(gè)槽,該槽在礦體或圍巖上按一定的規(guī)格開一個(gè)槽,該槽中鑿下的為樣品,槽子稱為樣槽中鑿下的為樣品,槽子稱為樣槽sampling sampling channelchannel,這種采樣方法叫做刻槽法,這種采樣方法叫做刻槽法2 2、樣槽布置的原則、樣槽布置的原則樣槽沿礦體物質(zhì)成分變化最大的方向布置,并樣槽沿礦體物質(zhì)成分變化最大的方向布置,并穿過(guò)礦體全部。穿過(guò)礦體全部。3 3、采樣規(guī)格、采樣規(guī)格

6、sampling designsampling design一、目的與任務(wù)一、目的與任務(wù)二、坑探工程取樣二、坑探工程取樣第一節(jié)第一節(jié) 概述概述第二節(jié)第二節(jié) 化學(xué)分析取樣化學(xué)分析取樣Chemical samplingChemical sampling 5第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling一一) )、刻槽法、刻槽法1 1、定義、定義2 2、樣槽布置的原則、樣槽布置的原則3 3、采樣規(guī)格、采樣規(guī)格 sampling design樣槽規(guī)格包括:槽長(zhǎng)、寬、深、斷面形態(tài)樣槽規(guī)格包括:槽長(zhǎng)、寬、深、斷面形態(tài)1 1)斷面規(guī)格:)斷面規(guī)格: 斷面形態(tài):長(zhǎng)方形、三角形斷面形態(tài):長(zhǎng)方形、三角形

7、 斷面規(guī)格:指橫斷面的寬度、深度的總和,斷面規(guī)格:指橫斷面的寬度、深度的總和,一般表示為寬度一般表示為寬度深度深度 如如 7 3cm 10 5cm 影響斷面規(guī)格(斷面大小)的因素影響斷面規(guī)格(斷面大?。┑囊蛩?礦化礦化均勻程度均勻程度礦體厚度礦體厚度礦石礦物的顆粒大小礦石礦物的顆粒大小 礦石的脆性礦石的脆性 確定樣槽斷面的大小的方法確定樣槽斷面的大小的方法 類比法類比法analogy methodanalogy method 試驗(yàn)法試驗(yàn)法testing methodtesting method2)2)樣品長(zhǎng)度(采樣長(zhǎng)度)樣品長(zhǎng)度(采樣長(zhǎng)度)(sample length)一個(gè)樣槽具有三大要素即斷

8、面規(guī)格,斷面形態(tài)、樣品一個(gè)樣槽具有三大要素即斷面規(guī)格,斷面形態(tài)、樣品長(zhǎng)度。長(zhǎng)度。概念:?jiǎn)蝹€(gè)樣品沿著采樣線刻取的長(zhǎng)度(即概念:?jiǎn)蝹€(gè)樣品沿著采樣線刻取的長(zhǎng)度(即單個(gè)樣槽的長(zhǎng)度)單個(gè)樣槽的長(zhǎng)度)影響樣長(zhǎng)的因素影響樣長(zhǎng)的因素 礦體厚度礦石類型礦體厚度礦石類型礦化均勻程度最小可采厚度礦化均勻程度最小可采厚度, ,一般小于最小一般小于最小可采厚度夾石剔除厚度,一般小于夾石剔除可采厚度夾石剔除厚度,一般小于夾石剔除厚度厚度3 3)確定樣長(zhǎng)的方法)確定樣長(zhǎng)的方法 類比法類比法 試驗(yàn)法試驗(yàn)法6第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling一一) )、刻槽法、刻槽法1 1、定義、定義2 2、樣槽布置的原

9、則、樣槽布置的原則3 3、采樣規(guī)格、采樣規(guī)格 sampling design4、刻槽采樣樣槽的布置、刻槽采樣樣槽的布置1)探槽一般布置在槽底)探槽一般布置在槽底 當(dāng)?shù)V體陡傾斜時(shí),傾角當(dāng)?shù)V體陡傾斜時(shí),傾角45,在槽底取樣,在槽底取樣當(dāng)?shù)V體緩傾斜時(shí),傾角當(dāng)?shù)V體緩傾斜時(shí),傾角45,可在槽底或,可在槽底或槽壁取樣槽壁取樣當(dāng)?shù)V體近似水平(傾角當(dāng)?shù)V體近似水平(傾角10),在槽壁作階,在槽壁作階梯狀取樣梯狀取樣當(dāng)?shù)V體當(dāng)?shù)V體近似水近似水平(傾平(傾角角10),在槽壁在槽壁作階梯作階梯狀取樣狀取樣12345677一一) )、刻槽法、刻槽法1 1、定義、定義2 2、樣槽布置的原則、樣槽布置的原則3 3、采樣規(guī)格、

10、采樣規(guī)格 sampling design4、刻槽采樣樣槽的布置、刻槽采樣樣槽的布置1)探槽一般布置在槽底)探槽一般布置在槽底2)垂直坑道中一般布置在井壁)垂直坑道中一般布置在井壁 當(dāng)?shù)V化均勻時(shí),在一井壁取樣當(dāng)?shù)V化均勻時(shí),在一井壁取樣當(dāng)?shù)V化不均勻時(shí),在相對(duì)兩壁或四壁采樣后當(dāng)?shù)V化不均勻時(shí),在相對(duì)兩壁或四壁采樣后合并為一個(gè)樣品合并為一個(gè)樣品第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling當(dāng)?shù)V化均勻當(dāng)?shù)V化均勻時(shí),在一井時(shí),在一井壁取樣壁取樣12348一一) )、刻槽法、刻槽法1 1、定義、定義2 2、樣槽布置的原則、樣槽布置的原則3 3、采樣規(guī)格、采樣規(guī)格 sampling designsam

