Mark點粘錫漏檢出AOI測試演算法改良報告1_第1頁
Mark點粘錫漏檢出AOI測試演算法改良報告1_第2頁
Mark點粘錫漏檢出AOI測試演算法改良報告1_第3頁
Mark點粘錫漏檢出AOI測試演算法改良報告1_第4頁
Mark點粘錫漏檢出AOI測試演算法改良報告1_第5頁
已閱讀5頁，還剩11頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內容提供方，若內容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

針對MARK點錫點，異物，

臟污,缺角現有四種演算法可安全測出不良:

一:

Color演算法

檢測原理:利用Color抽色法,檢測亮度百分比,拿實時測試的圖片跟樣板圖片進行相似度比對，在設定的參數范圍內判定為OK，反之為NG。舉例說明Color演算法使用方法

經過實驗驗證正常品MARK點相似度為85~98之間,所以將Color演算法中相似度參數百分比設定為85%至100%,如果(100＞測試值＞85)判定為正常品,否則判定NG.

如下圖測試為93%，判定為OK。樣板圖像COLOR檢測框抽顏色外圍屏蔽掉此時該Mark測試結果為67%，判定NG。當前PCBMark實時圖像用Color演算法測亮度百分比設為85%至100%，不良品測試結果為67%，測試NG?？梢杂行z出不良品，杜絕此問題再次發(fā)生。當前不良Mark實時圖像樣板圖像此時該Mark測試結果為0%，判定NG。二:VOID演算法檢測原理:利用VOID演算法測亮或暗，通過對圖像進行RGB打光，設定一個亮度閥值為分界，在亮度值以下測試結果為暗，反之為亮.用VOID演算法時亮度百分比上限設為0%，正常品測試結果為0%，測試通過。用VOID演算法時亮度百分比上限設為0%，不正常品測試結果為7%，判定NG。

此方法亮暗比0，誤報較高，若將此參數更改則微小劃痕不可測出。不良Mark點測試結果原圖灰階圖不良灰階圖三:LEAD演算法檢測原理檢測原理:采用方法是影像比對方式，擷取一個好的影像當樣本，再將待測元件與之比對?？捎脕頇z查IC腳之缺件、相似度不達標等.MARK點沾錫點MARK點無異物，錫點四:ExtraBlob演算法檢測原理利用ExtraBlob演算法可用來檢測MARK點表面刮傷，臟污，缺角等不良。檢測參數設定畫面系統(tǒng)會將超出門檻值的畫素標示出來，並將其中相臨的畫素視為同一群組。

表面臟污及劃痕處理Mark點無異物,臟污Mark點臟污MARK點異物

Color演算法原參數:80~100

現參數:85~100測mark點異色,錫點,顏色不達標。VOID演算法現參數:藍光100;門檻值100;亮暗比0測mark點輕微劃痕，錫點，發(fā)亮異物。LEAD演算法現參數:80測mark點影像相似度

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網頁內容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容，請與我們聯系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論