吸收比測(cè)量試驗(yàn)

1、- 絕緣電阻、吸取比的測(cè)量- 試驗(yàn)一一、試驗(yàn)?zāi)康?1.明白兆歐表的原理,把握兆歐表的使用方法；2學(xué)習(xí)絕緣電阻、吸取比的測(cè)量方法,把握分析絕緣狀態(tài)、判定故障位置的方法；3.分析設(shè)備絕緣狀況；二、試驗(yàn)容 1.用兆歐表?yè)u表測(cè)量試品三相電纜的絕緣電阻和吸取比；2.測(cè)量高壓直流下的試品泄漏電流；三、試驗(yàn)原理 測(cè)量絕緣電阻及吸取比就是利用吸取現(xiàn)象來(lái)檢查絕緣是否整體受潮,有無(wú)貫穿性的集中性缺陷,規(guī)程上規(guī)定加壓后 比；即 KR60 / R15 /當(dāng) K1.3 時(shí),認(rèn)為絕緣枯燥,而以60s和 15s時(shí)測(cè)得的絕緣電阻之比為吸取60s時(shí)的電阻為該設(shè)備的絕緣電阻；a原理圖 b 等值電路- -.可修編 - . - -

2、圖 11 雙層介質(zhì)的吸取現(xiàn)象下面以雙層介質(zhì)為例說(shuō)明吸取現(xiàn)象,如圖1-1；在雙層介質(zhì)上施加直流電壓,當(dāng) K 剛合上瞬時(shí),電壓突變,這時(shí)層間電壓安排取決于電容即U1t=0+=C2U2C1而在穩(wěn)態(tài) t時(shí),層間電壓取決于電阻,即U1t=r 1U1t= 0 +=U1t,在介質(zhì)分界面U2r2假設(shè)被測(cè)介質(zhì)勻稱(chēng), C1C2,r1r2,那么U2U2上不會(huì)顯現(xiàn)電荷重新安排的過(guò)程；假設(shè)被測(cè)介質(zhì)勻稱(chēng) C1 C2,r1 r2,那么U1t= 0+U1t；這說(shuō)明 K 合閘后,U2U2兩層介質(zhì)上的電壓要重新安排；U1 U 2,即 U2逐步下假設(shè) C1,r1r 2,那么合閘瞬時(shí) U2U 1；穩(wěn)態(tài)時(shí),降, U1逐步增大； C2已

3、充上的一局部電荷要通過(guò) r2放掉,而 C1那么要經(jīng) R 和 r2從電源再吸取一局部電荷； 這一過(guò)程稱(chēng)為吸取過(guò)程； 因此,直流電壓加在介質(zhì)上,回路中電流隨時(shí)間的變化,如圖 1-2 所示；圖 1-2 吸取曲線- -.可修編 - . - - 初始瞬時(shí)由于各種極化過(guò)程的存在,介質(zhì)中流過(guò)的電流很大隨時(shí)間增加；電流逐步減小, 最終趨于一穩(wěn)固值I g,這個(gè)電流的穩(wěn)固值就是由介質(zhì)電導(dǎo)打算的泄漏電流；與之相應(yīng)的電阻就是介質(zhì)的絕緣電阻,圖 12 中陰影局部面積就表示了吸取過(guò)程中的吸取電荷,相應(yīng)的電流稱(chēng)為吸取電流；它隨時(shí)間增長(zhǎng)而衰減,其衰減速度取決于介質(zhì)的電容和電阻時(shí)間常數(shù)為=C 1+C2r 1r2；對(duì)于燥絕緣,r

4、 1+r2K 大；而絕緣受r 很大,故很大,吸取過(guò)程明顯,吸取電流衰減緩慢,吸取比潮后,電導(dǎo)增大, r 減小, Ig 也增大,吸取過(guò)程不明顯K1；因此,可依據(jù)絕緣電阻和吸取比 K 來(lái)判定絕緣是否受潮；四、試驗(yàn)裝置及接線圖1.用兆歐表測(cè)量試品絕緣電阻和吸取比的接線圖圖 1 3 兆歐表測(cè)量絕緣電阻圖中：R1、R2：串聯(lián)電阻；E：搖表接地電極；G ：搖表屏蔽電極；L：搖表高壓電極；A、B、C：三相電纜的三個(gè)單相端頭；2.用數(shù)字式兆歐表測(cè)量電纜護(hù)套的絕緣電阻- -.可修編 - . 接E- G高壓輸- 屏地蔽端端L出端電兆歐表纜 試 品懸空 地 圖11 兆歐表測(cè)量絕緣電阻接線圖 圖 14 數(shù)字式兆歐表測(cè)

