超聲波檢測(cè)通用工藝作業(yè)指導(dǎo)書.doc

科恩馬特殊過(guò)程裝備（常熟）有限公司 KNM SPECIAL PROCESS EQUIPMENT (CHANGSHU) CO.,LTD.超聲波檢測(cè)通用工藝Technics Regulation for Ultrasonic Testing作業(yè)指導(dǎo)書Operation Guidebook編制Prepared By：審核Checked By：批準(zhǔn)Approved By：超聲檢測(cè)通用工藝規(guī)程1 一般要求1 General Requirements1.1 主要內(nèi)容與適用范圍1.1 Scope1.1.1 本規(guī)程規(guī)定了檢測(cè)人員資格、儀器、探頭、試塊、檢測(cè)范圍、檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)等。1.1.1 1.1.2 本規(guī)程按JB/T 4730.3編制，采用A型脈沖反射式超聲探傷儀器，適用于壓力容器的鋼板、鍛件和焊接接頭的檢測(cè)。符合壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程、GB 150等要求。1.1.3 檢測(cè)工藝卡是本規(guī)程的補(bǔ)充。由級(jí)人員按合同及本規(guī)程編制，其參數(shù)規(guī)定得更具體。1.2 規(guī)范性引用文件JB /T4730.12005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第1部分：通用要求JB/T 4730.32005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)GB 1501998 鋼制壓力容器JB/T 79131995 超聲檢測(cè)用鋼質(zhì)對(duì)比試塊的制造和校驗(yàn)方法JB/T 92141999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T 100611999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T 100621999 超聲波探傷探頭性能測(cè)試方法JB/T 100631999 超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件1.3 檢測(cè)人員1.3.1 檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，按特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求，經(jīng)理論和實(shí)際考試合格，取得相應(yīng)的等級(jí)資格證書。檢測(cè)由級(jí)人員進(jìn)行，級(jí)人員僅作檢測(cè)的輔助工作。1.3.2 檢測(cè)人員每年應(yīng)檢查一次身體，其未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0（小數(shù)記錄值為1.0）。1.4 儀器、探頭和試塊1.4.1 儀器和探頭使用汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-2000型儀器和友聯(lián)公司生產(chǎn)的PUXT-3300和PUXT-U1型儀器。（1）探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每擋不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T 10061的規(guī)定。（2）探頭 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。（3）超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。 儀器和探頭的組合組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。1.4.2 試塊1.4.2.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊（1）標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能標(biāo)準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本規(guī)程采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有： 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBI、CBII； 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSI、CSII、CSIII； 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA。（2）標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。（3）標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本規(guī)程的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。（4）標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063和JB/T 7913的規(guī)定。1.4.2.2 對(duì)比試塊（1）對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。（2）對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定。（3）對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。1.5 檢測(cè)的一般方法1.5.1 掃查覆蓋率檢測(cè)時(shí)，探頭每次掃查的覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。1.5.2 探頭的移動(dòng)速度探頭移動(dòng)的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限制。1.5.3 掃查靈敏度掃查靈敏度不得低于基準(zhǔn)靈敏度。1.5.4 耦合劑采用機(jī)油、糨糊、甘油、專用耦合劑和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。1.5.5 檢測(cè)面的制備（1）承壓設(shè)備的制造檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。（2）所確定的檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。（3）焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?.5.6 靈敏度補(bǔ)償（1）耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。（2）衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。（3）曲率補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。1.6 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核1.6.1 儀器校準(zhǔn)每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T 10061的規(guī)定進(jìn)行。1.6.2 新購(gòu)探頭測(cè)定新購(gòu)探頭須有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定方法應(yīng)按JB/T 10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。1.6.3 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定（1）使用儀器斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。（2）使用儀器直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。1.6.4 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：（1）校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；（2）檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；（3）連續(xù)工作4h以上時(shí)；（4）工作結(jié)束時(shí)。1.6.5 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核（1）每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。（2）每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。2 承壓設(shè)備鋼板的超聲檢測(cè)2.1 適用范圍本條適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。