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1、可靠性測(cè)試鬼谷子品質(zhì)聯(lián)盟樂(lè)天提供可靠性測(cè)試內(nèi)容可靠性測(cè)試應(yīng)該在可靠性設(shè)計(jì)之后,但目前我國(guó)的可靠性工作主要還是在測(cè)試階段,這里將測(cè)試放在前面(目前大部分公司都會(huì)忽略最初的可靠性設(shè)計(jì),比如我們公司,設(shè)計(jì)的時(shí)候,從來(lái)都沒(méi)有考慮過(guò)可靠性,開(kāi)發(fā)部的兄弟們不要拿磚頭仍我這是實(shí)話(huà),只有在測(cè)試出現(xiàn)失效后才開(kāi)始考慮設(shè)計(jì))。為了測(cè)得產(chǎn)品的可靠度(也就是為了測(cè)出產(chǎn)品的 MTBF),我們需要拿出一定的樣品,做較長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試,找出每個(gè)樣品的失效時(shí)間,根據(jù)第一節(jié)的公式計(jì)算出 MTBF,當(dāng)然樣品數(shù)量越多,測(cè)試結(jié)果就越準(zhǔn)確。但是,這樣的理想測(cè)試實(shí)際上是不可能的,因?yàn)閷?duì)這種測(cè)試而言,要等到最后一個(gè)樣品出現(xiàn)故障需要的測(cè)試時(shí)間

2、長(zhǎng)得無(wú)法想象,要所有樣品都出現(xiàn)故障需要的成本高得無(wú)法想象。為了測(cè)試可靠性,這里介紹:加速測(cè)試(也就增加應(yīng)力*),使缺陷迅速顯現(xiàn);經(jīng)過(guò)大量專(zhuān)家、長(zhǎng)時(shí)間的統(tǒng)計(jì),找到了一些增加應(yīng)力的方法,轉(zhuǎn)化成一些測(cè)試的項(xiàng)目。如果產(chǎn)品經(jīng)過(guò)這些項(xiàng)目的測(cè)試,依然沒(méi)有明顯的缺陷,就說(shuō)明產(chǎn)品的可靠性至少可以達(dá)到某一水平,經(jīng)過(guò)換算可以計(jì)算出 MTBF(因產(chǎn)品能通過(guò)這些測(cè)試,并無(wú)明顯缺陷出現(xiàn),說(shuō)明未達(dá)到產(chǎn)品的極限能力,所以此時(shí)對(duì)應(yīng)的 MTBF 是產(chǎn)品的最小值)。其它計(jì)算方法見(jiàn)下文。(*應(yīng)力:就是指外界各種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的破壞力,如產(chǎn)品在 85下工作受到的應(yīng)力比在 25下工作受到的應(yīng)力大;在高應(yīng)力下工作,產(chǎn)品失效的可能性就大大增加了

3、);一、環(huán)境測(cè)試產(chǎn)品在使用過(guò)程中,有不同的使用環(huán)境(有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等),會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力(有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等);為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作,國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目,這些測(cè)試項(xiàng)目包括:1). 高溫測(cè)試(高溫運(yùn)行、高溫貯存);2). 低溫測(cè)試(低溫運(yùn)行、低溫貯存);3). 高低溫交變測(cè)試(溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試);4). 高溫高濕測(cè)試(濕熱貯存、濕熱循環(huán));5). 機(jī)械振動(dòng)測(cè)試(隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試);6). 汽車(chē)運(yùn)輸測(cè)試(模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試);7). 機(jī)械沖擊測(cè)試;8). 開(kāi)關(guān)電

4、測(cè)試;9). 電源拉偏測(cè)試;10).冷啟動(dòng)測(cè)試;11).鹽霧測(cè)試;12).淋雨測(cè)試;第 1 頁(yè) 共 12 頁(yè)可靠性測(cè)試鬼谷子品質(zhì)聯(lián)盟樂(lè)天提供13).塵砂測(cè)試;上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下(部分試驗(yàn)可能沒(méi)有相關(guān)國(guó)標(biāo),或者是我還沒(méi)有找到):1、低溫試驗(yàn)按 GB/T 2423.189電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn);GB/T 2423.2287電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)方法進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍:-7010。2、高溫試驗(yàn)按 GB/T 2423.289電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn);GB/T 2423.2287電工電子產(chǎn)品

