GB/T 25187-2010表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述

ICS7104040

G04..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T25187—2010/ISO154712004

:

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

Surfacechemicalanalysis—Augerelectronspectroscopy—

Descriptionofselectedinstrumentalperformanceparameters

(ISO15471:2004,IDT)

2010-09-26發(fā)布2011-08-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國(guó)

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

GB/T25187—2010/ISO15471:2004

*

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

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16

郵政編碼

:100045

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電話(huà)

:6852394668517548

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社秦皇島印刷廠(chǎng)印刷

各地新華書(shū)店經(jīng)銷(xiāo)

*

開(kāi)本印張字?jǐn)?shù)千字

880×12301/160.58

年月第一版年月第一次印刷

201012201012

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書(shū)號(hào)

:155066·1-40884

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:()

GB/T25187—2010/ISO154712004

:

前言

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用表面化學(xué)分析俄歇電子能譜選擇儀器性能參數(shù)的表述

ISO15471:2004《》。

為了方便使用本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改

,:

用本標(biāo)準(zhǔn)代替本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

———“”“”。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位福建光電有限公司清華大學(xué)化學(xué)系

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)起草人王水菊姚文清時(shí)海燕李展平劉芬沈電洪

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T25187—2010/ISO154712004

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引言

世界上有許多家廠(chǎng)商生產(chǎn)俄歇電子能譜儀和掃描俄歇電子顯微鏡雖然每臺(tái)儀

(AESs)(SAMs)。

器的分析方法的基本原理相同但儀器的具體設(shè)計(jì)和性能說(shuō)明的方式卻各不相同因此通常很

AES,。,

難比較不同廠(chǎng)商生產(chǎn)的儀器性能本標(biāo)準(zhǔn)提供一個(gè)基本項(xiàng)目單以使所有俄歇電子能譜儀能以一種共

。,

同的方式來(lái)表述本標(biāo)準(zhǔn)不是用來(lái)取代廠(chǎng)商的說(shuō)明書(shū)而是就廠(chǎng)商說(shuō)明書(shū)中所確定的某些項(xiàng)目給出一

。,

致和明確的定義

。

Ⅱ

GB/T25187—2010/ISO154712004

:

表面化學(xué)分析俄歇電子能譜

選擇儀器性能參數(shù)的表述

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)表述了如何描述一臺(tái)俄歇電子能譜儀的特定性能

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

表面化學(xué)分析詞匯

GB/T22461—2008(ISO18115:2001,IDT)

3術(shù)語(yǔ)和定義

表面化學(xué)分析詞匯中所給定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T22461—2008。

4符號(hào)和縮略詞

俄歇電子能譜也指俄歇電子能譜儀

AES();

本底以上最大峰強(qiáng)一半處的全寬度

FWHM;

掃描俄歇電子顯微鏡也指掃描俄歇電子顯微術(shù)

SAM();

掃描電子顯微鏡

SEM。

注一直以來(lái)儀器的動(dòng)能標(biāo)參考真空能級(jí)而或聯(lián)合譜儀則參考費(fèi)米能級(jí)從費(fèi)米能級(jí)參照

:,AES,XPSAES/XPS。

轉(zhuǎn)換為真空能級(jí)參照是通過(guò)從電子動(dòng)能中扣除譜儀逸出功來(lái)實(shí)現(xiàn)一種近似方法是從費(fèi)米能級(jí)參照的動(dòng)能中

;

扣除這對(duì)于大多數(shù)實(shí)際和應(yīng)用是可行的

4.5eV,AESSAM。

5選擇儀器性能參數(shù)的表述

51分析方法

.

應(yīng)簡(jiǎn)要敘述用于從樣品獲得信息的方法并說(shuō)明在所考慮的系統(tǒng)中其他分析技術(shù)的適用性作為選項(xiàng)

,()。

52樣品

.

應(yīng)給出使用該儀器可分析的樣品大小和形狀如果樣品的大小或形狀受限于某些特殊分析模式

。,

例如變角測(cè)量絕緣體測(cè)量等應(yīng)予以具體說(shuō)明

、