5、量絕緣電阻接線圖 四、試驗(yàn)容 用兆歐表測(cè)量試品絕緣電阻和吸取比的接線圖 1.斷開(kāi)被試設(shè)備的電源及一切外聯(lián)線將被試品對(duì)地充分放電,容量較大的 放電不得少于 2min；2.用清潔潔凈的軟布擦去被試品外表污垢：3.檢驗(yàn)搖表,不接試品,搖動(dòng)手柄指針指向“ ；短接 L,E 兩端慢慢搖 動(dòng)手柄指針應(yīng)指零；4.按圖 13 接線,經(jīng)檢查無(wú)誤之后,以每分鐘120轉(zhuǎn)的速度搖動(dòng)搖表手柄；5.讀取 15 秒及 60 秒時(shí)的讀數(shù),即為 R15 及 R606.對(duì)電容較大的試品,在試驗(yàn)快完畢時(shí)候,應(yīng)設(shè)法在搖表仍處于額定轉(zhuǎn)速時(shí)斷開(kāi) L 或者 E 引線,以免搖表停頓轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),試品向搖表放電而沖擊指針,造成搖表指針的損壞；7.表停

6、轉(zhuǎn)后,對(duì)試品進(jìn)展放電,然后分別將 步驟 2 和 3；B 相和 C 相作為被試對(duì)象,重復(fù)8.測(cè)量時(shí)應(yīng)記錄當(dāng)時(shí)試品溫度氣象情形和日期；用數(shù)字式兆歐表測(cè)量電纜護(hù)套的絕緣電阻- -.可修編 - . - - 1.機(jī)械零位校準(zhǔn)： 檔位開(kāi)關(guān)撥至 OFF 位,調(diào)劑機(jī)械零位調(diào)劑鈕使外表指針標(biāo) 準(zhǔn)到標(biāo)度尺的“ 分度線上；2.連接測(cè)試線：將紅色測(cè)試線的紅色插頭插到兆歐表的高壓輸出端,黑色插頭插入屏蔽端, 將另一黑色插頭插入儀器接地端插座；將測(cè)試線的另一端接至被測(cè)試品的測(cè)試端, 在進(jìn)展高阻測(cè)量時(shí), 為排除外表泄漏電流的影響,仍應(yīng)使屏蔽端接至被測(cè)試品測(cè)試端與地之間絕緣外表地屏蔽層屏蔽環(huán)上；3.測(cè)量 a.按測(cè)試要求的電壓

7、將檔位開(kāi)關(guān)置于相應(yīng)電壓位置,此時(shí)表盤(pán)電源指示燈 亮,此時(shí) LCD 數(shù)字顯示使用場(chǎng)合的環(huán)境溫度；b.接通電源,按下高壓開(kāi)關(guān)按鈕五、試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理1.列出所試電纜的型號(hào)、電壓等級(jí)、相應(yīng)的絕緣電阻的測(cè)量結(jié)果；2.分析測(cè)量結(jié)果的正誤、每個(gè)數(shù)據(jù)測(cè)量五組,求其誤差的平方均值；3.依據(jù)絕緣電阻值求取試品的吸取比,判定電纜是否受潮；吸取比是指設(shè)備絕緣 60 秒時(shí)的絕緣電阻與15秒時(shí)的絕緣電阻的比值； 對(duì)于未受潮的電氣設(shè)備吸收比應(yīng)在 1.32 圍,電氣設(shè)備受潮時(shí),此比值近與 1；對(duì)于電容量不大,絕緣正常的試品,因吸取比不顯著,故無(wú)有用價(jià)值；六、試驗(yàn)結(jié)果分析1.絕緣電阻不同構(gòu)造、不同容量、不同電壓等級(jí)的試品, 其絕