5、環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)方法進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。溫度范圍:102103、濕熱試驗(yàn)按 GB/T 2423.393電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 恒定濕熱試驗(yàn);GB/T2423.493電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法 交變濕熱試驗(yàn)進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。濕度范圍:30%RH100%RH4、霉菌試驗(yàn)按 GB/T 2423.1690電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 長(zhǎng)霉試驗(yàn)進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。5、鹽霧試驗(yàn)按 GB/T 2423.1793電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。6、低氣壓試驗(yàn)按 GB/T 2423.2192電工電子

6、產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 低氣壓試驗(yàn);GB/T2423.2592電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 低溫/低氣壓試驗(yàn);GB/T2423.2692 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法 高溫/低氣壓試驗(yàn);進(jìn)行低氣壓試驗(yàn),高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍:-70100 0第 2 頁(yè) 共 12 頁(yè)可靠性測(cè)試鬼谷子品質(zhì)聯(lián)盟樂(lè)天提供760mmHg20%95%RH。7、振動(dòng)試驗(yàn)按 GB/T 2423.1095電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 振動(dòng)試驗(yàn)進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。頻率范圍(機(jī)械振動(dòng)臺(tái)):560Hz(定頻振動(dòng) 580Hz),最大位移振幅 3.5mm (滿(mǎn)載)。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺(tái)):

7、53000Hz,最大位移 25mmP-P。8、沖擊試驗(yàn)按 GB/T 2423.595電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 沖擊試驗(yàn)進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍:(501500)m/s2。9、碰撞試驗(yàn)按 GB/T 2423.695電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 碰撞試驗(yàn)進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。10、跌落試驗(yàn)按 GB/T 2423.795電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 傾跌與翻到試驗(yàn);GB/T2423.895電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 自由跌落試驗(yàn)進(jìn)行跌落試驗(yàn)。說(shuō)明:上面 13 項(xiàng)比較全面地概括了產(chǎn)品在實(shí)現(xiàn)使用過(guò)程中碰到的外界環(huán)境;實(shí)際測(cè)試時(shí),因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較

8、遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大,各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn),適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來(lái)測(cè)試(此產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的國(guó)/行標(biāo)中要求的必測(cè)試項(xiàng)目,當(dāng)然是必須測(cè)試的);也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法,自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目,以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。測(cè)試條件:不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣;就拿高溫測(cè)試來(lái)說(shuō),有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試,有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫用 85做測(cè)試,有些產(chǎn)品的高溫是用 65做測(cè)試。但是,宗旨只有一個(gè),那就是至少滿(mǎn)足國(guó)/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性,找到這種產(chǎn)品的國(guó)/行標(biāo)是必需的,按照國(guó)/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法,從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試;同一種產(chǎn)品,在不同的階

9、段,測(cè)試條件也不一樣;一般而言,產(chǎn)品會(huì)經(jīng)過(guò)研發(fā)、小批量試產(chǎn)、批量生產(chǎn)三個(gè)不同的階段。在研發(fā)階段,測(cè)試條件最嚴(yán)(應(yīng)力最大)、測(cè)試延續(xù)的時(shí)候最短;小批量試產(chǎn)階段,測(cè)試應(yīng)力適中、測(cè)試時(shí)間適中;批量生產(chǎn)階段,測(cè)試應(yīng)力最小、測(cè)試時(shí)間較短;三個(gè)階段的主要差別見(jiàn)下表:加速環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)傳統(tǒng)的環(huán)境試驗(yàn)是基于真實(shí)環(huán)境模擬的試驗(yàn)方法,稱(chēng)為環(huán)境模擬試驗(yàn)。這種試驗(yàn)方法的特點(diǎn)是:模擬真實(shí)環(huán)境,加上設(shè)計(jì)裕度,確保試驗(yàn)過(guò)關(guān)。其缺陷在于試驗(yàn)的效率不高,并且試驗(yàn)的資源耗費(fèi)巨大。加速環(huán)境試驗(yàn) AET(Accelerated EnvironmentalTesting)是一項(xiàng)新興的可靠性第 3 頁(yè) 共 12 頁(yè)可靠性測(cè)試鬼谷子品質(zhì)聯(lián)盟