奧氏體鋼板、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本條執(zhí)行。2.2 探頭選用2.2.1 探頭應(yīng)按表1選用。表1 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)探頭選用板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm22040單晶直探頭514mm20mm40250單晶直探頭2.520mm25mm2.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合JB/T 4730.3 附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。2.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊2.3.1 用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，采用如圖1所示的CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。2.3.2 用單直探頭檢測(cè)厚度大于20mm的鋼板時(shí)，采用如圖2和表2規(guī)定的CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。如經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，也可采用雙晶探頭進(jìn)行檢測(cè)。圖1 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊圖2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊表2 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面到平底孔的距離s試塊厚度 TCB-120401520CB-240603040CB-3601005065CB-410016090110CB-5160200140170CB-62002501902202.4 基準(zhǔn)靈敏度2.4.1 板厚不大于20mm時(shí)，用CB試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。2.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CB試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。2.4.3 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與2.4.2的要求相一致。2.5 檢測(cè)方法2.5.1 檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。2.5.2 掃查方式（1）探頭沿垂直于鋼板壓延方向、間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖如圖3所示。（2）根據(jù)合同、協(xié)議書或圖樣的要求，也可進(jìn)行其他形式的掃查。2.5.3 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。2.6 缺陷的測(cè)定與記錄2.6.1 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即作為缺陷：（1）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F150%；（2）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/ B150%；（3）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即B150%。圖3 探頭掃查示意圖2.6.2 缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法（1）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)檢測(cè)，以確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度。（2）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到或基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。（3）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%。此時(shí)， 探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。（4）確定本規(guī)程2.6.1（3）條缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。（5）當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相的第二次底面反射波來(lái)校準(zhǔn)。2.7 缺陷的評(píng)定方法2.7.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。2.7.2 單個(gè)缺陷面積的評(píng)定規(guī)則（1）一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。（2）多個(gè)缺陷的相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各塊缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。（3）指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)表3。表3 鋼板質(zhì)量分級(jí) 等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度（mm）單個(gè)缺陷指示面積（cm2）在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比（%）以下單個(gè)缺陷指示面積不計(jì)（cm2）8025391005051512010010251501001025超過(guò)級(jí)者2.7.3 缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)則在任一1m1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于1m1m，可按比例折算。2.8 鋼板質(zhì)量分級(jí)2.8.1 鋼板質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表3。2.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。2.8.3 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。2.9 橫波檢測(cè)2.9.1 在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。2.9.2 鋼板橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T 4730.3附錄B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。3 承壓設(shè)備鍛件超聲檢測(cè)3.1 適合范圍本條適用于壓力容器用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺陷質(zhì)量分級(jí)。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。3.2 探頭雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz， 探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2 MHz5MHz，探頭晶片一般為14mm25mm。3.3 試塊 應(yīng)符合本規(guī)程第1.4.2（1）條的規(guī)定。3.3.1 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊采用CB試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對(duì)比試塊。圖4 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊表4 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸mm試塊序號(hào)CB-1CB-2CB-3CB-4L50100150200D506080803.3.2 雙晶直探頭試塊（1）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊。（2）CB試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。圖5 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊表5 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm試塊序號(hào)孔徑檢測(cè)距離L123456789CB-1251015202530354045CB-23CB-34CB-463.3.