《晶體光學(xué)》課程教學(xué)大綱

1、PAGE PAGE - 6 -本科生課程大綱課程名稱晶體光學(xué)Crystal Optics課程代碼074102101275課程屬性學(xué)科基礎(chǔ)課時/學(xué)分48/2課程性質(zhì)必修實踐學(xué)時32責(zé)任教師 課外學(xué)時課程屬性：公共基礎(chǔ)/通識教育/學(xué)科基礎(chǔ)/專業(yè)知識/工作技能，課程性質(zhì)：必修、選修一、 課程介紹1.課程描述： 晶體光學(xué)是地質(zhì)學(xué)專業(yè)本科生必修的專業(yè)基礎(chǔ)課，是在系統(tǒng)學(xué)習(xí)完結(jié)晶學(xué)與礦物學(xué)課程之后、巖石學(xué)學(xué)習(xí)之前完成的學(xué)科基礎(chǔ)必修課程。通過本課程的學(xué)習(xí)，使學(xué)生學(xué)會使用偏光顯微鏡鑒定礦物組成和含量，觀察礦物與礦物之間、礦物與其它部分之間、礦物集合體與礦物集合體之間的排列組合方式，確定礦物的形成方式和形成的先后

2、順序，為研究巖石的成因機(jī)理提供重要依據(jù)。通過本課程的學(xué)習(xí),使學(xué)生明確光率體和光性方位的概念，學(xué)會偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和使用，在單偏光鏡下學(xué)會晶體形態(tài)、解理、顏色、多色性、吸收性、邊緣、糙面、突起、閃突起、貝克線的觀察和解理夾角測量；在正交偏光鏡下學(xué)會最高干涉色測定、雙折射率測定、光率體橢圓半徑名稱測定、消光角測定、延性符號測定和雙晶的觀察測定；在錐光系統(tǒng)下學(xué)會晶體軸性、光性和光軸角測定；學(xué)會未知礦物的鑒定方法，對常見礦物有初步的鑒定能力。2.設(shè)計思路： 本課程旨在培養(yǎng)學(xué)生熟練使用偏光顯微鏡鑒定礦物的光學(xué)性質(zhì)以及對未知礦物進(jìn)行系統(tǒng)鑒定。本課程由兩大部分組成：第一部分為晶體光學(xué)（包括晶體光學(xué)基礎(chǔ)、偏光

3、顯微鏡的使用、單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)、正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)、聚斂偏光（錐光）鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)、透明礦物的系統(tǒng)鑒定）；第二部分為光性礦物學(xué)（包括斜長石的系統(tǒng)鑒定、普通角閃石的系統(tǒng)鑒定、橄欖石的系統(tǒng)鑒定、輝石的系統(tǒng)鑒定、黑云母和白云母的系統(tǒng)鑒定、似長石（霞石和白榴石）的系統(tǒng)鑒定、3. 課程與其他課程的關(guān)系：先修課程：結(jié)晶學(xué)與礦物學(xué)。本課程是地質(zhì)學(xué)專業(yè)的核心基礎(chǔ)課程，是學(xué)習(xí)巖石學(xué)的基礎(chǔ)，與其它專業(yè)課程具有密切的關(guān)系。二、課程目標(biāo)通過本課程的學(xué)習(xí)，使學(xué)生學(xué)會使用偏光顯微鏡鑒定礦物組成和含量，觀察礦物與礦物之間、礦物與其它部分之間、礦物集合體與礦物集合體之間的排列組合方式，確定礦物的形成方式和

4、形成的先后順序，為研究巖石的成因機(jī)理提供重要依據(jù)。通過本課程的學(xué)習(xí),使學(xué)生明確光率體和光性方位的概念，學(xué)會偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)和使用，在單偏光鏡下學(xué)會晶體形態(tài)、解理、顏色、多色性、吸收性、邊緣、糙面、突起、閃突起、貝克線的觀察和解理夾角測量；在正交偏光鏡下學(xué)會最高干涉色測定、雙折射率測定、光率體橢圓半徑名稱測定、消光角測定、延性符號測定和雙晶的觀察測定；在錐光系統(tǒng)下學(xué)會晶體軸性、光性和光軸角測定；學(xué)會未知礦物的鑒定方法，熟練掌握常見礦物的鑒定方法和鑒定特征。三、學(xué)習(xí)要求 要完成所有的課程任務(wù)，學(xué)生必須： （1）按時上課,上課認(rèn)真聽講，積極參與課堂討論、隨堂練習(xí)和測試。課堂表現(xiàn)和出勤率是成績考核的組

