NBT 47013.3-2023 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3 部分：超聲檢測(cè)

CCSH26代替NB/T47013.3—2015承壓設(shè)備無損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)2023-12-28發(fā)布2024-06-28實(shí)施根據(jù)《中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)化法》《能源標(biāo)準(zhǔn)化管理辦法》,國家能源局批準(zhǔn)《新能源場(chǎng)站智能化建設(shè)基本技術(shù)規(guī)范》等281項(xiàng)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(附件1)、《SpecificationforPreparationofSpecialGeologicalReportonImpoundment-AffectedAreafor等33項(xiàng)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)外文版(附件2)、《水電工程放射性探測(cè)技術(shù)規(guī)程》等3項(xiàng)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)修改通知單(附件3),現(xiàn)予以發(fā)布。附件：行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)目錄二〇二三年十二月二十八日H標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)標(biāo)準(zhǔn)名稱代替標(biāo)準(zhǔn)(略)NB/TI1474-2023大氣環(huán)境腐蝕試驗(yàn)出版社2024-06-28NB/T11475-2023瓶式壓力容器出版社2024-06.28在用焦炭塔檢驗(yàn)出版社2023-12.22024-06-28NB/T11477-2023JB/T50037-1997出版社202312-282024-06-28(略)NB/T470133—2023出版社2024-06-28NB/T47014-2(23NB/T47614-2011出版社2024-06-28NB/T47015-2023壓力容器焊接規(guī)程出版社2024-06-28NB/T47016-2(23NB/T47016-2011出版社2024-06-28NB/T47028-2023出版社2024406-28NB/T47029-2023NB/T47029-20122024-06-28減溫減壓裝置NB/T47033-2013出版社2024-06-8前言 Ⅲ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14一般要求 25承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 96承壓設(shè)備焊接接頭超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 7承壓設(shè)備厚度的超聲測(cè)定方法 8在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)方法 9超聲檢測(cè)記錄和報(bào)告 附錄A(規(guī)范性)超聲檢測(cè)儀電氣性能指標(biāo)要求 附錄B(規(guī)范性)超聲檢測(cè)用探頭性能指標(biāo)要求 附錄C(規(guī)范性)雙晶直探頭性能要求 附錄D(規(guī)范性)承壓設(shè)備用板材超聲斜探頭檢測(cè)方法和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn) 附錄E(規(guī)范性)承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和簡(jiǎn)形鍛件超聲斜探頭檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 附錄F(規(guī)范性)承壓設(shè)備用奧氏體型不銹鋼環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測(cè)方法 附錄G(規(guī)范性)承壓設(shè)備堆焊層超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 附錄H(規(guī)范性)鋁和鋁合金制及鈦制承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 附錄I(規(guī)范性)承壓設(shè)備奧氏體型不銹鋼及鎳基合金焊接接頭超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 附錄J(規(guī)范性)承壓設(shè)備曲面縱向?qū)咏宇^的超聲檢測(cè)方法 附錄K(規(guī)范性)承壓設(shè)備曲面環(huán)向?qū)咏宇^的超聲檢測(cè)方法 附錄L(規(guī)范性)承壓設(shè)備接管與筒體(或封頭)角接接頭超聲檢測(cè)方法 附錄M(規(guī)范性)承壓設(shè)備T形焊接接頭超聲檢測(cè)方法 附錄N(規(guī)范性)不同類型焊接接頭超聲檢測(cè)的具體要求 附錄O(規(guī)范性)CSK-IIA試塊 附錄P(規(guī)范性)聲能傳輸損耗差的測(cè)定 附錄Q(規(guī)范性)回波動(dòng)態(tài)波形模式 附錄R(規(guī)范性)缺陷測(cè)高方法(一):端點(diǎn)衍射波法測(cè)定缺陷高度 附錄S(規(guī)范性)缺陷測(cè)高方法(二):端部最大回波法測(cè)定缺陷高度 附錄T(規(guī)范性)缺陷測(cè)高方法(三):-6dB法測(cè)定缺陷高度 附錄U(資料性)采用成像技術(shù)的承壓設(shè)備超聲檢測(cè)方法 本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的本文件是NB/T47013《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》的第3部分。NB/T47013已經(jīng)發(fā)布了以下部分： 第1部分：通用要求； 第2部分：射線檢測(cè)； 第3部分：超聲檢測(cè)； 第5部分：滲透檢測(cè)；——第6部分：渦流檢測(cè)； 第8部分：泄漏檢測(cè)； 第9部分：聲發(fā)射檢測(cè)； 第10部分：衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)； 第11部分：射線數(shù)字成像檢測(cè)： 第12部分：漏磁檢測(cè)； 第13部分：脈沖渦流檢測(cè)； 第14部分：射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)； 第15部分：相控陣超聲檢測(cè)。本文件代替NB/T47013.3—2015《承壓設(shè)備無損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)》,與NB/T47013.3—2015相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改運(yùn)之外，主要技術(shù)變化如下，a)明確了對(duì)比試塊由通用對(duì)比試塊和專用對(duì)比試塊組成，并規(guī)定了適用范圍；b)進(jìn)一步明確了工藝驗(yàn)證及工藝驗(yàn)證方式等；c)調(diào)整了承壓設(shè)備板材超聲檢測(cè)的適用范圍，從6mm～250mm擴(kuò)大到大于或等于6mm;d)擴(kuò)大了承壓設(shè)備縱向?qū)咏宇^的適用范圍，從適用于內(nèi)外徑比≥65%調(diào)整到內(nèi)外徑比≥60%;e)增加了承壓設(shè)備復(fù)合鋼板壁厚測(cè)定方法；f)對(duì)附錄E“承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定”進(jìn)行了整體修改，擴(kuò)大了適用范圍，修改了對(duì)比試塊及參考反射體，修改了檢測(cè)g)對(duì)附錄F“承壓設(shè)備用奧氏體型不銹鋼環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測(cè)方法”進(jìn)行了整體修改，擴(kuò)大了適用范圍，修改了檢測(cè)方法等；h)對(duì)附錄I“承壓設(shè)備奧氏體型不銹鋼及鎳基合金焊接接頭超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定”進(jìn)行了整體修改，擴(kuò)大了適用范圍，修改了對(duì)比試塊，增加了檢測(cè)技術(shù)等級(jí)，規(guī)定了縱向缺陷和橫向缺陷的檢測(cè)方法等；i)新增了資料性附錄U“采用成像技術(shù)的承壓設(shè)備超聲檢測(cè)方法”,為可記錄超聲提供了檢測(cè)方法。NB/T47013.3—2023本文件由全國鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC262)提出并歸口。本文件起草單位：合肥通用機(jī)械研究院有限公司、中國特種設(shè)備檢測(cè)研究院、上海電氣核電設(shè)備有限公司、中國第一重型機(jī)械集團(tuán)大連加氫反應(yīng)器制造有限公司、森松(江蘇)重工有限公司、中國科學(xué)院聲學(xué)研究所、浙江省特種設(shè)備科學(xué)研究院、蘭州蘭石重型裝備股份有限公司、四川佳誠油氣管道質(zhì)量檢測(cè)有限公司、中國能源建設(shè)集團(tuán)浙江火電建設(shè)有限公司、武漢中科創(chuàng)新技術(shù)股份有限公司、汕頭市超聲儀器研究所股份有限公司、浙江優(yōu)爾特檢測(cè)科技有限公司、山東瑞祥模具有限公司。本文件主要起草人：閻長周、鄭暉、許遵言、周鳳革、周裕峰、江雁山、廉國選、陳賢洮、金南輝、宿再春、原可義、程經(jīng)緯、吳勇、許云偉、林光輝、陳宏龍、柳章龍、魏忠瑞。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——JB4730—1994;——JB/T4730.3—2005; NB/T47013.3—2015。1承壓設(shè)備無損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)1.1本文件規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射法超聲檢測(cè)的方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。1.2本文件適用于承壓設(shè)備生產(chǎn)和使用過程中金屬材料制原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)。1.3與承壓設(shè)備有關(guān)的金屬材料制支承件和結(jié)構(gòu)件(包括焊接接頭)的超聲檢測(cè)，可參照本文件的規(guī)定執(zhí)行。