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸如圖6所示。圖6 CB標(biāo)準(zhǔn)試塊3.3.4 檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度Ra6.3m。3.5 檢測(cè)方法鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。3.5.1 鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T 4730.3附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。3.5.2 縱波檢測(cè)（1）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向如圖7 所示。其他形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。（2）鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從兩相對(duì)端面進(jìn)行100%的掃查。3.6 基準(zhǔn)靈敏度的確定3.6.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CB標(biāo)準(zhǔn)試塊法確定基準(zhǔn)靈敏度。3.6.2 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CB試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的3mm平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。3.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。注：為必須檢測(cè)方向；為參考檢測(cè)方向。圖7 縱波檢測(cè)方向（垂直檢測(cè)法）3.7 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定3.7.1 在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1 或Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B1 或Bn）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即（B1、B2 ）或（Bn、Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。3.7.2 衰減系數(shù)（T3N，且滿足n3N/T，m=2n）按式（1）計(jì)算：=(Bn-Bm)6/2(m-n)T （1）式中：衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （Bn-Bm）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； T工件檢測(cè)厚度，mm； m、n底波反射次數(shù)。3.7.3 衰減系數(shù)（T3N）按式（2）計(jì)算：=(B1-B2)6/ 2T （2）式中：（B1-B2）兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； 其余符號(hào)意義同式（1）。3.7.4 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。3.8 缺陷當(dāng)量的確定3.8.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙直探頭的距離-波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其他等效方法來(lái)確定。3.8.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m時(shí)，應(yīng)考慮修正。3.9 缺陷記錄3.9.1 記錄當(dāng)量直徑超過(guò)4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。3.9.2 密集性缺陷：記錄密集性缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mm50mm的方法作為最小量度單位，其邊界可用6dB法確定。3.10 鍛件質(zhì)量分級(jí)3.10.1 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表6。表6 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)等 級(jí)缺陷當(dāng)量直徑（mm）44+(08dB)4+(812dB)4+(1216dB)4+16dB3.10.2 底波降低量的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表7。表7 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)等 級(jí)底波降低量 BG/BF88141420202626注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷。3.10.3 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表8。表8 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級(jí)等 級(jí)密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比 (%)0055101020203.10.4 表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。3.10.5 如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。3.10.6 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為級(jí)。4 鋼制壓力容器對(duì)接接頭的超聲檢測(cè)4.1 適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接接頭的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。本條適用于母材公稱厚度為8mm400mm的全熔化焊對(duì)接接頭的超聲檢測(cè)。母材厚度為6mm8mm全熔化焊對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)應(yīng)按照J(rèn)B/T 4730.3附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)以及螺旋焊接接頭的超聲檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。鈦制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)參照附錄JB/T 4730.3M（資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行，奧區(qū)體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)參照J(rèn)B/T 4730.3附錄N（資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。如確有需要，壁厚為4mm6mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測(cè)可參照5.1進(jìn)行。本條不適用于鑄鋼對(duì)接接頭、外徑小于159mm的鋼管對(duì)接接頭、內(nèi)徑小于或等于200mm管座角向焊縫的超聲檢測(cè)，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)雍附咏宇^超聲檢測(cè)。4.2 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)4.2.1 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。4.2.2 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的要求4.2.2.1 A級(jí)僅適用于母材厚度為8mm46mm的對(duì)接焊接接頭。可用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面?zhèn)冗M(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。4.2.2.2 B級(jí)檢測(cè)（1）母材厚度為8mm46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。（2）母材厚度大于46mm120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。（3）母材厚度大于120mm400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10。