10、樂(lè)天提供試驗(yàn)技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗(yàn)的技術(shù)思路,將激發(fā)的試驗(yàn)機(jī)制引入到可靠性試驗(yàn),可以大大縮短試驗(yàn)時(shí)間,提高試驗(yàn)效率,降低試驗(yàn)耗損。加速環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域的研究與應(yīng)用推廣對(duì)可靠性工程的發(fā)展具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。加速環(huán)境試驗(yàn)激發(fā)試驗(yàn)(Stimulation)通過(guò)施加激發(fā)應(yīng)力、環(huán)境快速檢測(cè)來(lái)清除產(chǎn)品的潛在缺陷。試驗(yàn)所施加的應(yīng)力并不模擬真實(shí)環(huán)境,而以提高激發(fā)效率為目標(biāo)。?加速環(huán)境試驗(yàn)是一種激發(fā)試驗(yàn),它通過(guò)強(qiáng)化的應(yīng)力環(huán)境來(lái)進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。加速環(huán)境試驗(yàn)的加速水平通常用加速因子來(lái)表示。加速因子定義為設(shè)備在自然服役環(huán)境下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比。施加的應(yīng)力可以是溫度、振動(dòng)、壓力和濕度(即所謂“四綜

11、合”)及其他應(yīng)力,應(yīng)力的組合亦是有些場(chǎng)合更為有效的激發(fā)方式。高溫變率的溫度循環(huán)和寬帶隨機(jī)振動(dòng)是公認(rèn)最有效的激發(fā)應(yīng)力形式。加速環(huán)境試驗(yàn)有 2 種基本類(lèi)型:加速壽命試驗(yàn)(AcceleratedLife Testing)、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(Reliability Enhancement Testing)??煽啃詮?qiáng)化試驗(yàn)(RET)用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計(jì)有關(guān)的早期失效故障,但同時(shí),也用于確定產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機(jī)故障的強(qiáng)度。加速壽命試驗(yàn)的目的是找出產(chǎn)品是如何發(fā)生、何時(shí)發(fā)生、為何發(fā)生磨耗失效的。下面分別對(duì) 2 種基本類(lèi)型進(jìn)行簡(jiǎn)單闡述。1、 加速壽命試驗(yàn)(ALT)加速壽命試驗(yàn)只對(duì)元器件、材料和工藝方法進(jìn)行,用于

12、確定元器件、材料及生產(chǎn)工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷,而是識(shí)別及量化在使用壽命末期導(dǎo)致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機(jī)理。有時(shí)產(chǎn)品的壽命很長(zhǎng),為了給出產(chǎn)品的壽命期,加速壽命試驗(yàn)必須進(jìn)行足夠長(zhǎng)的時(shí)間。?加速壽命試驗(yàn)是基于如下假設(shè):即受試品在短時(shí)間、高應(yīng)力作用下表現(xiàn)出的特性與產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來(lái)的特性是一致的。為了縮短試驗(yàn)時(shí)間,采用加速應(yīng)力,即所謂高加速壽命試驗(yàn)(HALT)。?加速壽命試驗(yàn)提供了產(chǎn)品預(yù)期磨損機(jī)理的有價(jià)值數(shù)據(jù),這在當(dāng)今的市場(chǎng)上是很關(guān)鍵的,因?yàn)樵絹?lái)越多的消費(fèi)者對(duì)其購(gòu)買(mǎi)的產(chǎn)品提出了使用壽命要求。估計(jì)使用壽命僅僅是加速壽命試驗(yàn)的用處之一。它能使設(shè)計(jì)者和生產(chǎn)者對(duì)產(chǎn)品有更全面的了解,識(shí)別

