SPC基礎(chǔ)教程ppt課件

1、統(tǒng)計(jì)制程控制 (Statistical Process Control)文不如表 表不如圖 控制圖一. 控制圖發(fā)源史二. 統(tǒng)計(jì)制程控制概述三.我們?yōu)楹我菩蠸PC對制程的優(yōu)點(diǎn)四.控制圖之根本構(gòu)成及種類五. 控制圖的選定六. 常見控制圖的繪制 1924年休哈特(W.A.Shewhart)提出了控制圖(Control Chart)的概念與方法?？刂茍D是一種關(guān)于質(zhì)量的圖解記錄，操作人員利用所搜集的數(shù)據(jù)計(jì)算出兩個(gè)控制界限(上限及下限)，且畫出這兩個(gè)控制界限，在產(chǎn)品制造過程中隨時(shí)將樣本信息點(diǎn)入控制圖內(nèi)，以提示操作人員。如發(fā)現(xiàn)有超出控制界限外之點(diǎn)或是出現(xiàn)特殊圖樣(異常景象)時(shí)，應(yīng)立刻由人員、機(jī)械設(shè)備、資料

2、、方法(4M)或環(huán)境(1E)等方向進(jìn)展層別以清查緣由，進(jìn)而改善制程。一.控制圖發(fā)源史二. 統(tǒng)計(jì)制程控制概述 2.1 什么是統(tǒng)計(jì)制程控制統(tǒng)計(jì)制程控制(Statistical Process Control, 簡稱SPC)，是利用抽樣所得之樣本數(shù)據(jù)(樣本統(tǒng)計(jì)量)來監(jiān)視制程之形狀，在必要時(shí)采取調(diào)整制程參數(shù)之行動，以降低產(chǎn)質(zhì)量量之變異性。統(tǒng)計(jì)制程控制為預(yù)防性之質(zhì)量管理手段，強(qiáng)調(diào):第一次就做對 (Do it right the first time.) 統(tǒng)計(jì)制程控制之主要目的，在于盡快偵測出可歸屬緣由之發(fā)生或制程之異常跳動，起到在制造出更多不合格品之前，就能發(fā)現(xiàn)制程之變異并進(jìn)展改善任務(wù)。 1、SPC是一

3、個(gè)方法，也是一個(gè)系統(tǒng)，從統(tǒng) 計(jì)評價(jià)的數(shù)據(jù)中以控制制程并改善之；2、SPC可減少變異，控制本錢；3、在討論制程績效時(shí)，SPC提供一個(gè)共同的言語。2.2 統(tǒng)計(jì)制程控制的目的3.1在控制中的情況下 在任何的消費(fèi)程序中，不論如何設(shè)計(jì)或維護(hù)，產(chǎn)品的一些固有的或自然之變異將永遠(yuǎn)存在。這些變異是由一些小量不可控制緣由累積而成，例如：同種原料內(nèi)的變化、機(jī)器的振動所引起的變化等，當(dāng)這些變異之量極小時(shí)，制程仍可被接受。這些自然變異通常稱為隨機(jī)緣由(random cause)或是普通緣由(common cause)，當(dāng)制程中只需隨機(jī)緣由存在情況的消費(fèi)環(huán)境，那么稱其在控制中(in control)。 三.我們?yōu)楹我?/p>

4、行SPC對制程的優(yōu)點(diǎn)在以上控制圖作用，可以證明制程在一種良性環(huán)境下消費(fèi)。 制程中能夠存在有其它的變異，這些變異的來源有機(jī)器的不適當(dāng)調(diào)整、操作員之錯(cuò)誤、原料之不良、機(jī)器缺點(diǎn)或損壞等，這些變異的幅度通常較機(jī)遇緣由之變異為大，當(dāng)這些變異出現(xiàn)時(shí)，代表制程不可接受。這些變異稱為可歸屬緣由(assignable causes)或非機(jī)遇緣由或特殊緣由(special causes)，制程假設(shè)在可歸屬變異下操作那么稱其為制程失控(out of control)。 產(chǎn)品在制造過程中假設(shè)能及早找出可歸屬緣由，那么可防止在制造出更多的不合格品前，發(fā)現(xiàn)制程發(fā)生變異的緣由，并為制造過程提供改善的時(shí)機(jī)。因此統(tǒng)計(jì)制程控制對