5、成部分。 （2）按時完成實驗報告。實驗報告要求學(xué)生以書寫形式提交，實驗課結(jié)束后當(dāng)堂提交實驗報告，延期提交實驗報告需要提前得到任課教師的許可。 （3）完成教師布置的一定量的閱讀文獻(xiàn)和視頻資料。這些作業(yè)能加深對課程內(nèi)容的理解、并能引導(dǎo)對某些問題和理論的更深入探討。四、參考教材與主要參考書1、選用教材： 晶體光學(xué)，李德惠主編，地質(zhì)出版社，2002年第二版2、主要參考書：1晶體光學(xué)，汪相主編，南京大學(xué)出版社，2003年第1版2晶體光學(xué)，倪志耀主編，地質(zhì)出版社，2011年第3版五、進(jìn)度安排序號專題計劃課時主要內(nèi)容概述實驗實踐內(nèi)容1第一章、晶體光學(xué)基礎(chǔ)4光的波動性、光的折射及全反射、自然光及偏振光光波在均

6、質(zhì)體和非均質(zhì)體、光率體和光性方位。2第二章、偏光顯微鏡2偏光顯微鏡的構(gòu)造、偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正、巖石薄片磨制法簡介。偏光顯微鏡使用，學(xué)會調(diào)節(jié)下偏光振動方向，物臺中心校正，視域直徑測定，了解巖石薄片制作。3第三章、單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)6單偏光鏡的裝置及光學(xué)特點、礦物的形態(tài)及解理、薄片中礦物的顏色、多色性和吸收性、薄片中礦物的邊緣、貝克線、糙面及突起。 單偏光鏡下的鑒定內(nèi)容、技術(shù)路線和操作方法；理解礦物顏色的產(chǎn)生機(jī)理；了解閃突起的原因。4第四章、正交偏光鏡間的晶體光學(xué)性質(zhì)8正交偏光鏡的裝置及光學(xué)特點、正交偏光鏡間礦片的消光現(xiàn)象及消光位、正交偏光鏡間礦片的干涉現(xiàn)象、干涉色及干涉色色譜表、補色法

7、則及補色器、正交偏光鏡間主要光學(xué)性質(zhì)的觀察與測定方法。正交偏光鏡下礦物鑒定的內(nèi)容和方法技能，如最高干涉色、最大雙折射率值測定、光率體半徑名稱測定、消光削測定、延性符號測定及雙晶觀察等。5第五章、錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)8錐光鏡的裝置及光學(xué)特點、一軸晶干涉圖、二軸晶干涉圖、錐光鏡下色散現(xiàn)象的觀察。聚斂偏光鏡的裝置和特點，不同軸性、不同切面干涉圖的成因，錐光鏡下的鑒定內(nèi)容和方法；理解拜佛定律。6第六章、透明礦物的系統(tǒng)鑒定4透明礦物系統(tǒng)鑒定的內(nèi)容、常用的定向切面及其特征、透明礦物的系統(tǒng)鑒定程序、未知礦物鑒定、斜長石系統(tǒng)鑒定。使用偏光顯微鏡從單偏光到錐光鏡下測定礦物程序，學(xué)會利用工具書鑒定未知礦物。7第

8、七章、常見造巖礦物系統(tǒng)鑒定16斜長石的系統(tǒng)鑒定（2學(xué)時）、角閃石族的系統(tǒng)鑒定（2學(xué)時）、橄欖石族的系統(tǒng)鑒定（2學(xué)時）、輝石族的系統(tǒng)鑒定（2學(xué)時）、黑云母和白云母的系統(tǒng)鑒定（2學(xué)時）、似長石（霞石和白榴石）（2學(xué)時）的系統(tǒng)鑒定、碳酸巖礦物（方解石、菱鎂礦、白云石、菱鐵礦、菱錳礦）（2學(xué)時）、綠簾石、鋯石、榍石、磷灰石、尖晶石（2學(xué)時）。掌握常見透明礦物的晶體光學(xué)特征，熟練鑒定常見造巖礦物。合計48六、成績評定（一）考核方式 A ：A.閉卷考試 B.開卷考試 C.論文 D.考查 E.其他（二）成績綜合評分體系： 成績綜合評分體系比例%1.實驗報告302.期末考試70總計100附：實驗報告評分標(biāo)準(zhǔn)實驗報告評分標(biāo)準(zhǔn)得分1.嚴(yán)格按照實驗報告要求并當(dāng)堂完成，概念清晰，步驟正確合理，圖件清楚。90-100分2.基本按照實驗報告要求并及時完成，基本概念基本清晰，解決問題的方案基本正確、基本合理。70-80分3.不能按照實驗報告要求，未及時完成，基本概念不清晰，解決問題的方案不清晰。40-60分4.不能按照實驗報告要求，未及時完成，基本概念不清晰，不能制定正確和合理解決問題