25可靠性精彩試題

1、可靠性工程基礎(chǔ)試題12. 一、是非判斷題(是畫V,非畫X)L并聯(lián)系統(tǒng)是冗余系統(tǒng)的一種。()串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一定小于其中任意一個組成單元的可靠性。3. ()可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行。()產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，規(guī)定的時間不能完成規(guī)定的功能稱為故障。()FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析的手段。()若某一產(chǎn)品的失效事件為M,M由兩單元的失效事件C和D組成，則其產(chǎn)品的失效概率P(M)=P(C)+P(D)。()電子元器件在任何情況下原則上都不允許超額使用。()我們稱MTBF為產(chǎn)品的平均壽命。()可靠性老煉和篩選試驗(yàn)的目的都是為了提高產(chǎn)品的固有可靠性。()產(chǎn)品可靠性規(guī)定的時間只能用小時

2、計算。()二、選擇題L某產(chǎn)品的可靠度為R(t)，當(dāng)t1小于t2時，可靠度R(t1)與R(t2)的關(guān)系為。 R(t1)一定大于或等于R(t2);R(t1)一定小于或等于R(t2);R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。2. 壽命為指數(shù)分布的2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng)，若兩單元的失效率分別為入1和入2,則該系統(tǒng)的MTBF為。1/(入1+入2);1/入1+1/入2+1/(入1+入2);1/入1+1/入2;1/入1+1/入3. 電子元器件老煉的目的是。提高產(chǎn)品的固有可靠性；剔除產(chǎn)品的早期失效;消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移。4. 產(chǎn)品可靠性篩選試驗(yàn)的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性；消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移；剔除產(chǎn)品的早期

3、失效。5. 對單兀廣品的可靠性評估一般米用。點(diǎn)估計法；區(qū)間估計法;CMSR法；MML法。6. 產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是 f(t);R(t);入(t);F(t)。7. 對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù) 一批產(chǎn)品的使用試驗(yàn)結(jié)果； 一批產(chǎn)品的隨機(jī)抽樣壽命試驗(yàn)結(jié)果； 該產(chǎn)品的可靠性分配結(jié)果。在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)的情況下，用來測定產(chǎn)品可靠性特征量的試驗(yàn)稱做可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)；可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)；可靠性測定試驗(yàn)。8. 故障樹分析的代號是。 ETA;FMEA;FT;FTA。三、填空題L若產(chǎn)品的性能指標(biāo)XN(b)=(10,1),則其概率密度函數(shù)f(x)=。若產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布，則其R(t)=;F(t)=;f

4、(t)=;入(t)=;MTBF=電子線路的三次設(shè)計是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在規(guī)定的，完成規(guī)定功能的稱為產(chǎn)品的可靠性。一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)；如果只要有一個單元工作系統(tǒng)就能工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)；如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作，我們把這種系統(tǒng)稱為系統(tǒng)，其代號為。2. 一般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線的形狀象洗澡盆，故稱曲線，按其變化規(guī)律可分為三個階段，即失效期、失效期和失效期。3. 提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性的措施是和某系統(tǒng)的可靠性框圖如下，其系統(tǒng)可靠性Rs為：Rs=一個電路由2個電阻串聯(lián)而成，其中一個電阻為6kQ，另一

5、個為8kQ，且均有土10%的極限誤差，并服從正態(tài)分布，則該電路電阻的最大值為，最小值為?？煽啃怨こ袒A(chǔ)一一、是非判斷題(是畫V,非畫X)每題1分共9分1. ()某產(chǎn)品的可靠度為R(t)，當(dāng)ti小于t2時，R(ti)一定大于或等于R(t2)。2. ()電子元器件老煉的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性。3. ()產(chǎn)品可靠性篩選試驗(yàn)的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性。4. ()工程中對單元產(chǎn)品的可靠性評估一般采用點(diǎn)估計法。5. ()產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是f(t)。6. ()對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù)該批產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)結(jié)果。7. ()在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)的情況下，用來測定產(chǎn)可靠性特征量的試驗(yàn)稱做可靠