8、緣電阻有很大差異； 因此,試驗(yàn)規(guī)程中一般沒(méi)有也不應(yīng)規(guī)定統(tǒng)一的絕緣電阻合格值；絕緣電阻的判定是依據(jù)工廠、安裝、交接、大修及歷次試驗(yàn)的歷史數(shù)據(jù)進(jìn)展相互比擬依據(jù)同期同型產(chǎn) 品,同一產(chǎn)品不同相的數(shù)據(jù)進(jìn)展相互比擬；通常認(rèn)為當(dāng)絕緣電阻降至初始值的 下降的緣由有：1全部或局部絕緣有貫穿性受潮；60時(shí)應(yīng)查明緣由；造成絕緣電阻顯著- -.可修編 - . - - 2全部或局部外表有貫穿性臟污；3絕緣中存在因局部放電造成的貫穿性燒傷導(dǎo)電通道；2.吸取比吸取比是同一設(shè)備兩個(gè)電阻的比值故排除了絕緣構(gòu)造幾何尺寸的影響；規(guī)程規(guī)定了在 100C300C ,吸取比不小于 1.3；七、摸索題 1.加在被試品上的電壓是什么極性 .

9、為什么要采納這種極性的電壓 . 2.測(cè)量絕緣電阻時(shí)為什么同時(shí)要記錄溫度 . 3.為什么幾何尺寸不同時(shí)絕緣電阻也不同.吸取比與幾何尺寸有關(guān)嗎 . 試驗(yàn)二 泄漏電流及直流耐壓試驗(yàn)一、試驗(yàn)?zāi)康?把握獲得直流高壓的方法；2學(xué)習(xí)測(cè)量泄漏電流的方法, 并依據(jù)泄漏電流的變化狀況來(lái)分析絕緣狀況；二、試驗(yàn)裝置及接線測(cè)量泄漏電流所需的直流高壓是利用溝通電壓經(jīng)整流器整流而獲得的；用得較多、最簡(jiǎn)潔的是半波整流電路如圖6；圖中 C 為穩(wěn)壓電容,可減小輸出電壓的- -.可修編 - . - - 脈動(dòng),一般取 C 為 0.1PF即可,對(duì)大容量試品如電纜、電力電容器等其本身 電容量就很大可不用電容器；R1 為愛(ài)護(hù)電阻用以限制當(dāng)

10、被試設(shè)備擊穿放電時(shí)在回路中造成的大電流,其阻值按硅堆整流器的短時(shí)最大答應(yīng)電流來(lái)挑選 R U/ImM 式中,u 為試驗(yàn)時(shí)所加直流高壓, kV；Im 為硅堆的短時(shí)最大答應(yīng)電流,mA；為保證電阻 R 有肯定熱容量,且電阻外表不發(fā)生閃絡(luò),宜采納水阻,外表長(zhǎng)度 按 lkv/cm 設(shè)計(jì)；當(dāng)硅堆串聯(lián)使用時(shí) 為使硅堆電壓分布勻稱(chēng), 需并聯(lián)均壓電阻 其阻值一般 取硅堆反向電阻值的 1/3 1/4 ；所產(chǎn)生的直流高壓可用靜電電壓表直接測(cè)量或通過(guò)高阻串聯(lián)微安表進(jìn)展測(cè) 量如圖 6；高阻值電阻 R2 的挑選由被測(cè)電壓的大小而定,一般取流過(guò) R2 的電 流為數(shù)十微安到 1mA并折算成 kV 數(shù)；- -.可修編 - . -

11、 - 利用微安表測(cè)量泄漏電流,其接線常有圖7a、b兩種；圖 7a中微安表在低壓端讀數(shù)比擬平安,操作便利；但試品需對(duì)地絕緣在現(xiàn)場(chǎng)中實(shí)現(xiàn)困難；所 以工程上常用圖 7b所示接線,微安表在高壓端為防止高壓局部產(chǎn)生電暈和外 表泄漏電流引起誤差 將微安表放入屏蔽罩且采納屏蔽的高壓引線,這樣測(cè)量準(zhǔn)確,但操作不便利；為防止在試驗(yàn)過(guò)程電流通過(guò)微安表微安表需進(jìn)展愛(ài)護(hù), 一般的愛(ài)護(hù)線路如圖 8；圖中 C 為濾波電容 用來(lái)濾掉測(cè)量回路中的溝通重量并使放電管 F 能穩(wěn)固放電,一般取 0.55uF300V；放電管 F 是保證回路中顯現(xiàn)微安表不答應(yīng)的電流時(shí)能快速放電將微安表短接；放電管放電電壓約50150V,利用在微安表支