1.4當(dāng)采用A型顯示和其他顯示方式相結(jié)合的超聲成像技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，也可參照本文件的規(guī)定下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件，不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T699優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼GB/T11259無損檢測(cè)超聲檢測(cè)用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無損檢測(cè)術(shù)語超聲檢測(cè)GB/T27664.1無損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第1部分：儀器GB/T27664.2無損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn)第2部分：探頭GB/T29460含缺陷聚乙烯管道電熔接頭安全評(píng)定GB/T30579承壓設(shè)備損傷模式識(shí)別JB/T8428無損檢測(cè)超聲試塊通用規(guī)范JB/T9214無損檢測(cè)A型脈沖反射式超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10062超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法NB/T47013.1承壓設(shè)備無損檢測(cè)第1部分：通用要求NB/T47013.15承壓設(shè)備無損檢測(cè)第15部分：相控陣超聲檢測(cè)ISO/IEC17025TestingandcalibrationlaboratoriesGB/T12604.1和NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。鍛件檢測(cè)時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅B。與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅Br的比值，[用二者相對(duì)增益值(dB值)來表示]。2NB/T47013.3—2023密集區(qū)缺陷clusteredindications鍛件檢測(cè)時(shí)，邊長為50mm的立方體區(qū)域內(nèi)同時(shí)存在5個(gè)或5個(gè)以上且其反射波幅均大于或等于某一特定平底孔當(dāng)量的缺陷反射信號(hào)。參考靈敏度referencesensitivity將對(duì)比試塊上參考反射體的回波高度或被檢工件的底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度?；鶞?zhǔn)靈敏度evaluationsensitivity在參考靈敏度基礎(chǔ)上，考慮對(duì)比試塊與被檢工件之間因表面粗糙度不同、曲率不同、材質(zhì)差異等因素進(jìn)行調(diào)整后所得到的靈敏度。基準(zhǔn)靈敏度主要用于工件的檢測(cè)和缺陷的評(píng)定。掃查靈敏度scanningsensitivity在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，適當(dāng)提高儀器增益(dB值)后用于實(shí)際檢測(cè)掃查的靈敏度。缺陷高度flawheight缺陷上下端點(diǎn)在工件厚度方向上的距離?；夭▌?dòng)態(tài)波形echodynamicpatterns探頭與反射體相對(duì)移動(dòng)時(shí)，反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。1)對(duì)于板材和管材，工件厚度t為其公稱厚度。2)對(duì)于復(fù)合鋼板，工件厚度t為基材公稱厚度。3)對(duì)于環(huán)形或筒形鍛件，工件厚度t為筒體厚度；對(duì)于餅形或類似鍛件，工件厚度t為其最小厚度；對(duì)于其他類型鍛件，工件厚度t一般指檢測(cè)方向上的尺寸，或指沿徑向或軸向的尺寸。b)焊接接頭：1)對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材公稱厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度。2)對(duì)于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒體(或封頭或母管)公稱厚度；對(duì)于接管與筒體(或封頭或母管)安放式角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度。3)對(duì)于T形焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。4一般要求4.1檢測(cè)人員4.1.1對(duì)超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.1.2超聲檢測(cè)人員除理解和掌握基本的超聲理論和必要的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)外，還應(yīng)具備一定的金屬材3料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，熟悉被檢工件的材質(zhì)、制造工藝及聲學(xué)特性等，并能對(duì)檢測(cè)中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。4.2檢測(cè)設(shè)備和器材4.2.1超聲檢測(cè)儀器(以下簡(jiǎn)稱“儀器”)和探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證明儀器產(chǎn)品質(zhì)量合格證中應(yīng)至少給出預(yù)熱時(shí)間、低電壓報(bào)警電壓或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)射脈沖寬度(采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖時(shí))以及接收電路頻帶等主要性能參數(shù)；探頭質(zhì)量合格證中應(yīng)給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對(duì)脈沖回波靈敏度以及斜探頭聲束性能(包括探頭入射點(diǎn)或前沿、探頭折射角β或K值等)等主要參數(shù)。4.2.2儀器、探頭和組合性能采用A型脈沖反射式超聲檢測(cè)儀，其工作頻率按-3dB測(cè)量應(yīng)至少包括0.5MHz～10MHz頻率范圍，儀器的性能指標(biāo)應(yīng)滿足附錄A的要求，并按規(guī)格型號(hào)提供具有ISO/IEC17025認(rèn)可的第三方4.2.2.2探頭圓形晶片直徑一般應(yīng)小于或等于40mm,方形晶片任一邊長一般應(yīng)不大于40mm,探頭的性能指標(biāo)應(yīng)滿足附錄B的要求，并按規(guī)格型號(hào)提供具有ISO/IEC17025認(rèn)可的第三方實(shí)驗(yàn)室出具的證明文件。4.2.2.3儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)(僅限直探頭)和遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力。4.2.2.3.2在下列任一情況時(shí)應(yīng)測(cè)定儀器和探頭的組合性能：a)新購置的超聲檢測(cè)儀器和(或)探頭；b)儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c)檢測(cè)人員有懷疑時(shí)。4.2.2.3.3水平線性偏差應(yīng)不大于1%,垂直線性偏差應(yīng)不大于5%。4.2.2.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率偏差應(yīng)不大于10%。4.2.2.3.5儀器-直探頭組合性能還應(yīng)符合以下要求：a)靈敏度余量應(yīng)不小于32dB;b)在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)應(yīng)不大于10mm;對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)應(yīng)不大于15mm;c)直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于20dB。4.2.2.3.6儀器-斜探頭組合性能還應(yīng)符合以下要求：a)靈敏度余量應(yīng)不小于42dB;b)斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于12dB。4.2.2.3.7在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。4.2.2.3.8儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法應(yīng)符合JB/T10062的規(guī)定，其他組合性能的測(cè)試方法應(yīng)符合JB/T9214的規(guī)定。4NB/T47013.3—20234.2.3試塊4.2.3.1標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.3.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)為具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評(píng)定和校準(zhǔn)儀器探頭系統(tǒng)性能。本文件采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA、DZ-I和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2CSK-IA試塊的具體幾何形狀、尺寸及表面粗糙度等符合本文件的規(guī)定，DZ-I試塊和DB-PZ20-2試塊的具體幾何形狀、尺寸及表面粗糙度等應(yīng)符合JB/T9214的規(guī)定。4.2.3.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊的制造和尺寸精度應(yīng)符合JB/T8428的規(guī)定，試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測(cè)試條件下比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體(面)時(shí)，其最大反射波幅差應(yīng)小于或等于2dB。