11、pling design4、刻槽采樣樣槽的布置、刻槽采樣樣槽的布置1)探槽一般布置在槽底)探槽一般布置在槽底2)垂直坑道中一般布置在井壁)垂直坑道中一般布置在井壁3)穿脈坑道一般在)穿脈坑道一般在 壁上取樣壁上取樣 當(dāng)?shù)V體緩傾斜時(shí),傾角當(dāng)?shù)V體緩傾斜時(shí),傾角60,樣槽沿水,樣槽沿水平方向布置平方向布置當(dāng)中等傾斜礦體(傾角當(dāng)中等傾斜礦體(傾角30、傾角、傾角60:水平樣槽:水平樣槽傾角傾角30 60:水平或垂直:水平或垂直傾角傾角6060水平樣槽水平樣槽1 2傾角傾角1/2樣長(zhǎng),單獨(dú)刻樣長(zhǎng),單獨(dú)刻??;??;30,則需要外檢或內(nèi)部檢查,若結(jié)果不變,需,則需要外檢或內(nèi)部檢查,若結(jié)果不變,需返工或仲裁返工

12、或仲裁檢查樣品數(shù)超差樣品數(shù)超差率100N據(jù)總體相對(duì)誤差處理?yè)?jù)總體相對(duì)誤差處理計(jì)算總體相對(duì)誤差計(jì)算總體相對(duì)誤差原分析值平均品位絕對(duì)誤差的平均值總體相對(duì)誤差100MM M值大于礦石品位的值大于礦石品位的 允許誤差,需復(fù)檢,然后允許誤差,需復(fù)檢,然后再?zèng)Q定是否返工或仲裁。再?zèng)Q定是否返工或仲裁。24第四節(jié)第四節(jié) 化學(xué)樣品的分析化學(xué)樣品的分析一、化學(xué)分析的種類一、化學(xué)分析的種類二、樣品分析誤差的檢查與處理二、樣品分析誤差的檢查與處理1、樣品分析產(chǎn)生誤差的原因、樣品分析產(chǎn)生誤差的原因2、樣品化驗(yàn)結(jié)果檢查的種類、樣品化驗(yàn)結(jié)果檢查的種類3、檢查結(jié)果的處理、檢查結(jié)果的處理第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣

13、Sampling1)偶然誤差的處理)偶然誤差的處理2)系統(tǒng)誤差的處理)系統(tǒng)誤差的處理簡(jiǎn)單處理簡(jiǎn)單處理N30% M允許誤差允許誤差 N允許誤差允許誤差N30% M30% M允許誤差允許誤差分析合格分析合格返工或仲裁返工或仲裁返工或仲裁返工或仲裁返工或仲裁返工或仲裁25第四節(jié)第四節(jié) 化學(xué)樣品的分析化學(xué)樣品的分析第六章第六章 固體礦產(chǎn)取樣固體礦產(chǎn)取樣 Sampling1)偶然誤差的處理)偶然誤差的處理2)系統(tǒng)誤差的處理)系統(tǒng)誤差的處理簡(jiǎn)單處理簡(jiǎn)單處理數(shù)理統(tǒng)計(jì)法數(shù)理統(tǒng)計(jì)法原理計(jì)算概率系數(shù)原理計(jì)算概率系數(shù)t,判斷有無(wú)系統(tǒng)誤差存在,判斷有無(wú)系統(tǒng)誤差存在,據(jù)據(jù)t的大小,確定是否返工或仲裁。的大小,確定是否返

14、工或仲裁。 步驟步驟計(jì)算平均值計(jì)算平均值位基本分析樣品的平均品位外檢分析樣品的平均品yixinyMynxMx一、化學(xué)分析的種類一、化學(xué)分析的種類二、樣品分析誤差的檢查與處理二、樣品分析誤差的檢查與處理1、樣品分析產(chǎn)生誤差的原因、樣品分析產(chǎn)生誤差的原因2、樣品化驗(yàn)結(jié)果檢查的種類、樣品化驗(yàn)結(jié)果檢查的種類3、檢查結(jié)果的處理、檢查結(jié)果的處理26 求均方差求均方差基本分析結(jié)果的均方差外檢分析結(jié)果的均方差用下列公式時(shí)當(dāng)基本分析結(jié)果的均方差外檢分析結(jié)果的均方差1-)(1-)(,5020n )()(2222yyiyxxixyyiyxxixnMxnMxnMxnMx求平均值品位的均方差求平均值品位的均方差品位的均方差基本分析結(jié)果樣品平均品位的均方差檢查分析結(jié)果樣品平均yyyxxxnmnm27求兩分析結(jié)果的求兩分析結(jié)果的 相關(guān)關(guān)系(相關(guān)關(guān)系(r)檢查分析與基本分析結(jié)果之間的相關(guān)關(guān)系檢查分析與基本分析結(jié)果之間的相關(guān)關(guān)系22)()()(yiiiyiiiMyMxMyMx 求系統(tǒng)誤差出現(xiàn)的概率系數(shù)求系統(tǒng)誤差出現(xiàn)的概率系數(shù)公式:公式:結(jié)論:當(dāng)結(jié)論:當(dāng) t2 有系統(tǒng)誤差有系統(tǒng)誤差 當(dāng)當(dāng) t2 不足于重視系統(tǒng)誤差不足于重視系統(tǒng)誤差品位校正品位校正 rmmmmMMtyxyxyx2(22概率系數(shù))fyCffMyMxf校正品位原分析偏高原分

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