5、改善制程而言，是一個(gè)很重要的工具。“非機(jī)遇緣由或特殊緣由就是我們進(jìn)展統(tǒng)計(jì)制程控制所要找到的重點(diǎn)3.2制程失控情況下控制圖為一種圖形表示工具，用以顯示從樣本中量測或計(jì)算所得之質(zhì)量特性。典型之控制圖包含一中心線 (Center Line, CL)，用以代表制程處于統(tǒng)計(jì)控制內(nèi)時(shí)質(zhì)量特性之平均值。此圖同時(shí)包含兩條程度線，稱為控制上限 (Upper Control Limit, UCL)及控制下限 (Lower Control Limit, LCL) ，用來表示制程或質(zhì)量變異的允許范圍或均勻性?？刂茍D可用來判別質(zhì)量變異之顯著性，以測知制程能否在正常形狀。圖一為控制圖之范例四.控制圖之根本構(gòu)成所謂計(jì)量值控

6、制圖，是指控制圖所根據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)均由實(shí)踐量測而得，如：產(chǎn)品之長度、分量、溫度等。常用之計(jì)量值控制圖有：控制圖之種類1、平均值與全距之控制圖(X-R Chart)常用2、平均值與規(guī)范偏向之控制圖(X- Chart)3、中位值與全距之控制圖(X-R Chart)4、單值與挪動極差控制圖(X-MR Chart)常用4.1計(jì)量值控制圖根據(jù)搜集數(shù)據(jù)的型態(tài)分:留意: 計(jì)數(shù)值控制圖皆祇有一個(gè)圖， 而計(jì)量值控制圖那么有兩個(gè)圖。4.2計(jì)數(shù)值控制圖所謂計(jì)數(shù)值控制圖，系控制圖所根據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)，均屬于單位個(gè)數(shù)者，如：不良率、缺陷數(shù)等經(jīng)由計(jì)數(shù)方法而得之?dāng)?shù)據(jù)均屬此類。常用之計(jì)數(shù)值控制圖有：1、不良率控制圖(p Chart)常用2

7、、不良數(shù)控制圖(np Chart)3、缺陷數(shù)控制圖(c Chart)常用4、單位缺陷數(shù)控制圖(u Chart)五. 控制圖的選定六. 常見控制圖的繪制6.1.1、平均值與全距之控制圖(X-R Chart)六. 常見控制圖的繪制著手制造 控制圖A、決議樣本大小、抽樣頻率、組數(shù)樣本大?。捍斫M內(nèi)變異，每組樣本大小45。抽樣頻率：決議制程對時(shí)間之穩(wěn)定性。依班別、時(shí)間、批次適中選取。組數(shù)：通常25組(100個(gè)數(shù)據(jù))。B、設(shè)置控制圖與紀(jì)錄原始數(shù)據(jù)：平均值控制圖、全距控制圖、數(shù)據(jù)紀(jì)錄區(qū)。C、計(jì)算每一組的平均值與全距假設(shè)每組有n個(gè)數(shù)據(jù)：X1、 X2、 X3 XnNeon(X1 +X2+ X3+ +Xn) /

8、 nR = XMAX-XMIND、點(diǎn)繪于平均值全距控制圖上描點(diǎn)與繪線銜接各點(diǎn)迅速掃描計(jì)算與所繪各點(diǎn)能否正確6.1.2、平均值與全距之控制圖(X-R Chart)六. 常見控制圖的繪制6.1.3、平均值與全距之控制圖(X-R Chart)六. 常見控制圖的繪制樣本大小 24D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11502.32660.4831.00402.5346.1.4、平均值與全距之控制圖(X-R Chart)六. 常見控制圖的繪制6.1.5實(shí)例說明內(nèi)層製程工程師希望建構(gòu)一個(gè)內(nèi)層線寬量測的控制程序，以便當(dāng)

9、內(nèi)層線寬量測值發(fā)生異常時(shí)可以迅速的偵測出來。他從生產(chǎn)線上搜集到15組(每組樣本大小為3),線寬量測數(shù)據(jù)如下，請利用此筆量測數(shù)據(jù)繪製解析用之平均值與全距控制圖並判讀製程能否失控。 六. 常見控制圖的繪制6.1.6 平均值與全距之控制圖(X-R Chart)六. 常見控制圖的繪制6.2 單值與挪動極差控制圖(X-MR Chart)六. 常見控制圖的繪制6.2.1 單值與挪動極差控制圖(X-MR Chart)單值中心線：CL=(X1+X2+Xn)/n六. 常見控制圖的繪制樣本大小 24D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11502.32660.4831.00402.5346.2.2 單值與挪動極差控制圖(X-MR Chart)六. 常見控制圖的繪制 6.2.3 例:某工廠研討開發(fā)新產(chǎn)品,在測試過程中,每個(gè)數(shù)據(jù)搜集需時(shí)1天才完成,故決定運(yùn)用個(gè)別值-移動全距控制圖作線上監(jiān)控之用。搜集一個(gè)月之資料,經(jīng)計(jì)算後如下表,試?yán)L製X-Rm控制圖六. 常見控制圖的繪制6.2.4 單值與挪動極差控制圖(X-MR Chart)個(gè)