4.2.3.2對(duì)比試塊4.2.3.2.1對(duì)比試塊應(yīng)為與試件或被檢材料聲學(xué)特性相似、含有意義明確的參考反射體、用以調(diào)節(jié)超聲檢測(cè)儀的幅度和(或)時(shí)基線，以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)(即缺陷信號(hào))與參考反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較的試塊。4.2.3.2.2當(dāng)采用直探頭檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊所用原材料中不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。4.2.3.2.3不同被檢工件超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊參考反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本文件相關(guān)章節(jié)及附錄的規(guī)定。4.2.3.2.4對(duì)比試塊的尺寸公差在本文件有明確要求時(shí)按本文件的規(guī)定制作，無明確要求時(shí)應(yīng)按JB/T8428的規(guī)定制作。4.2.3.2.5對(duì)比試塊分為通用對(duì)比試塊和專用對(duì)比試塊4.2.3.2.5.1通用對(duì)比試塊a)通用對(duì)比試塊的幾何形狀、尺寸和參考反射體設(shè)置按本文件各章節(jié)圖樣規(guī)定，其尺寸精b)通用對(duì)比試塊的制作材料應(yīng)選用電爐或平爐熔煉的20#優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼，化學(xué)成分符合GB/T699的規(guī)定，經(jīng)鍛壓成形后再作正火處理以確保材質(zhì)均勻而不存在聲各向異性，晶粒度7級(jí)～8級(jí)；當(dāng)采用直探頭檢測(cè)時(shí)不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。4.2.3.2.5.2專用對(duì)比試塊a)專用對(duì)比試塊與被檢工件的材料聲學(xué)性能(二者間聲速偏差率應(yīng)不超過±1%,用5MHz探頭測(cè)試的衰減系數(shù)相差應(yīng)不超過±2dB/m)和制造工藝相同或相似。b)專用對(duì)比試塊的外形幾何尺寸應(yīng)在一定程度上能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及不同工件厚度對(duì)接接頭的檢測(cè)，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定。c)若作為4.3.3所規(guī)定的工藝驗(yàn)證用途時(shí)，還應(yīng)考慮被檢工件中可能存在的缺陷類型、大小、位置和取向并設(shè)置相應(yīng)的參考反射體。4.2.3.2.5.3對(duì)比試塊選用的一般原則a)對(duì)于碳素鋼、低合金鋼制原材料、零部件或焊接接頭，可采用通用對(duì)比試塊；h)對(duì)于中合金鋼、高合金鋼制原材料、零部件或焊接接頭，應(yīng)采用專用對(duì)比試塊；c)對(duì)于因試塊類型選擇不同而造成檢測(cè)結(jié)果的差異時(shí)，應(yīng)以專用對(duì)比試塊為準(zhǔn)。54.2.3.3.1模擬試塊是指含有模擬缺陷的試塊，主要用于檢測(cè)工藝驗(yàn)證。4.2.3.3.2模擬試塊的材料和聲學(xué)特性應(yīng)與被檢工件相同或相近(聲速偏差率應(yīng)不大于1%,用5MHz探頭測(cè)試的衰減系數(shù)偏差應(yīng)不大于2dB/m),當(dāng)采用直探頭檢測(cè)試塊所用原材料時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。4.2.3.3.3模擬試塊的幾何形狀、厚度和表面條什均應(yīng)與被檢工件相同或相近。4.2.3.3.4對(duì)于焊接接頭，其模擬缺陷應(yīng)采用與被檢工件相同焊接方法制備或使用以往檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)4.2.3.3.5模擬缺陷的類型、位置、尺寸和數(shù)量設(shè)置應(yīng)考慮被檢工件中可能存在的缺陷狀態(tài)。對(duì)于焊接接頭，應(yīng)至少包括縱向和橫向缺陷，體積型和面積型缺陷、表面和埋藏缺陷等，缺陷長度一般不大于相應(yīng)承壓設(shè)備合格質(zhì)量等級(jí)所規(guī)定的相同工件厚度的最大允許缺陷尺寸，可由一塊或多塊同厚度范圍的試塊組成。4.2.4耦合劑4.2.4.1耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1鎳基合金上使用的耦合劑含硫量應(yīng)不大于250mg/L。4.2.4.2.2奧氏體型不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素(氯和氟)的總含量應(yīng)不大于250mg/L。4.2.5超聲檢測(cè)設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求4.2.5.1校準(zhǔn)、核查和運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。4.2.5.2校準(zhǔn)或核查4.2.5.2.1應(yīng)至少每年對(duì)超聲檢測(cè)儀和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性、組合頻率、盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測(cè)試要求應(yīng)4.2.5.2.2應(yīng)至少每年對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。4.2.5.2.3應(yīng)至少每5年宜將標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊的同種反射體(面)回波幅度進(jìn)行一次核查，其差值應(yīng)小于或等于2dB。4.2.5.3運(yùn)行核查4.2.5.3.1模擬超聲檢測(cè)儀每3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測(cè)儀每6個(gè)月至少對(duì)儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)符合4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.3.2應(yīng)至少每3個(gè)月對(duì)盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記4.2.5.4.1每次檢測(cè)前應(yīng)檢查超聲檢測(cè)設(shè)備和器材的外觀、線纜連接和開機(jī)信號(hào)顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2使用斜探頭時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定探頭入射點(diǎn)(前沿)和探頭折射角(K值)。4.2.5.5校準(zhǔn)、運(yùn)行核查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、運(yùn)行核查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開關(guān)等)均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平上。64.3檢測(cè)工藝4.3.1檢測(cè)工藝文件4.3.1.1檢測(cè)工藝文件由工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書組成。4.3.1.2工藝規(guī)程4.3.1.2.1工藝規(guī)程應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.3.1.2.2工藝規(guī)程應(yīng)由檢測(cè)機(jī)構(gòu)依據(jù)相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和本文件的規(guī)定等進(jìn)行編制。4.3.1.2.3檢測(cè)機(jī)構(gòu)還應(yīng)依據(jù)本身的特點(diǎn)、技術(shù)能力及資源條件等進(jìn)行工藝規(guī)程編制。4.3.1.2.4當(dāng)工藝規(guī)程依據(jù)的相關(guān)法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)的技術(shù)文件和本文件的規(guī)定有變動(dòng)時(shí)，或者依據(jù)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)的特點(diǎn)和技術(shù)能力及資源條件等有變化時(shí)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)重新編制或修訂工藝4.3.1.2.5工藝規(guī)程應(yīng)規(guī)定表1和相關(guān)章節(jié)及附錄所列相關(guān)因素的適用范圍或要求。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定的范圍或要求時(shí)(表1中第13～第16項(xiàng)除外),檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)重新修訂工藝規(guī)程。序號(hào)相關(guān)因素的內(nèi)容1工件形狀包括規(guī)格、材質(zhì)等2檢測(cè)面(側(cè))的選取3檢測(cè)技術(shù)(直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、直接接觸法、液浸法等)4斜探頭的折射角(K值)及在工件中的波型(橫波、縱波);直探頭或斜探頭標(biāo)稱頻率、晶片尺寸、晶片形狀及晶片數(shù)5檢測(cè)儀器類型6校準(zhǔn)(試塊及校準(zhǔn)方法)7掃查方向及掃查范圍8掃查方式(手動(dòng)或自動(dòng))9結(jié)構(gòu)回波與缺陷信號(hào)的辨別方法缺陷定量及評(píng)定方法掃查覆蓋要求人員資格要求檢測(cè)面或試塊的表面狀況要求耦合劑類型或牌號(hào)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集(使用時(shí))方法；是否需要自動(dòng)報(bào)警和/或自動(dòng)記錄裝置(使用時(shí))檢測(cè)記錄及報(bào)告要求4.3.1.3操作指導(dǎo)書4.3.1.3.1檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程所規(guī)定的相關(guān)因素的具體適用范圍或要求，并結(jié)合被檢工件的具體檢測(cè)要求編制操作指導(dǎo)書。