13、出關(guān)鍵的元器件、材料和工藝,并根據(jù)需要進(jìn)行改進(jìn)及控制。另外試驗(yàn)得出的數(shù)據(jù)使生產(chǎn)廠(chǎng)商和消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品有充分的信心。加速壽命試驗(yàn)的對(duì)象是抽樣產(chǎn)品。2、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)有許多名稱(chēng)和形式,如步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、應(yīng)力壽命試驗(yàn)(STRIEF)、高加速壽命試驗(yàn)(HALT)等。RET 的目的是通過(guò)系統(tǒng)地施加逐漸增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力,來(lái)激發(fā)故障和暴露設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié),從而評(píng)價(jià)產(chǎn)品設(shè)4 頁(yè) 共 12 頁(yè)可靠性測(cè)試鬼谷子品質(zhì)聯(lián)盟樂(lè)天提供計(jì)的可靠性。因此,RET 應(yīng)該在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和發(fā)展周期中最初的階段實(shí)施,以便于修改設(shè)計(jì)。國(guó)外可靠性的有關(guān)研究人員在 80 年代初就注意到由于設(shè)計(jì)潛在缺陷的殘留量較大,給

14、可靠性的提高提供了可觀的空間,另外價(jià)格和研制周期問(wèn)題也是當(dāng)今市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的焦點(diǎn)。研究證明,RET 不失為解決這個(gè)問(wèn)題的最好方法之一。它獲得的可靠性比傳統(tǒng)的方法高得多,更為重要的是,它在短時(shí)間內(nèi)就可獲得早期可靠性,無(wú)須像傳統(tǒng)方法那樣需要長(zhǎng)時(shí)間的可靠性增長(zhǎng)(TAAF),從而降低了成本。?RET 的目的是要引起失效,因此它是破壞性試驗(yàn),試樣數(shù)量盡可能少。進(jìn)行 RET 的理想時(shí)間是在設(shè)計(jì)周期的末期,此時(shí)設(shè)計(jì)、材料、元器件和工藝等都準(zhǔn)備就緒,而生產(chǎn)尚未開(kāi)始。通常 RET 的做法是施加預(yù)定的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力(單獨(dú)加、順序加或同時(shí)加),從小量級(jí)開(kāi)始,然后逐步增加直到出現(xiàn)以下 3 種情況:全部試樣失效;應(yīng)力值大

15、大超出服役期望值;出現(xiàn)非相關(guān)失效。(非相關(guān)失效是指服役中不可能出現(xiàn)的失效模式)可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)也是針對(duì)少量抽樣產(chǎn)品進(jìn)行的。3、其它類(lèi)型加速環(huán)境試驗(yàn)可靠性試驗(yàn)還包括可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn),即可靠性鑒定試驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)?;诩铀侪h(huán)境的可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)(即加速可靠性鑒定試驗(yàn)和加速可靠性驗(yàn)收試驗(yàn))是加速環(huán)境試驗(yàn)亟待解決的一個(gè)問(wèn)題。該問(wèn)題的核心是通過(guò)高量級(jí)的加速環(huán)境試驗(yàn)數(shù)據(jù)去評(píng)估試樣在低量級(jí)的服役環(huán)境中的可靠性水平。在產(chǎn)品的全壽命周期管理中,它們的功能在一定條件下可以由前述 2 種加速環(huán)境試驗(yàn)來(lái)實(shí)現(xiàn)。4、加速環(huán)境試驗(yàn)在產(chǎn)品全壽命周期管理中的應(yīng)用在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研制、生產(chǎn)和使用直至壽命末期整個(gè)壽命周期內(nèi),其可靠性的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、評(píng)估都離不開(kāi)環(huán)境試驗(yàn)手段,而加速環(huán)境試驗(yàn)在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研制和生產(chǎn)中是實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性增長(zhǎng)和確定、評(píng)估產(chǎn)品可靠性水平的重要手段。根據(jù)市場(chǎng)需求和用戶(hù)的要求確定產(chǎn)品之后,就可初步設(shè)計(jì)好產(chǎn)品雛形。此時(shí)一般需要對(duì)元器件和原材料進(jìn)行選擇,選擇代表試樣進(jìn)行加速壽命試驗(yàn),從而確定所選擇的元器件和原材料。產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成并制造試樣后就可以進(jìn)行可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET),以實(shí)現(xiàn)可靠性增長(zhǎng)。這將是一個(gè)逐步清除設(shè)計(jì)上的薄弱環(huán)節(jié)的過(guò)程,同時(shí),可以對(duì)材料

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