（4）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成1020作兩個(gè)方向的斜平行掃查，見(jiàn)圖9。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖10。4.2.2.3 C級(jí)檢測(cè)采用C級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對(duì)焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)方法見(jiàn)4.5。（1）母材厚度為8mm46mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45。（2）母材厚度大于46mm至400mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10。對(duì)于單側(cè)坡口角度小于5的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷的有效檢測(cè)方法。（3）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖10。圖9 斜平行掃查 圖10 平行掃查4.3 試塊4.3.1 應(yīng)符合本規(guī)程第1.4.2條的規(guī)定。4.3.2 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-A，CSK-A和CSK-A。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖11、圖12和圖13、圖14和表9的規(guī)定。4.3.3 CSK-A，CSK-A和CSK-A 試塊適用于壁范圍為6mm120mm的焊接接頭，CSK-A和CSK-A系列試塊適用壁厚范圍大于120mm至400mm的焊接接頭。在滿足靈敏度要求時(shí)，試塊上的人工反射體根據(jù)檢測(cè)需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試塊。4.3.4 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑RW2/4（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度）時(shí)，應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿足： b2S/D0 （3）式中：b試塊寬度，mm；超聲波波長(zhǎng)，mm；S聲程，mm；D0聲源有效直徑，mm。注：尺寸誤差不大于0.05mm。圖11 CSKA試塊注1：L試塊長(zhǎng)度，由使用的聲程確定。 注2：尺寸誤差不大于0.05mm。 圖12 CSKA試塊注：尺寸誤差不大于0.05mm。圖13 CSKA試塊注1：L試塊長(zhǎng)度，由使用的聲程確定。 注2：尺寸誤差不大于0.05mm。 圖14 CSKA試塊表9 CSKA試塊尺寸 mm CSKA被檢工件厚度對(duì)比試塊厚度T標(biāo)準(zhǔn)孔位置b標(biāo)準(zhǔn)孔直徑dNo.1120150135T/4、T/26.4（1/4 in）No.2150200175T/4、T/27.9（5/16 in）No.3200250225T/4、T/29.5（3/8 in）No.4250300275T/4、T/211.1（7/16 in）No.5300350325T/4、T/212.7（1/2 in）No.6350400375T/4、T/2143（9/16 in）4.4 檢測(cè)準(zhǔn)備4.4 Preparation for testing4.4.1 檢測(cè)面4.4.1 Tested surface（1） 檢測(cè)區(qū)的寬度是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10mm，見(jiàn)圖15。(1) For testing weld joint, the width of tested zone is the welding seam puls both sides 30% of base metal thickness, the thickness of the zone is shown as Fig.15, min. 5mm and max. 10mm.圖15 檢測(cè)和探頭移動(dòng)區(qū) Fig. 15 examining and moving area of probe（2） 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，表面粗糙度Ra6.3m，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。(2) No weld spatter, scrap iron, oil sludge or other contaminants are allowed to exist on moving area of probes. The tested surface must be smooth to facilitate free scanning-to-test of probes, the surface roughness Ra should be 6.3mm, and normally the surface should be grinded. 采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于1.25P：P=2KT （4）或P=2Ttan （5）式中：P跨距，mm；T母材公稱厚度，mm；K探頭K值；探頭折射角，（）。 when primary reflection method or tandem scanning-to-test are employed for testing, moving area of the probe should not be less than 1.25P: P=2TK(4)or P=2Ttg (5)where:Pspan, mm;Tparent metal thickness, mm;KK value of the probe;bangle of refraction of probes ( ) 采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P。 when straight beam method is used, moving area of the probe should not be less than 0.75P.（3）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ィ⒆鲌A滑過(guò)渡以免影響檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定。（3） To remove excess weld metal, grind the projection until it is flush with base metal. Keep the weld of projection: if there is undercut, relatively large ridging or dents, etc on weld surface, it must be grinded properly, besides, smooth transition is required to avoid influence on appraisal of testing results.4.4.2 探頭K值（角度）4.4.2 K value of the probe (angle)斜探頭的K值（角度）選取可參照表10的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大的K值探頭。For selection of K value of the angle probe (angle), refer to table 10. If it is possible, choose the bigger K value of probe.表10 推薦應(yīng)用的斜探頭K值Table 10 K Value of Angle Probe Recommended板厚 T（mm）/ Thickness of Plates T（mm）K值/ K Value8253.02.0(7260)25462.51.5(6856)461202.01.0(6045)1204002.01.0(6045)4.4.3 探頭頻率4.4.3 Frequency of probe探頭頻率一般為2MHz5MHz。Normally, the frequency of probe is 2MHz5MHz.4.4.4 母材的檢測(cè)4.4.4 Testing of base metal對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下：For level C testing, at the zone of base metal, where scanning-to-test acoustic beam of angle probes passes, it should be tested first with straight probes to find the defects which influencing the testing results of angle probes. This test is only used as records and is not the acceptance testing of parent metal. Regulations of base metal testing have such key points as follows:（1） 檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz5MHz的直探頭，晶片直徑10mm25mm。