12、路中串一適當(dāng)增壓電阻 R ,其阻值為 R UF/I A 106 ；其中 UF 為放電管實(shí)際放電電壓 V；I A 為多量程微安表所用擋的電流滿刻毒值 A；三、試驗(yàn)原理泄漏電流測(cè)量原理與絕緣電阻的測(cè)量原理完全一樣；兆歐表由于其容量小故絕緣電阻的測(cè)量受其負(fù)載特性的影響,絕緣劣化時(shí)影響尤為嚴(yán)峻； 用直流高壓裝置來(lái)測(cè)量絕緣的泄漏電流時(shí),與兆歐表相比有以下優(yōu)點(diǎn)：1試驗(yàn)電壓高,且可任意調(diào)劑試驗(yàn)電壓值, 對(duì)肯定電壓等級(jí)的被試品加以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓,可使絕緣奉身的弱點(diǎn)更易顯示出來(lái)； 同時(shí)在升壓過(guò)程中可隨時(shí)監(jiān)視微安表的指示,以明白絕緣狀況： 如絕緣良好 那么泄漏電流與電壓的關(guān)系應(yīng)是成正比例增大：如絕緣有缺陷或受潮時(shí)

13、, 泄漏電流的增長(zhǎng)比電壓增長(zhǎng)快且電壓較高時(shí) 泄漏電流急劇增加,仍會(huì)有一些不正常現(xiàn)象；2微安表的測(cè)量精度比兆歐表高：3測(cè)量泄漏電流可與直流耐壓合并進(jìn)展；直流耐壓試驗(yàn)與泄漏電流測(cè)量,方法一樣, 但試驗(yàn)的作用有所不同； 前者校- -.可修編 - . - - 核耐電強(qiáng)度,其試驗(yàn)電壓較高：后者著重檢查絕緣狀況,其試驗(yàn)電壓較低；二者 均能反映設(shè)備受潮、 劣化和局部缺陷等問(wèn)題； 而直流耐壓因電壓高對(duì)于發(fā)覺(jué)局部 缺陷更有效；四、試驗(yàn)方法 1依據(jù)現(xiàn)有條件挑選相宜的試驗(yàn)設(shè)備和接線圖；2按接線圖接線；通電前；應(yīng)查看接線和全部表計(jì)數(shù)值是否正確,調(diào)壓器 位置是否處在零位；3試驗(yàn)中電壓逐步上升,并讀取相應(yīng)的泄漏電流值；4

14、試驗(yàn)中如有擊穿、閃絡(luò)、微安表指針大幅度搖擺或電流突變等反?，F(xiàn)象 時(shí),應(yīng)立刻降壓、切斷電源,查明緣由經(jīng)處理后再做；5.試驗(yàn)完后,降壓,切斷調(diào)壓器電源,最終切斷總電源；6每次試驗(yàn)完畢須將被試品經(jīng)電阻對(duì)地充分放電； 依據(jù)放電火花的大小 也 可大致明白被試品絕緣狀況； 放電時(shí)應(yīng)使用絕緣棒, 放電完畢應(yīng)在被試品上掛上 接地棒方可拆線或更換接線；7再試驗(yàn)時(shí),須檢查接地線是否撤除；五、試驗(yàn)結(jié)果分析 與絕緣電阻一樣 不同試品的泄漏電流不同； 為正確判定絕緣狀況, 也應(yīng)將所測(cè)得的泄漏電流值進(jìn)展縱橫比擬；同樣,溫度對(duì)其影響也較大, 應(yīng)盡量在接近溫度下測(cè)量,不同溫度下的泄漏電流應(yīng)換算為同一溫度時(shí)的值再作比擬；測(cè)試泄