74.3.1.3.2當(dāng)工藝規(guī)程重新編制或修訂時(shí)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)編制新的操作指導(dǎo)書。4.3.1.3.3當(dāng)表1和相關(guān)章節(jié)及附錄所列相關(guān)因素發(fā)生變化時(shí)，盡管此時(shí)的變化(表1中第12~第16項(xiàng)除外)并沒有超出工藝規(guī)程規(guī)定相關(guān)因素的具體適用范圍或要求，檢測(cè)機(jī)構(gòu)也應(yīng)編制新的4.3.1.3.4操作指導(dǎo)書的內(nèi)容應(yīng)符合NB/T47013.1規(guī)定的同時(shí)，還應(yīng)至少包括a)檢測(cè)技術(shù)要求：檢測(cè)技術(shù)(直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、直接接觸法、液浸法等)和檢測(cè)波b)檢測(cè)對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測(cè)對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測(cè)時(shí)機(jī)、檢測(cè)部位、工件表面溫度等。c)檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測(cè)的項(xiàng)d)檢測(cè)工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法和評(píng)定要求等。4.3.1.3.5操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證。4.3.2檢測(cè)工藝技術(shù)要求4.3.2.1檢測(cè)時(shí)機(jī)在承壓設(shè)備的生產(chǎn)和使用過程中，檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、規(guī)程、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件4.3.2.2檢測(cè)技術(shù)等級(jí)4.3.2.2.1鋼制承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)，不劃分技術(shù)等級(jí)。4.3.2.2.2鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A級(jí)、B級(jí)、C級(jí)三個(gè)等級(jí)；若因結(jié)構(gòu)等原因不能完全滿足檢測(cè)技術(shù)等級(jí)要求時(shí)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)應(yīng)采取有效技術(shù)措施并制訂專用操作指導(dǎo)書，按4.3.3進(jìn)行工藝驗(yàn)證。4.3.2.3不同類別檢測(cè)對(duì)象的一般檢測(cè)方式4.3.2.3.1對(duì)于原材料管子的檢測(cè)，一般采用橫波斜入射檢測(cè)；對(duì)于其他原材料及零部件檢測(cè)，一般采用縱波直入射檢測(cè)，必要時(shí)增加橫波或縱波斜入射檢測(cè)。4.3.2.3.2對(duì)于承壓設(shè)備焊接接頭，一般采用橫波斜入射檢測(cè)，檢測(cè)技術(shù)等級(jí)為C級(jí)時(shí)還應(yīng)增加4.3.2.4檢測(cè)面(側(cè))的選取4.3.2.4.1檢測(cè)面(側(cè))的選取應(yīng)綜合考慮被檢工件的結(jié)構(gòu)、制造工藝、缺陷的可能部位和取向以及檢測(cè)實(shí)施的可操作性等因素。4.3.2.4.2對(duì)于焊接接頭檢測(cè)，檢測(cè)面的選取還應(yīng)考慮所采用的檢測(cè)技術(shù)等級(jí)。4.3.2.5耦合劑的選用及工件表面溫度要求實(shí)際檢測(cè)采用的耦合劑應(yīng)與檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)置和校準(zhǔn)時(shí)的耦合劑相同。采用常規(guī)的探頭和耦合劑時(shí)，被檢工件的表面溫度應(yīng)控制在0℃~50℃;若溫度超過50℃或低于0℃,可采用特殊的探頭或耦合劑；檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)置和校準(zhǔn)與實(shí)際檢測(cè)溫度之差應(yīng)控制在15℃之內(nèi)。a)碳素鋼、低合金鋼制原材料或零部件的檢測(cè)；b)碳素鋼、低合金鋼制焊接接頭的檢測(cè)(4.3.3.2規(guī)定的除外)。84.3.3.2以下情況時(shí)，應(yīng)采用專用對(duì)比試塊(此時(shí)試塊應(yīng)按4.2.3.2.5.2c)進(jìn)行制作]或模擬試塊進(jìn)行工藝驗(yàn)證(其中d)項(xiàng)僅能采用模擬試塊進(jìn)行工藝驗(yàn)證],試塊應(yīng)覆蓋工藝規(guī)程中該類對(duì)象范圍，至少包含工件規(guī)格的最小值和最大值，并選用相應(yīng)的試塊進(jìn)行工藝驗(yàn)證。a)中合金鋼、高合金鋼制原材料或零部件母材的檢測(cè)；b)鐵素體型中合金鋼、鐵素體型高合金鋼制焊接接頭的檢測(cè)，其他細(xì)晶各向同性和低聲衰減金屬材料承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測(cè)；c)鐵素體-奧氏體型、奧氏體型鋼制焊接接頭的檢測(cè)，異種鋼焊接接頭的檢測(cè)，奧氏體焊接接頭的檢測(cè)，鎳基合金焊接接頭的檢測(cè)；d)因結(jié)構(gòu)等原因不能完全符合檢測(cè)技術(shù)等級(jí)要求的焊接接頭；e)本文件相關(guān)章節(jié)及附錄明確規(guī)定時(shí)；f)合同技術(shù)要求或相關(guān)方認(rèn)為必要時(shí)。4.3.3.3使用通用對(duì)比試塊進(jìn)行工藝驗(yàn)證時(shí)，驗(yàn)證內(nèi)容應(yīng)包括檢測(cè)聲程范圍內(nèi)靈敏度及靈敏度余量、信噪比等符合檢測(cè)要求。4.3.3.4使用專用對(duì)比試塊或模擬試塊進(jìn)行工藝驗(yàn)證時(shí)：a)驗(yàn)證內(nèi)容應(yīng)包括檢測(cè)聲程范圍內(nèi)靈敏度、信噪比、聲束覆蓋范圍、參考反射體或缺陷的回波或顯示等符合檢測(cè)要求；b)應(yīng)能夠檢測(cè)出試塊中所有設(shè)置的缺陷；c)測(cè)量的缺陷尺寸(指示長度、高度等)應(yīng)不小于缺陷實(shí)際尺寸；d)對(duì)于模擬試塊，應(yīng)能夠確定缺陷類型(體積型、面積型等)。4.3.3.5使用專用對(duì)比試塊或模擬試塊進(jìn)行的工藝驗(yàn)證也可采用超聲仿真的方式替代進(jìn)行，但所采用的仿真技術(shù)應(yīng)經(jīng)技術(shù)驗(yàn)證和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)符合實(shí)際檢測(cè)要求，同時(shí)提供相關(guān)證明文件。4.4安全要求檢測(cè)場(chǎng)所、環(huán)境及安全防護(hù)應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.5檢測(cè)實(shí)施4.5.1檢測(cè)準(zhǔn)備4.5.1.1在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)時(shí)機(jī)及檢測(cè)比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2所確定的檢測(cè)面(側(cè))應(yīng)保證工件的被檢區(qū)域能得到充分檢測(cè)或100%覆蓋。4.5.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格；檢測(cè)面(探頭經(jīng)過的區(qū)域)上所有影響檢測(cè)的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求；表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測(cè)結(jié)果的有效性。4.5.2掃查覆蓋為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的相鄰掃查覆蓋應(yīng)大于探頭晶片直徑或?qū)挾鹊?0%,并符合本文件相應(yīng)章節(jié)及附錄的檢測(cè)覆蓋規(guī)定。4.5.3掃查速度手工掃查速度應(yīng)不超過150mm/s;當(dāng)采用超聲成像技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)或全自動(dòng)掃查時(shí)，掃查速度應(yīng)通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行確定。4.5.4基準(zhǔn)靈敏度的調(diào)整(相對(duì)于參考靈敏度)a)耦合補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)補(bǔ)償由對(duì)比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的9NB/T47013.3—2023b)衰減補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)補(bǔ)償由對(duì)比試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量偏差。c)曲面補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)補(bǔ)償由工件和對(duì)比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失差。4.5.5掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合本文件相關(guān)章節(jié)及附錄的規(guī)定。4.5.6缺陷定量a)應(yīng)按本文件相關(guān)章節(jié)及附錄的規(guī)定進(jìn)行缺陷定量；b)對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，應(yīng)考慮檢測(cè)面曲率、缺陷深度及聲束寬度等對(duì)缺陷長度的影響，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?.5.7儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.5.7.1下列任一情況下應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a)探頭、耦合劑和儀器設(shè)置參數(shù)發(fā)生改變；b)懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化；c)已連續(xù)工作4h以上；d)工作結(jié)束。