GB/T 5095.2-1997電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗

ICS31.220L23中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5095.2-1997idtIEC512-2:1985電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2:Generalexamination,electricalcontinutyandcontactresistancetestsinsulationtestsandvoltagestresstests1997-12-26發(fā)布1998-10-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5095.2-1997前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC512-2：1985《電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性、接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應(yīng)力試驗》及共修改市1（1994年）是對GB5095.2-86進行的第一次修訂，增加了試驗1c:功能操作(開關(guān))。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電子設(shè)備用機電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所負責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：余玉芳、汪其龍、張菊華、王玉堂。

GB/T5095.2-1997IEC前言1）IEC（國際電工委員會)在技術(shù)問題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對這些問題特別關(guān)切的國家委員會參加的技術(shù)委員會制定的，對所涉及的間題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)報告或?qū)t的形式發(fā)布，以推薦的形式供國際上使用，并在此意義上，為各國家委員會認(rèn)可。3）為了促進國際上的統(tǒng)一，各IEC國家委員會有責(zé)任使其國家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)IC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異應(yīng)在國家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。IEC引言國際標(biāo)準(zhǔn)IEC512-2由IEC/TC48(電子設(shè)備用機電元件)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)第二版取代了1976年出版的第一版IEC512-2及其修定1（1983年)和1980年出版的第次補充IEC512-2A.本標(biāo)準(zhǔn)與第1部分：總則(IEC512-1:1984)一同使用整套標(biāo)準(zhǔn)包括的其他試驗項目在IEC512-1的附錄A中給出了總的計劃。這些試驗項目在制定后就發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)預(yù)定取代IEC130-1《頻率低于3MH2連接器號第1部分：一般要求和試驗方法》中相應(yīng)的試驗項目、本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：六個月法表決報告二個月程府表決報告48（C0)13548(C0)169.169A48（C0150.150A48（C0)15648（C09548(C0)10948（C012948（C015448（C0)9648(C0)11548（C08848（C010648（C0)27848（C028548（C08948(CO)10748（C025248（CO26448（C0)9048(C0)10848（C0)9148(C0)11348(C0)13648(C0)15948（C0))23248（CO)236表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列標(biāo)準(zhǔn)：IEC270:1981局部放電測量。

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)GB/T5095.2-1997性和接觸電阻測試、絕緣idtiec512-2：1985試驗和電壓應(yīng)力試驗代替GB5095.2-86ElectromechanicalcomponentsforelectroniccquipmcntBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2.Generalexamination.clcctricalcontinuityandcontactresistancetests.insulationtestsandvoltagestresstests第一篇一般檢查范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗方法，在IEC/TC48范圍內(nèi)·的電子設(shè)備用機電元件的詳細規(guī)范要求時，應(yīng)給以采用。類似元件的詳細規(guī)范要求時，也可以采用。1試驗1a:外觀檢查1.1目的是確立詳細的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法，以檢查電子設(shè)備用機電元件的外觀。1.2總則外觀檢查就是檢查產(chǎn)品的標(biāo)志、外觀、加工質(zhì)量和鍍涂層是否符合有關(guān)規(guī)范。當(dāng)詳細規(guī)范有規(guī)定時可采用1.4中規(guī)定的光學(xué)輔助手段。外觀檢查在一定程度上是一種主觀方法，所以應(yīng)細心地進行檢查，以達到公正的判斷。偏離標(biāo)準(zhǔn)的缺陷，或由于應(yīng)力引起的變化，應(yīng)按重要性或作用進行細心地辨別。1.3需要檢查的外觀特征外觀特征的檢查項目如下：a）加工質(zhì)量及鎖涂層；b）標(biāo)志：TC48的范圍：制定用于通信設(shè)備和采用類似技術(shù)的電子裝置的具有機電連接和