6、性驗(yàn)證試驗(yàn)。8. ()故障樹分析的代號是FMEA。9. ()可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行。1. 二、選擇題每題1分共7分一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)。a. 并聯(lián)；b.串聯(lián)；c.表決；d.儲備。2. 并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一定其中任意一個組成單元的可靠性。a.大于；b.小于；c.等于；d.大于、等于或小于。3. FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行的手段。a. 定性分析；b.定量分析；c.定性或定量分析；d.精確分析。4. 若某一產(chǎn)品的失效事件為M,M=AUBUC,則這一個產(chǎn)品的失效概率P(M)為。b. a.P(A)+P(B)+P(C

7、);P(A)+P(B)+P(C)-P(ABC);P(A)+P(B)+P(C)-P(AB)-P(AC)-P(BC)+P(ABC);P(A)+P(B)+P(C)+P(AB)+P(AC)+P(BC)-P(ABC)。5. 電子元器件在情況下原則上都不允許超額使用。a.一般；b.特殊；c.大多數(shù)；d.任何6. 我們稱為產(chǎn)品的平均壽命。a.MTBF;b.MTTF;c.FMECA;d.T0.5。7. 產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是。a.f(t);b.F(t);c.R(t);d.入(t)。文案大全二、選擇題每題1分共7分一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)。a.并

8、聯(lián)；b.串聯(lián)；c.表次；d.儲備。1. 并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一定其中任意一個組成單元的可靠性。a.大于；b.小于；c.等于；d.大于、等于或小于。2. FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行的手段。a.定性分析；b.定量分析；c.定性或定量分析；d.精確分析。若某一產(chǎn)品的失效事件為M,M=AUBUC,則這一個產(chǎn)品的失效概率P(M)為P(A)+P(B)+P(C);P(A)+P(B)+P(C)-P(ABC);C.P(A)+P(B)+P(C)-P(AB)-P(AC)-P(BC)+P(ABC);d.P(A)+P(B)+P(C)+P(AB)+P(AC)+P(BC)-P(ABC)。3. 電子元器件在情況下原則上都

9、不允許超額使用。4. a.一般；b.特殊；c.大多數(shù)；d.任何我們稱為產(chǎn)品的平均壽命。a.MTBF;b.MTTF;c.FMECA;d.T0.5。5. 產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是。a.f(t);b.F(t);c.R(t);d.入(t)。三、填空題每空2分，共24分1. 壽命為指數(shù)分布的2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng)，若兩單元的失效率分別為入1和入2,則該系統(tǒng)的MTBF=j2. 若產(chǎn)品的性能指標(biāo)XN(n,b)=N(10,1),則其概率密度函數(shù)f(x)=。3. 若產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布，則其R(t)、F(t)和f(t)分別為：、和。入(t)和MTBF分別為(注意本題填寫順序不得有誤)4. 電子線路的三次設(shè)計

10、是5. 一個系統(tǒng)由n個單元組成，如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作，我們把這種系統(tǒng)稱為系統(tǒng)，其代號為。6. 一般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線稱浴盆曲線，按其變化規(guī)律可分為三個階段，即三個失效期。提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性的措施是、和。7. 某系統(tǒng)的可靠性框圖如下，其系統(tǒng)可靠性Rs為：Rs=。1. 可靠性工程基礎(chǔ)試題3、是非判斷題（是畫V,非畫X）每題1分共10分（）失效率為常數(shù)的分布函數(shù)一定是指數(shù)分布。2. （）在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)的情況下，用來測定產(chǎn)品可靠性特征量的試驗(yàn)稱做可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。3. （）工程中對單元產(chǎn)品的可靠性評估最常采用點(diǎn)估計法。4. （）產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是f（t）

11、。5. （）對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù)該批產(chǎn)品的隨機(jī)抽樣壽命試驗(yàn)結(jié)果。6. （）產(chǎn)品可靠性篩選試驗(yàn)的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性。7. （）電子元器件老煉的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性。8. ()故障樹分析的代號是FMEA。9. ()某產(chǎn)品的可靠度為R(t)，當(dāng)t1小于t2時，R(t1)一定大于或等于R(t2)。10. ()可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行。1. 二、選擇題每題1分共7分若某一產(chǎn)品的失效事件為T,T=AUBUC,則這一個產(chǎn)品的失效概率P(T)為。a.P(A)+P(B)+P(C);b.P(A)+P(B)+P(C)-P(ABC);c.P(A)+P(B)+P(C)-P(AB)-