4.5.7.2掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移量超過掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%(取大值),則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。4.5.7.3參考靈敏度的復(fù)核(基準(zhǔn)靈敏度的復(fù)核)復(fù)核時(shí)，在檢測(cè)范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)參考靈敏度或距離-波幅曲線上任一深度參考反射體回波幅度與校準(zhǔn)時(shí)相比下降超過2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如回波幅度與校準(zhǔn)時(shí)相比上升大于或等于2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。5承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.1范圍本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.2承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)工藝文件原材料或零部件的超聲檢測(cè)工藝文件除應(yīng)符合4.3的規(guī)定外，還應(yīng)包括表2所列的相關(guān)因素。表2原材料或零部件超聲檢測(cè)工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素序號(hào)相關(guān)因素的內(nèi)容1產(chǎn)品型式(板材、管材、鍛件等)2檢測(cè)時(shí)機(jī)(如熱處理前或后)3檢測(cè)范圍4質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)5.3承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.3.1范圍5.3.1.1本條適用于工件厚度大于或等于6mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.3.1.2對(duì)于中合金鋼板材的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊原則上應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法按本條執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.3.1.3對(duì)于高合金鋼(含鐵素體型、鐵素體-奧氏體型、奧氏體型、高錳奧氏體型等)、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金、銅及銅合金等板材的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.3.1.4采用成像技術(shù)的板材超聲檢測(cè)方法見附錄U,質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.3.2檢測(cè)原則5.3.2.1板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.2在檢測(cè)過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，應(yīng)采用斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.3可選板材的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)人員認(rèn)為有必要或技術(shù)條件有要求時(shí)，也可在板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.4檢測(cè)時(shí)，應(yīng)確保板材任一部位的溫度(包括厚度方向)不超過50℃,當(dāng)檢測(cè)溫度高于50℃時(shí)，應(yīng)對(duì)檢測(cè)工藝進(jìn)行驗(yàn)證。5.3.3探頭選用5.3.3.1直探頭5.3.3.1.1直探頭選用一般應(yīng)符合表3的規(guī)定。在滿足本條規(guī)定的靈敏度及缺陷判定的基礎(chǔ)上，也可以選用其他型式的探頭，如多晶直探頭(晶片數(shù)量大于或等于3)。工件厚度t/mm采用探頭標(biāo)稱頻率/MHz探頭晶片尺寸(推薦)雙晶直探頭圓形晶片直徑10mm～30mm方形晶片或單個(gè)方形晶片邊長10mm～30mm單晶直探頭或雙晶直探頭檢測(cè)。規(guī)定。當(dāng)采用液浸法檢測(cè)工件厚度小于或等于20mm的板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行當(dāng)使用雙晶直探頭檢測(cè)工件厚度6mm～20mm的板材時(shí)，探頭性能應(yīng)符合附錄C的當(dāng)使用雙晶直探頭檢測(cè)工件厚度大于20mm的板材時(shí)，應(yīng)選擇合適的聲束會(huì)聚區(qū)深度以完成距離-波幅曲線的制作，或者根據(jù)工件厚度大小選擇不同聲束會(huì)聚區(qū)深度的探頭進(jìn)行厚度分斜探頭的選用應(yīng)符合附錄D的規(guī)定。5.3.4對(duì)比試塊5.3.4.1用雙晶直探頭檢測(cè)工件厚度6mm～20mm的板材時(shí)，可以采用圖1所示的CBI階梯平底試塊。5.3.4.2檢測(cè)工件厚度大于20mm的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對(duì)比試塊參考反射體為φ5mm平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3個(gè)。圖1階梯平底試塊(CBI試塊)表4承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊單位為毫米試塊編號(hào)工件厚度t檢測(cè)面到平底孔的距離S的試塊上的平底孔可加工在不同厚度試塊上；3)工件厚度大于250mm時(shí)，按50mm一檔，每增加一檔，平底孔數(shù)量增加1個(gè)，平底孔深度增加50mm,試塊厚度增加50mm,試塊寬度不再增加，試塊編號(hào)按順序增加；4)根據(jù)需要也可在適當(dāng)深度位置增加反射體；5)公差：孔的直徑，±0.1mm;開孔垂直度，±0.1°;其他尺寸，±0.1mm。圖2板材超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊(CBⅡ系列試塊)5.3.5基準(zhǔn)靈敏度的確定5.3.5.1檢測(cè)工件厚度為6mm～20mm板材時(shí)，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，此時(shí)用與工件等厚部位試塊的第一次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB,并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度；也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時(shí)用被檢板材的第一次底面回波調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB,作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.2檢測(cè)工件厚度大于20mm板材時(shí)，按所用探頭和儀器在辦5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)于因與對(duì)比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補(bǔ)償量超過6dB時(shí)，應(yīng)對(duì)檢測(cè)面進(jìn)行重新處理。5.3.5.3采用單直探頭檢測(cè)時(shí)，如能確定板材底面回波與不同深度φ5mm平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底面回波來調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.4掃查靈敏度應(yīng)至少比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.3.6檢測(cè)5.3.6.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2掃查方式5.3.6.2.1對(duì)于質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)為TI級(jí)和I級(jí)的板材，應(yīng)進(jìn)行100%掃查(掃查覆蓋應(yīng)符合4.5.2的規(guī)定)。5.3.6.2.2對(duì)于其他質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)要求的板材：a)在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)進(jìn)行100%掃查(掃查覆蓋應(yīng)符合4.5.2的規(guī)定),板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)每側(cè)區(qū)域?qū)挾葢?yīng)符合表5的規(guī)定。b)對(duì)于板材中部區(qū)域，可以采用探頭沿垂直于板材壓延方向且間距不大于50mm的平行線掃查方式，或者采用探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線掃查方式，掃查示意圖見圖3;也可以采用100%的掃查方式(掃查覆蓋應(yīng)符合4.5.2的規(guī)定);當(dāng)合同、技術(shù)協(xié)議或設(shè)計(jì)技術(shù)條件中有明確要求時(shí)，也可采用其規(guī)定的掃查形式進(jìn)行檢測(cè)。5.3.6.2.3使用雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的掃查方向應(yīng)與探頭的隔聲層垂直。表5板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)區(qū)域?qū)挾葐挝粸楹撩坠ぜ穸萾區(qū)域?qū)挾?0≤t<1005.3.6.3斜探頭檢測(cè)應(yīng)符合附錄D的規(guī)定。5.3.7缺陷的判定和定量5.3.7.1在基準(zhǔn)靈敏度下，發(fā)現(xiàn)下列2種情況之一即作為缺陷a)缺陷第一次反射波波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶直探頭檢測(cè)板厚小于或等于20mm板材時(shí)，缺陷第一次反射波波幅大丁或等于顯示屏滿刻度的50%;b)用雙晶直探頭檢測(cè)板厚小于或等于20mm板材時(shí)，底面第一次反射波波幅低于顯示屏滿刻度的50%;c)檢測(cè)板厚大于20mm板材時(shí)，底面第一次反射波波幅低于距離-波幅曲線。