數(shù)字電子技術(shù)(數(shù)電) 門電路邏輯功能測試實(shí)驗(yàn)要求指導(dǎo)書_第1頁
數(shù)字電子技術(shù)(數(shù)電) 門電路邏輯功能測試實(shí)驗(yàn)要求指導(dǎo)書_第2頁
數(shù)字電子技術(shù)(數(shù)電) 門電路邏輯功能測試實(shí)驗(yàn)要求指導(dǎo)書_第3頁
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實(shí)一門路輯能試一實(shí)目1．掌握、TTL集與非門的邏輯功能測試方法。2．掌握、TTL器的使用規(guī)則。3．熟悉數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)裝置的結(jié)，基本功能和使用方法二實(shí)內(nèi)1．驗(yàn)證（TTL）集成與非門74HC00（74LS00的邏輯功能。2．74HC00）壓傳輸特性測試。三實(shí)設(shè)及件數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)臺、74HC00（74LS00用表四實(shí)原1．芯片介紹本實(shí)驗(yàn)采用二輸入四與非門74HC00（74LS00一集成塊內(nèi)含有四個相互獨(dú)立的與非門，每個與非門有兩個輸入端，其引腳排列如圖1所示。圖174LS00（74HC00）腳圖與非門的邏輯功能實(shí)輸端有一個或一個以上是低電平時出端為高電平；只有當(dāng)輸入端全部為高電平時，輸出端才是低電平（即有得，全得0（）壓傳輸特性門的輸出電壓V隨輸入電壓V而化的曲線稱為門的電壓傳輸特性通過它可I以讀得門電路的一些重要參數(shù)，如輸出高電平V、輸出低電平V、閾值壓V、OLTH

抗干擾容限等值。測試電路如圖2所示。采用逐點(diǎn)測試法，及調(diào)節(jié)滑動變阻器，逐點(diǎn)測得V和V，然后繪制曲線。I圖274HC00（74LS00）電壓傳特性測試電路五實(shí)步1.測試74HC00（74LS00）邏功能門的輸入端接邏輯電平開關(guān)輸出插口，以提供平信號，開關(guān)向上，輸出為邏輯1，向下為邏輯0。的輸出端接由LED光二極管組成的邏輯電平顯示器（又稱0-1指示器）的顯示插口，LED亮邏輯1，不亮為邏輯0。按表1逐測試集成塊中與非門的邏輯功能，判斷芯片邏輯功能是否正常。表174HC00（74LS00）輯能A

B

Y2.測相關(guān)數(shù)據(jù)，并繪制電壓傳輸特性曲線圖。按圖2接，調(diào)節(jié)電位器RW，VI從0V向電平變化，逐點(diǎn)測得和VO的對

應(yīng)值，記入表2中芯片采用TTL電路74LS00時記入表3中格記錄數(shù)據(jù)也可自己設(shè)計(jì)。表2U0i

0.51.01.52.02.42.52.62.83.03.5U(v)oU4.5iU(v)oU0i

表30.20.40.60.81.21.41.61.82.02.5U(v)oU3.54.5

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