偏振模色散測試儀是用來測試偏振模色散的

1、 單模光纖偏振模色散PMD測試技術(shù)4.1、托克斯參數(shù)測定法斯托克斯參數(shù)測定法是測量單模光纖PMD值的基準試驗方法，它的測試原理是在一波長范圍內(nèi)以一定的波長間隔測量出輸出偏振態(tài)隨波長的變化，通過瓊斯矩陣本征分析和計算，得到PMD的系數(shù)值。斯托克斯參數(shù)測定法多用于實驗室測試，其測量試驗設(shè)備及裝置如圖2所示。 4.2、偏振態(tài)法偏振態(tài)法是測量單模光纖PMD的第1替代試驗方法，其測量原理是：對于固定的輸入偏振態(tài)，當注入光波長（頻率）變化時，在斯托克斯參數(shù)空間里邦加球上被測光纖輸出偏振態(tài)（SOP）也會發(fā)生演變，它們環(huán)繞與主偏振態(tài)（PSP）方向重合的軸旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)速度取決于PMD時延：時延越大，旋轉(zhuǎn)越快。通過

2、測量相應(yīng)角頻率變化和邦加球上代表偏振態(tài)（SOP）點的旋轉(zhuǎn)角度，就可以計算出PMD時延/。偏振態(tài)法直接給出了被測試樣PSP間差分群時延（DGD）與波長或時間的函數(shù)關(guān)系，通過在時間或波長范圍內(nèi)取平均值得到PMD。 4.3、干涉法由于干涉法測量速度快，目前市面上很多儀器生產(chǎn)廠家都以干涉法為測試原理生產(chǎn)測試設(shè)備，它們共同點就是設(shè)備體積小，動態(tài)范圍寬，重復(fù)性較好，很適合在現(xiàn)場使用。由于干涉法與偏振模耦合無關(guān)，適用于單盤短光纖和長光纖。干涉法就是介紹一種測量單模光纖和光纜的平均偏振模色散的方法。其測試原理為：當光纖一端用寬帶光源照明時，在輸出端測量電磁場的自相關(guān)函數(shù)或互相關(guān)函數(shù)，從而確定PMD。在自相關(guān)型

3、干涉儀表中，干涉圖具有一個相應(yīng)于光源自相關(guān)的中心相干峰。測量值代表了在測量波長范圍內(nèi)的平均值。在1310nm或1550nm窗口不同儀器都有一定的波長范圍。下面介紹的是光纖參考通道Michelsom干涉儀，也是大多儀器廠家使用的一種方法，實驗裝置如圖4所示： 五、單模光纖PMD不穩(wěn)定因素5.1、內(nèi)部因素單模光纖纖芯的橢圓度可能產(chǎn)生波導(dǎo)雙折射，光纖組成材料的膨脹系數(shù)不一致可能產(chǎn)生應(yīng)力雙折射。隨著芯層不圓度增大，單模光纖PMD有增大的趨勢，這和光纖PMD產(chǎn)生的內(nèi)部因素較為吻合。但同時也發(fā)現(xiàn)并不是芯層不圓度大對應(yīng)光纖PMD就大，說明生產(chǎn)光纖PMD另一個因素的存在即應(yīng)力雙折射，由于光纖不同組成材料熱膨脹

4、系數(shù)不一致而使光纖芯層存在不對稱橫向應(yīng)力，從而使光纖芯層產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象。所以作為光纖生產(chǎn)廠家應(yīng)從光纖芯層不圓度和光纖內(nèi)部殘余應(yīng)力著手控制光纖的PMD。5.2、光纖外部因素與光纖PMD關(guān)系由于光纖PMD是由光纖芯層晶體對光纖產(chǎn)生雙折射引起，在光纖光纜應(yīng)用中可能對光纖芯層的雙折射率改變是復(fù)雜的，目前國內(nèi)很多文獻對光纖外部因素包括機械、電磁和溫度等對光纖PMD可能產(chǎn)生影響進行了論述。實驗表明，光纖在小半徑彎曲和扭曲狀態(tài)下，光纖PMD有一定的變化。單模光纖PMD主要由光纖本身決定，即內(nèi)部因素非常重要。六、結(jié)論隨著光纖數(shù)字通信系統(tǒng)傳輸速率不斷提高和傳輸距離不斷增長，PMD成為限制高速數(shù)字通信的要害因素，我們必須組織有效測量，以了解光纜鏈路實際PMD狀況，為通信系統(tǒng)設(shè)計提供依據(jù)。然而，PMD的隨機及統(tǒng)計特性決定了PMD測量和控制難度很大。只有通過制