5.3.7.2缺陷的定量5.3.7.2.1當(dāng)缺陷第一次反射波波幅和底面第一次反射波波幅均符合5.3.7.1的規(guī)定時(shí)，以評(píng)級(jí)較為嚴(yán)重者為準(zhǔn)。5.3.7.2.2使用雙晶直探頭對(duì)工件厚度小于或等于20mm板材進(jìn)行檢測(cè)時(shí)的缺陷定量：a)使用雙晶直探頭對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層垂直；b)確定5.3.7.1a)所述缺陷的邊界時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波幅下降到基準(zhǔn)靈敏度下顯示屏滿刻度的25%,此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；c)確定5.3.7.1b)中缺陷的邊界時(shí)，移動(dòng)探頭使底面第一次反射波上升到基準(zhǔn)靈敏度下顯示屏滿刻度的50%,此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。NB/T47013.3—20235.3.7.2.3使用單晶直探頭或雙晶直探頭對(duì)工件厚度大于20mm板材進(jìn)行檢測(cè)時(shí)的缺陷定量：a)使用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層垂直；b)確定5.3.7.1a)所述缺陷的邊界時(shí)，應(yīng)移動(dòng)探頭使缺陷波幅下降到距離-波幅曲線，此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)，另外還應(yīng)確定缺陷的反射波幅；c)確定5.3.7.1c)中缺陷的邊界范圍時(shí)，應(yīng)移動(dòng)探頭使底面第一次反射波上升到距離-波幅曲線，此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。5.3.8缺陷尺寸的評(píng)定方法5.3.8.1缺陷指示長度的評(píng)定規(guī)則用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍一個(gè)缺陷，其長邊作為該缺陷的指示長度。5.3.8.2單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a)用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍一個(gè)缺陷，矩形框面積則為該缺陷的指示面積即為單個(gè)缺陷指示面積；b)多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，此時(shí)單個(gè)缺陷指示面積為各相鄰缺陷面積之和，缺陷個(gè)數(shù)合并為1個(gè)。5.3.9質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.3.9.1板材中部檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表6的規(guī)定，板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表7的規(guī)定。5.3.9.2當(dāng)判定為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，板材質(zhì)量等級(jí)應(yīng)評(píng)定為IV級(jí)。5.3.9.3在板材中部檢測(cè)區(qū)域，應(yīng)按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測(cè)面積小于1m×1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)應(yīng)按面積比例折算。5.3.9.4在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測(cè)區(qū)域，應(yīng)按最大允許單個(gè)缺陷指示長度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測(cè)長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)；如板材一個(gè)邊緣或一個(gè)剖口預(yù)定線(一側(cè))檢測(cè)長度小于1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)應(yīng)按長度比例折算。等級(jí)最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或平底孔當(dāng)量D在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示面積或平底孔當(dāng)量評(píng)定范圍最大允許個(gè)數(shù)工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:20mm2<S≤50mm2工件厚度t>20mm;D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm;ⅡⅢ超過Ⅲ級(jí)者注：對(duì)5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的質(zhì)量等級(jí)(TI級(jí)和I級(jí))時(shí)按面積進(jìn)行評(píng)定(不考慮工件厚度)。NB/T47013.3—2023表7承壓設(shè)備用板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)超聲檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)最大允許單個(gè)缺陷指示長度最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或平底孔當(dāng)量D在任一1m檢測(cè)長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示長度L或平底孔當(dāng)量評(píng)定范圍最大允許個(gè)數(shù)工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:2工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:3工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm:ⅡS≤1000mm225mm<L≤50mm5Ⅲ6超過Ⅲ級(jí)者注：對(duì)5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的質(zhì)量等級(jí)(TI級(jí)和I級(jí))時(shí)按面積進(jìn)行評(píng)定(不考慮工件厚度)。5.4承壓設(shè)備用復(fù)合鋼板超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.4.1范圍本條適用于基材厚度大于或等于6mm承壓設(shè)備用不銹鋼-鋼、鎳-鋼、鈦-鋼及銅-鋼等復(fù)合鋼板的基材與覆層界面結(jié)合狀態(tài)的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.4.2檢測(cè)原則5.4.2.1復(fù)合鋼板一般選擇從覆材側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，也可選擇從基材側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。5.4.2.2復(fù)合鋼板一般采用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)從覆材側(cè)檢測(cè)時(shí)可選用雙晶直探頭，從基材側(cè)檢測(cè)時(shí)可選用單直探頭。5.4.3探頭選用宜采用2MHz~10MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶片有效直徑宜在ψ10mm~φ25mm5.4.4基準(zhǔn)靈敏度的確定5.4.4.1將探頭置于復(fù)合板完全結(jié)合部位，調(diào)節(jié)第一次底面回波高度為顯示屏滿刻度的80%,以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.4.4.2掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.4.5檢測(cè)5.4.5.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.4.5.2掃查方式a)對(duì)復(fù)合鋼板應(yīng)采用100%的掃查方式進(jìn)行檢測(cè)，掃查覆蓋應(yīng)符合4.5.2的規(guī)定；b)雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層垂直。5.4.6未結(jié)合區(qū)的測(cè)定在基準(zhǔn)靈敏度下，第一次底面回波高度低于顯示屏滿刻度的5%,且明顯有未結(jié)合缺陷回波存在時(shí)(回波高度大于或等于顯示屏滿刻度的5%),該部位則為未結(jié)合缺陷區(qū)。移動(dòng)探頭，使第一次底面回波升高到顯示屏滿刻度的40%,此時(shí)探頭中心點(diǎn)即作為未結(jié)合缺陷區(qū)邊界點(diǎn)。5.4.7未結(jié)合的評(píng)定方法5.4.7.1未結(jié)合指示長度的評(píng)定規(guī)則未結(jié)合邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍該未結(jié)合，長邊作為其指示長度。當(dāng)單個(gè)未結(jié)合的指示長度小于25mm時(shí)，可不作記錄。5.4.7.2單個(gè)未結(jié)合面積的評(píng)定規(guī)則：a)一個(gè)未結(jié)合按其指示的矩形面積作為其單個(gè)未結(jié)合面積；b)多個(gè)未結(jié)合其相鄰間距小于20mm時(shí)，按單個(gè)未結(jié)合處理，其面積為各個(gè)未結(jié)合面積之和。5.4.7.3未結(jié)合率的評(píng)定任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按未結(jié)合區(qū)面積所占百分比來確定。