GB/T 42025-2022智能制造射頻識(shí)別系統(tǒng)超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法

ICS3524050

CCSL.85.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T42025—2022

智能制造射頻識(shí)別系統(tǒng)

超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法

Intelligentmanufacturing—Radiofrequencyidentificationsystem—

TestmethodsforUHFRFIDsystemperformance

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T42025—2022

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

符號(hào)和縮略語(yǔ)

4……………1

一般測(cè)試要求

5……………2

測(cè)試項(xiàng)目選擇

5.1………………………2

標(biāo)準(zhǔn)大氣條件

5.2………………………2

預(yù)處理

5.3………………2

默認(rèn)允差

5.4……………2

測(cè)量不確定度

5.5………………………2

識(shí)別測(cè)試

5.6……………2

讀寫(xiě)測(cè)試

5.7……………2

通信參數(shù)

5.8……………3

標(biāo)簽排列

5.9……………3

長(zhǎng)度采樣步長(zhǎng)

5.10………………………4

速度采樣步長(zhǎng)

5.11………………………4

移動(dòng)方向

5.12……………4

測(cè)試報(bào)告

5.13……………4

讀寫(xiě)器抗擾度

6……………5

測(cè)試目的

6.1……………5

測(cè)試布置

6.2……………5

測(cè)試步驟

6.3……………5

測(cè)試報(bào)告

6.4……………8

密集型讀寫(xiě)器互擾

7………………………8

測(cè)試目的

7.1……………8

測(cè)試布置

7.2……………9

測(cè)試步驟

7.3……………9

測(cè)試報(bào)告

7.4……………9

標(biāo)簽環(huán)境適應(yīng)性

8…………………………10

測(cè)試目的

8.1……………10

測(cè)試布置

8.2……………10

測(cè)試步驟

8.3……………10

測(cè)試報(bào)告

8.4……………10

堆垛標(biāo)簽性能

9……………10

測(cè)試目的

9.1……………10

Ⅰ

GB/T42025—2022

測(cè)試布置

9.2……………10

測(cè)試步驟

9.3……………11

測(cè)試報(bào)告

9.4……………11

典型應(yīng)用場(chǎng)景下的多標(biāo)簽訪(fǎng)問(wèn)能力

10…………………11

測(cè)試目的

10.1…………………………11

測(cè)試布置

10.2…………………………11

測(cè)試步驟

10.3…………………………11

測(cè)試報(bào)告

10.4…………………………12

典型應(yīng)用場(chǎng)景下的移動(dòng)速度

11…………12

測(cè)試目的

11.1…………………………12

測(cè)試布置

11.2…………………………12

測(cè)試步驟

11.3…………………………12

測(cè)試報(bào)告

11.4…………………………12

附錄規(guī)范性典型應(yīng)用場(chǎng)景

A()…………13

附錄資料性測(cè)試報(bào)告記錄信息

B()……………………17

參考文獻(xiàn)

……………………19

Ⅱ

GB/T42025—2022

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC28)。

本文件起草單位中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院北京中科佐迪克電子科技發(fā)展有限公司廣東中科

:、、

臻恒信息技術(shù)有限公司睿芯聯(lián)科北京電子科技有限公司北京智芯微電子科技有限公司重慶唯申

、()、、

科技有限公司四川華大恒芯科技有限公司愛(ài)康普科技大連有限公司高新興智聯(lián)科技有限公司

、、()、、

上海天臣射頻技術(shù)有限公司青島海爾洗衣機(jī)有限公司品冠物聯(lián)科技有限公司

、、。

本文件主要起草人劉文莉馮敬王大慶王立管超金學(xué)明王文赫時(shí)漢陳柯姚茜周吉天白

:、、、、、、、、、、、

張建平馮進(jìn)王金龍周立雄孟毅蔣宗清

、、、、、。

Ⅲ

GB/T42025—2022

智能制造射頻識(shí)別系統(tǒng)

超高頻RFID系統(tǒng)性能測(cè)試方法

1范圍

本文件描述了用于智能制造的超高頻的系統(tǒng)性能測(cè)試的一般方法

RFID。

本文件適用于智能制造領(lǐng)域超高頻系統(tǒng)性能的測(cè)試

RFID。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2—2018

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3—2016

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.4—2018

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.5—2019()

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

GB/T17626.6—2017

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.8—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度

GB/T17626.11—2008