12、P(AC)-P(BC)+P(ABC);d.P(A)+P(B)+P(C)+(AB)+P(AC)+P(BC)-P(ABC)。2. 一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都失效時系統(tǒng)才能不正常工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)。a.并聯(lián)；b.串聯(lián)；c.表決；d.儲備。3. FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行的手段。a.定性分析；b.定量分析；c.定性或定量分析；d.精確分析。4. 在組成單元的數(shù)量和可靠性相同的情況下，串并聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一般并串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性。a.大于；b.小于；c.等于；d.大于、等于或小于。5. 產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是。a.f(t);b.F(t);c.R(t);d.入(t)。為廣品的平

13、均壽命。6. 我們稱-文案大全a.MTBF;b.MTTF;c.FMECA;d.T0.5。7. 電子元器件在情況下原則上都不允許超額使用。1. a.一般；b.特殊；c.大多數(shù)；d.任何三、填空題每空2分，共28分壽命為指數(shù)分布的2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng)，若兩單元的失效率分別為入1和入2,則該系統(tǒng)的MTBF=若產(chǎn)品的性能指標(biāo)XN(,b)=N(10,1),則其概率密度函數(shù)f(x)=。2. 若產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布，則其R(t)、F(t)和f(t)分另U為工，入(t)和MTBF分別為，木日(注意本題填寫順序不得有誤)電子線路的三次設(shè)計是一個系統(tǒng)由n個單元組成，如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能

14、正常工作，我們把這種系統(tǒng)稱為其代號為三個失效期。一般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線稱浴盆曲線，按其變化規(guī)律可分為三個階段，即提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性措施是、某系統(tǒng)的全部路集為：(1,2,3;(2,3,4;(2,3;1,2,3,4;(3,4。其MPS為：3. 某系統(tǒng)的全部MCS為：(1,2;(2,3;(1,3。在下列集合(2,4,5;(1,2,4,5;(1,3,5;(1,4,5中是該系統(tǒng)割集的有：。4. 設(shè)有一串聯(lián)系統(tǒng)由4個單元組成，其可靠性分別為：R1=0.92,R2=0.94,R3=0.96,R4=0.98，若要求該系統(tǒng)的可靠性RS=0.8,則各單元的可靠性R1、R2、R3和R4的分配值應(yīng)該分別為可靠性工程基

15、礎(chǔ)試題4-、是非判斷題(是畫V,非畫X)L并聯(lián)系統(tǒng)是冗余系統(tǒng)的一種。2. 串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一定小于其中任意一個組成單元的可靠性。()4. 產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，規(guī)定的時間不能完成規(guī)定的功能稱為故障。5. FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析的手段。()()()3.可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行。()6. 若某一產(chǎn)品的失效事件為M,M由兩單元的失效事件C和D組成,則其產(chǎn)品的失效概率P(M)=P(C)+P(D)。()電子元器件在任何情況下原則上都不允許超額使用。()我們稱MTBF為產(chǎn)品的平均壽命。()可靠性老煉和篩選試驗(yàn)的目的都是為了提高產(chǎn)品的固有可靠性。7. ()產(chǎn)品可靠性規(guī)定的時間

16、只能用小時計算。()二、選擇題L某產(chǎn)品的可靠度為R(t)，當(dāng)t1小于t2時，可靠度R(t1)與R(t2)的關(guān)系為。 R(t1)一定大于或等于R(t2); R(t1)一定小于或等于R(t2); R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。2. 壽命為指數(shù)分布的2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng)，若兩單元的失效率分別為入1和入2,則該系統(tǒng)的MTBF為。 1/入1+1/入2; 1/(入1+入2); 1/入1+1/入2+1/(入1+入2);1/入1+1/入2-1/(入1+入2)。3. 電子元器件老煉的目的是剔除產(chǎn)品的早期失效;提高產(chǎn)品的固有可靠性;消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移。產(chǎn)品可靠性篩選試驗(yàn)的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性