5.4.8質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.4.8.1在復(fù)合鋼板邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)區(qū)域內(nèi)(板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)每側(cè)區(qū)域?qū)挾葢?yīng)符合表5的規(guī)定),未結(jié)合的指示長度大于或等于25mm時(shí)，復(fù)合鋼板的質(zhì)量等級(jí)應(yīng)評(píng)定為IV級(jí)。5.4.8.2復(fù)合鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表8的規(guī)定。表8復(fù)合鋼板超聲檢測(cè)質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)單個(gè)未結(jié)合指示長度/mm單個(gè)未結(jié)合面積/cm2木結(jié)合率/%I000ⅡⅢ大于Ⅲ級(jí)者5.5承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.5.1范圍5.5.1.1本條適用于承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.5.1.2對(duì)于承壓設(shè)備用中合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊原則上應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法按本條的規(guī)定執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.5.1.3對(duì)于承壓設(shè)備用鐵素體型高合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法參照本條的規(guī)定執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合木條的規(guī)定。5.5.1.4承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合附錄E的規(guī)定。5.5.2檢測(cè)原則5.5.2.2鍛件一般應(yīng)使用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加斜探頭檢測(cè)。5.5.2.3檢測(cè)厚度小于或等于45mm時(shí)，應(yīng)采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)厚度大于45mm時(shí)，一般采用單晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.5.2.4當(dāng)鍛件(包括圓柱形鍛件)檢測(cè)方向厚度或長度大于400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行全體積檢測(cè)；當(dāng)鍛件檢測(cè)方向厚度或長度大于800mm時(shí)，可從相對(duì)兩端面進(jìn)行檢測(cè)，兩端檢測(cè)厚度或長度范圍至少應(yīng)重疊10%。如果此時(shí)雙端檢測(cè)仍不能超過厚度或長度的1/2時(shí)，可用斜探頭代替直探頭檢測(cè)直探頭不能檢測(cè)到的部分，在與厚度方向或長度方向垂直的面上進(jìn)行檢測(cè)。注：斜探頭代替直探頭時(shí)的檢測(cè)方法及驗(yàn)收：用規(guī)格和材質(zhì)相同或相近的鍛件，在垂直于厚度方向或長度方向，且離檢測(cè)面合適的深度上加工若干φ2mm長橫孔(盡可能覆蓋檢測(cè)深度范圍),使用探頭折射角為45°左右橫波斜探頭，制作距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度，掃查方式參照附錄E中E.5.3,缺陷定量按E.6,缺陷等級(jí)評(píng)定按E.7,合格等級(jí)為I級(jí)。5.5.3探頭選用5.5.3.1直探頭5.5.3.1.1探頭標(biāo)稱頻率應(yīng)為2MHz～5MHz。5.5.3.1.2雙晶直探頭晶片面積應(yīng)不小于150mm2,單晶直探頭晶片有效直徑應(yīng)為10mm～40mm。5.5.3.2斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄E的規(guī)定進(jìn)行。5.5.4對(duì)比試塊5.5.4.1對(duì)比試塊應(yīng)符合4.2.3.2的規(guī)定。5.5.4.2對(duì)比試塊可用下列材料之一制成：a)被檢材料的多余部分(尺寸足夠時(shí));b)與被檢材料同鋼種、同熱處理狀念的材料；c)與被檢材料具有相同或相似聲學(xué)特性的材料。5.5.4.3單晶直探頭對(duì)比試塊單晶直探頭檢測(cè)采用CS-2試塊調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表9的規(guī)定。如確有需要也可采用其他等效對(duì)比試塊。5.5.4.4雙晶直探頭對(duì)比試塊a)工件檢測(cè)厚度小于或等于45mm時(shí)，應(yīng)采用CS-3對(duì)比試塊；b)CS-3試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表10的規(guī)定。全部63/NB/T47013.3—2023表9CS-2對(duì)比試塊尺寸單位為毫米試塊編號(hào)試塊規(guī)格dD試塊編號(hào)試塊規(guī)格dDCS-2-12CS-2-124CS-2-24CS-2-13200/22CS-2-32CS-2-14200/444CS-2-15250/22CS-2-52CS-2-16250/44CS-2-64CS-2-172CS-2-72CS-2-184CS-2-84CS-2-19400/22400425CS-2-92CS-2-20400/44400425CS-2-104CS-2-212CS-2-112CS-2-224表10CS-3對(duì)比試塊尺寸單位為毫米試塊編號(hào)孔徑檢測(cè)距離L123456789CS-3-125CS-3-245.5.4.5工件檢測(cè)面曲率半徑小于或等于250mm時(shí)，應(yīng)采用曲面對(duì)比試塊(試塊曲率半徑在工件曲率半徑的0.7倍～1.1倍范圍內(nèi))調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，或采用CS-4對(duì)比試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的表面耦合聲能損失，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖6的規(guī)定。根據(jù)需要，也可以使用其他等效試塊。當(dāng)在凹面進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)制作相應(yīng)的凹面對(duì)比試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的表面耦5.5.4.6對(duì)比試塊CS-2、CS-3、CS-4制造要求等應(yīng)符合JB/T8428和GB/T11259的規(guī)定。5.5.5基準(zhǔn)靈敏度5.5.5.1單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度使用CS-2,依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔(至少3個(gè)),制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度；當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長度，且檢測(cè)面與底面平行時(shí)，也可以采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)于因與對(duì)比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補(bǔ)償量超過6dB時(shí)，應(yīng)對(duì)檢測(cè)面進(jìn)行重新處理。5.5.5.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度使用CS-3試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ2mm平底孔(至少3個(gè)),制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)于因與對(duì)比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補(bǔ)償量超過6dB時(shí)，應(yīng)對(duì)檢測(cè)面進(jìn)行重新處理。5.5.5.3掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.5.6檢測(cè)5.5.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.5.6.2工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定a)在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度B;或第n次底面回波幅度B?為滿刻度的50%,記錄此時(shí)儀器增益的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)儀器增益，使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度B?或Bn為滿刻度的50%,兩次增益讀數(shù)之差即為(B?-B?)或(B?-Bm)(取絕對(duì)值，不考慮底面反射損失)。NB/T47013.3—2023b)工件厚度小于3倍探頭近場(chǎng)區(qū)長度(t<3N)時(shí)，衰減系數(shù)(滿足n>3N/t,m>n)按式(1)計(jì)算：α=[(B?-B?)-201g(m/n)]/2(m-n)t (B-Bm)第n次底面回波幅度與第m次底面回波幅度增益的讀數(shù)差值(取絕對(duì)值)c)工件厚度大于或等于3倍探頭近場(chǎng)區(qū)長度(t≥3N)時(shí)，衰減系數(shù)α由式(2)計(jì)算：α=[(B?-B?)-6]/2t (2)(B?-B,)第1次底面回波幅度與第2次底面回波幅度增益的讀數(shù)差值(取絕對(duì)值),單位為分貝(dB).d)工件上3處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。