(1) Method: contact pattern impulse reflection method. Straight probes with frequency of 25MHz is used, and the diameter of wafer is 1025mm.（2） 檢測(cè)靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。(2) Sensitivity: adjust the second-time bottom echo, at the area without defects, to reach 100% of full scale of screen.（3） 凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。(3) Records: for the areas, where signal amplitude of defects exceeds 20% of full scale of screen, put marks on the surface of work pieces and make records.4.5 距離-波幅曲線的繪制4.5 Drawing of distance-amplitude curve4.5.1 距離-波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成。該曲線簇由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)。如圖16所示。如果距離-波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。4.5.1 The distance-amplitude curve is drawn according to the data actually measured with probes and apparatus. The family of curves consist of appraisal line, quantification line and rejection line. The zone between appraisal line and qualification line is area I (including appraisal line), the zone between qualification line and rejection line is area II (including qualification line) and the zone above the rejection line, including rejection line, is area . Just shown as Fig. 16. If the distance-amplitude curve is drawn on salt screen, no less than 20% of full-scale in the testing area.圖16 距離-波幅曲線Fig. 16 Distance-amplitude curve4.5.2 距離-波幅曲線的靈敏度選擇4.5.2 Selection of sensitivity of distance-amplitude curve（1） 壁厚為6mm120mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表11的規(guī)定。(1) For weld with wall thickness of 6mm120mm, the sensitivity of distance-amplitude curve accords with table 11.表11 距離-波幅曲線的靈敏度Table 11 Sensitivity of Distance-Amplitude Curve試塊型式/ Model of Test Block板厚（mm）/ Thickness of Plates （mm）評(píng)定線/Appraisal Line定量線/Qualification Line判廢線/ Rejection LineCSK-A846240-18dB240-12dB240-4dB46120240-14dB240-8dB240+2dBCSK-A81516-12dB16-6dB16+12dB154616-9dB16-3dB16+5dB4612016-6dB1616+10dB （2） 壁厚大于120mm至400mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表12的規(guī)定。(2) For weld with wall thickness larger than 120400mm, the sensitivity of distance-amplitude curve accords with table 12表12 距離-波幅曲線的靈敏度Table 12 Sensitivity of Distance-Amplitude Curve試塊型式/ Model of Test Block板厚（mm）/ Thickness of Plates評(píng)定線/ Appraisal Line定量線/ Qualification Line判廢線/ Rejection LineCSK-A120400d-16dBd-10dBd注：d為橫孔直徑，見(jiàn)表9。Notes: d represents the diameter of transverse hole, see table 9（3） 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB.(3) For testing of transverse defects, sensitivity of each line must be improved 6dB.（4） 檢測(cè)面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)，距離-波幅曲線的繪制應(yīng)在與被檢測(cè)面曲率相同或相近的對(duì)比試塊上進(jìn)行。(4) When curvature radius (R) of tested surface is lower than or equal to W24, distance-amplitude curve must be drawn on the contrast test block of the curved surface（5） 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按JB/T 4730.3附錄F（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償。(5) Coupling loss and material attenuation of surface of work pieces must be same with the test block, or transmission loss compensation should be performed according to Annex F of JB/T 4730.3 (Supplementary). Within one span of acoustic range, compensation can be omitted if the greatest transmission loss does not exceed 2dB（6） 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。(6) Sensitivity of appraisal line where scanning-to-test sensitivity is not lower than the greatest acoustic range.4.6 檢測(cè)方法4.6 Testing methods4.6.1 平板對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè)4.6.1 Testing of butt-jointed seam of flat plates(1) 為檢測(cè)縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線置在檢測(cè)面上，作鋸齒形掃查，見(jiàn)圖17。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作1015的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)縱向缺陷的檢測(cè)要求見(jiàn)4.2。(1) In order to test lengthwise defects, angle probes must be placed on the tested surface vertical to center line of weld for sawtooth pattern scanning-to-test, see Fig.17. And the fore-and-aft movement range of probes must guarantee testing of whole section of weld. Besides, while moving the probe backward a