15、漏電流時(shí), 由于所加電壓較高, 如到達(dá)試驗(yàn)電壓時(shí)仍可以兼作直流耐壓；規(guī)程中給出了不同試驗(yàn)電壓下的泄漏電流參考值；直流耐壓可以發(fā)覺(jué)一些未貫穿的集中性缺陷,甚至可能發(fā)覺(jué)試品將擊穿,泄漏電流大大增加；- -.可修編 - . - - 六、摸索題1.泄漏電流及直流耐壓試驗(yàn)中試品為變壓器及電纜時(shí),接線圖如何 . 2.為提高測(cè)量精確度可采納哪些方法 . 試驗(yàn)三 介質(zhì)損耗正切角 tan 的測(cè)量一、試驗(yàn)?zāi)康?.明白西林電橋的工作原理及構(gòu)造,學(xué)習(xí)操作測(cè)試方法；2.學(xué)習(xí)絕緣介損角正切的測(cè)量方法；3.把握用所得測(cè)量結(jié)果判定被試品絕緣狀況的方法；二、試驗(yàn)原理工程介質(zhì)都不是抱負(fù)的電介質(zhì),都是有損耗的 在溝通電壓作用下 絕

16、緣物中產(chǎn)生的損耗稱(chēng)為介質(zhì)損耗； 把絕緣的功率因數(shù)角的余角稱(chēng)為介質(zhì)缺失角用 表示有損介質(zhì)可用串聯(lián)或并聯(lián)等值電路來(lái)分析如圖9；對(duì)并聯(lián)等值電路有：tanURPU2U2CtanRCU對(duì)串聯(lián)等值電路有：tanIIRxxCxRxPI2RU2CxtanC1tan2可見(jiàn)介質(zhì)損耗 P 與外施電壓 U,試品幾何尺寸均有關(guān)系, 而 tan 卻與試品尺- -.可修編 - . - - 寸無(wú)關(guān),僅與試品的絕緣性能有關(guān)； 因此可用 tan 值表征介質(zhì)在溝通下的絕緣性能：般介質(zhì)的 tan 很小,故1tan1；因此,無(wú)論是串聯(lián)仍是并聯(lián)等值電路,其運(yùn)算表達(dá)式是一樣的；三、試驗(yàn)裝置及接線儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回容和一被試回路 Cx

17、,如圖 31 所示；標(biāo)準(zhǔn)回路由置高穩(wěn)穩(wěn)固度標(biāo)準(zhǔn)電容與測(cè)量線路組成,被試回路由試品和測(cè)量線路組成；測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D 轉(zhuǎn)換器組成；通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差 ,再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采樣方法 ,通過(guò)矢量運(yùn)算便可以得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值；變頻電源及升壓變內(nèi)部標(biāo)試品壓器準(zhǔn)電容CX電流電流檢測(cè)檢測(cè)高壓隔離數(shù)RS232 RS232 字傳輸通道掌握面板測(cè)量電路圖 31 精細(xì)介損測(cè)量?jī)x工作原理- -.可修編 - . - - 測(cè)試接線方式分為正接法和反接法兩種,正接法是采納儀器的專(zhuān)用高壓電纜從儀器后部的 Cx 端上引出接至被測(cè)電纜的高壓端 電纜

18、導(dǎo)體,專(zhuān)用低壓電纜從儀器后部的 Zx 端引出接至被測(cè)電纜的低壓端,其接線圖見(jiàn)圖 32a；反接法是用專(zhuān)用高壓電纜從儀器后部的 Cx 端上引出接至被測(cè)電纜,低壓端接地如圖 32b；介Cx試介Cx試損Zx損品測(cè)測(cè)品電量量電纜儀儀纜圖22（a 正接法接線圖 四、試驗(yàn)容：圖22（b 反接法接線圖1.測(cè)量電纜的主絕緣的介質(zhì)損耗正切角因數(shù) tan ；2.測(cè)量電纜的護(hù)套絕緣的損耗因數(shù) tan ；五、試驗(yàn)步驟 1.按要求進(jìn)展正確接線,保證接地系統(tǒng)良好,選定試驗(yàn)電壓等級(jí)；2.翻開(kāi)電源,啟動(dòng)儀器進(jìn)展測(cè)試；3.測(cè)試完成后,關(guān)閉儀器,對(duì)電纜進(jìn)展放電,最終進(jìn)展拆線；六、試驗(yàn)結(jié)果分析一般,絕緣良好的介質(zhì)tan 很小,絕緣受潮、老化后 tan 增大；由于 tan 與溫度有很大關(guān)系,溫度