17、；消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移;剔除產(chǎn)品的早期失效。對單元產(chǎn)品的可靠性評估一般采用區(qū)間估計法;MML法。點(diǎn)估計法；CMSR法;產(chǎn)品失效分布函數(shù)的代號是f(t);R(t);入(t);F(t)。4. 對單元產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評估應(yīng)根據(jù)。 一批產(chǎn)品的使用試驗(yàn)結(jié)果； 一批產(chǎn)品的隨機(jī)抽樣壽命試驗(yàn)結(jié)果； 該產(chǎn)品的可靠性分配結(jié)果。5. 在事先沒有規(guī)定產(chǎn)品可靠性指標(biāo)的情況下，用來測定產(chǎn)品可靠性特征量的試驗(yàn)稱做?？煽啃则?yàn)證試驗(yàn)；可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)；可靠性測定試驗(yàn)。6. 故障樹分析的代號是。ETA;FMEA;FT;FTA。三、填空題L若產(chǎn)品的性能指標(biāo)XN(p,b)=(10,1),則其概率密度函數(shù)f(x)=。2. 若產(chǎn)品的壽命服從指

18、數(shù)分布，則其R(t)=;F(t)=;f(t)=;入(t)=;MTBF=。電子線路的三次設(shè)計是指、和O,完成規(guī)定功能的3. 產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在規(guī)定的稱為產(chǎn)品的可靠性。系統(tǒng)；如果只要有一個一個系統(tǒng)由n個單元組成。當(dāng)每個單元都正常工作時系統(tǒng)才能正常工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為單元工作系統(tǒng)就能工作，此時我們稱這種系統(tǒng)為系統(tǒng)；如果n個單元中有k個或k個以上完好系統(tǒng)才能正常工作，我們把這種系統(tǒng)稱為系統(tǒng)，其代號為。6.一般產(chǎn)品失效率函數(shù)曲線的形狀象洗澡盆，故稱曲線，8. 按其變化規(guī)律可分為三個階段，即失效期、失效期和失效期7.提高串聯(lián)系統(tǒng)可靠性的措施是某系統(tǒng)的可靠性框圖如下，其系統(tǒng)可靠性Rs為：9. Rs

19、=一個電路由2個電阻串聯(lián)而成，其中一個電阻為6kQ，另一個為8kQ，且均有土10%的極限誤差，并服從正態(tài)分布，則該電路電阻的最大值為，最小值為?？煽啃怨こ袒A(chǔ)試題5一、是非判斷題（是畫V,非畫X）每題1分共10分L并聯(lián)系統(tǒng)是冗余系統(tǒng)的一種。（）串聯(lián)系統(tǒng)的可靠性一定小于其中任意一個組成單元的可靠性。（）（）2. 可靠性分配應(yīng)該在可靠性預(yù)計的基礎(chǔ)上進(jìn)行。產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，規(guī)定的時間不能完成規(guī)定的功能稱為故障。（）3. FMECA一般是一種對產(chǎn)品失效進(jìn)行定性分析的手段。（）4. 若某一產(chǎn)品的失效事件為M,M由兩單元的失效事件C和D組成，則其產(chǎn)品的失效概率為P（M）=P（C）+P（D）。（）電子元器

20、件在任何情況下原則上都不允許超額使用。（）我們稱MTBF為產(chǎn)品的平均壽命。（）可靠性老煉和篩選試驗(yàn)的目的都是為了提高產(chǎn)品的固有可靠性。5. 產(chǎn)品可靠性規(guī)定的時間只能用小時計算二、選擇題每題1分共9分L某產(chǎn)品的可靠度為R(t)，當(dāng)t1小于t2時，可靠度R(t1)與R(t2)的關(guān)系為。R(t1)一定大于或等于R(t2);R(t1)一定小于或等于R(t2);R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。2.壽命為指數(shù)分布的2個單元組成一個并聯(lián)系統(tǒng)，若兩單元的失效率分別為入1和入2,則該系統(tǒng)的MTBF為。1/入1+1/入2;1/(入1+入2);1/入1+1/入2+1/(入1+入2);1/入1+1/入2-1/(入1+入2)。3.電子元器件老煉的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性；剔除產(chǎn)品的早期失效；消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移。4. 產(chǎn)品可靠性篩選試驗(yàn)的目的是提高產(chǎn)品的固有可靠性；消除產(chǎn)品參數(shù)的漂移；剔除產(chǎn)品的早期失效。對單元產(chǎn)品的可靠