5.5.6.3掃查方式a)一般應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向在檢測(cè)面上作100%掃查(掃查覆蓋應(yīng)符合4.5.2的規(guī)定)主要檢測(cè)方向應(yīng)符合圖7的規(guī)定；b)雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層垂直；c)根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查，如一定間隔的平行線5.5.7缺陷當(dāng)量的確定5.5.7.1當(dāng)被檢缺陷的深度大于或等于所用探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可采用距離-波幅曲線法或計(jì)算法確定缺陷的當(dāng)量；對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，應(yīng)采用距離-波幅曲線法來確定缺陷的當(dāng)量；也可※圖7鍛件直探頭檢測(cè)時(shí)的主要檢測(cè)方向(續(xù))5.5.7.2當(dāng)采用計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m,應(yīng)進(jìn)行修正。5.5.7.3當(dāng)采用距離-波幅曲線束確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若對(duì)比試塊與工件材質(zhì)衰減系數(shù)差值超過4dB/m,應(yīng)進(jìn)行修正。5.5.8.1當(dāng)判定為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，鍛件質(zhì)量等級(jí)應(yīng)評(píng)定為V級(jí)。5.5.8.2缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表11的規(guī)定。表11鍛件超聲檢測(cè)缺陷質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)IⅡⅢV單個(gè)缺陷平底孔當(dāng)量由缺陷引起的底波降低量密集區(qū)缺陷當(dāng)量密集區(qū)缺陷面積占檢測(cè)總面積的百分比/%0注1:由缺陷引起的底波降低量僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長度的缺陷。注2:表中不同種類的缺陷分級(jí)應(yīng)獨(dú)立使用。注3:密集區(qū)缺陷面積指反射波幅大于或等于φ2平底孔當(dāng)量的密集區(qū)缺陷。NB/T47013.3—20235.6承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.6.1范圍5.6.1.1本條適用于直徑大于或等于M36承壓設(shè)備用碳素鋼和低合金鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.6.1.2高合金鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.6.2檢測(cè)原則檢測(cè)一般應(yīng)安排在熱處理后進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度Ra應(yīng)小于或等于6.3μm。5.6.3探頭選用采用2MHz～10MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。5.6.4對(duì)比試塊5.6.4.1單晶直探頭檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.3的規(guī)定。5.6.4.2雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.5.4.4的規(guī)定。5.6.4.3徑向檢測(cè)時(shí)，應(yīng)盡可能選擇晶片尺寸較小的探頭；當(dāng)螺栓坯件曲率半徑小于100mm時(shí)，應(yīng)采用圖8和表12所示曲面對(duì)比試塊的形狀和尺寸。單位為毫米試塊編號(hào)對(duì)比試塊半RABCDE適用工件曲率半徑范圍484822≤r<294829≤r<36636≤r<43843≤r<5454≤r<6767≤r<8282≤r≤995.6.5基準(zhǔn)靈敏度的確定5.6.5.1單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定a)軸向檢測(cè)時(shí)、使用CS-2試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍依次測(cè)試1組不同深度的φ2mm平底孔(至少3個(gè)),制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度；b)徑向檢測(cè)時(shí)，使用CS-2試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍或曲率半徑依次測(cè)試1組不同深度的φ2mm平底孔，制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.6.5.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定a)軸向檢測(cè)時(shí)，使用CS-3試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍依次測(cè)試1組不同深度的φ2mm平底孔(至少3個(gè)),制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度；b)徑向檢測(cè)時(shí)，使用CS-3試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測(cè)范圍或曲率半徑依次測(cè)試一組不同深度的φ2mm平底孔，制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.6.5.3掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.6.6檢測(cè)5.6.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.6.6.2掃查方式5.6.6.2.1徑向檢測(cè)應(yīng)按螺旋線或沿圓周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個(gè)圓柱表面。5.6.6.2.2軸向檢測(cè)一般應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃查，盡可能避免邊緣效應(yīng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。當(dāng)螺栓較長或受到邊緣效應(yīng)影響時(shí)，可從相對(duì)兩端面進(jìn)行軸向檢測(cè)，兩端面的檢測(cè)長度范圍至少應(yīng)重疊10%,如果此時(shí)兩端面檢測(cè)仍不能超過長度的1/2時(shí)，可用斜探頭替代直探頭檢測(cè)直探頭不能檢測(cè)到的部分。注：斜探頭代替直探頭時(shí)的檢測(cè)方法及驗(yàn)收用規(guī)格和材質(zhì)相同或相近的螺栓，在圓周方向，且離檢測(cè)面合適的深度上加工若干φ2mm長橫孔(盡可能覆蓋檢測(cè)深度范圍),使用探頭折射角為45°左右橫波斜探頭，制作距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度；掃查時(shí)，移動(dòng)探頭使聲束沿軸向作兩個(gè)相對(duì)方向進(jìn)行100%檢測(cè)，相鄰掃查路徑應(yīng)確保相互覆蓋，掃查覆蓋率至少應(yīng)為探頭晶片寬度的10%。當(dāng)缺陷波幅高于或等于距離-波幅曲線時(shí)，或判定為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，螺栓坯件的質(zhì)量等級(jí)即為V級(jí)。5.6.7缺陷當(dāng)量的確定一般采用距離-波幅曲線進(jìn)行缺陷當(dāng)量的確定。5.6.8質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.6.8.1單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表13的規(guī)定。5.6.8.2由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表14的規(guī)定。5.6.8.3按表13和表14評(píng)定缺陷等級(jí)時(shí)，應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。5.6.8.4當(dāng)判定為白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷時(shí)，螺栓坯件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí)。表13單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)IⅡⅢV平底孔當(dāng)量NB/T47013.3—2023單位為分貝等級(jí)[ⅡⅢV由缺陷引起的底波降低量(Bc/BF)注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長度的缺陷。5.7.1范圍5.7.3.2直探頭的晶片直徑為10mm～40mm,斜探頭的晶片面積為300mm2~625mm2。5.7.4.4試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖9和表15的規(guī)定。表15奧氏體鋼型鍛件試塊尺寸單位為毫米LDLDLDLD———— —— —— ———————-一——5.7.4.5在條件允許時(shí)，可在鍛件有代表性的部位加工1個(gè)或幾個(gè)話當(dāng)大小的平底孔或v形槽.代替對(duì)比試塊進(jìn)行靈敏度的校準(zhǔn)。5.7.5基準(zhǔn)靈敏度的確定5.7.5.1當(dāng)被檢鍛件厚度小于或等于600mm時(shí)，應(yīng)根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級(jí)，在適當(dāng)厚度和當(dāng)量直徑的平底孔試塊上制作距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.7.5.2當(dāng)被檢鍛件厚度大于600mm時(shí)，應(yīng)在鍛件無缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%,以此作為基準(zhǔn)靈敏度。如檢測(cè)面與底面反射面不平行，也可用φ13mm平底孔試塊制作距離-波幅曲線，并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.7.5.3掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。5.7.6檢測(cè)5.7.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.7.6.2直探頭檢測(cè)5.7.6.2.1鍛件所有被檢區(qū)域，均應(yīng)盡可能從2個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)距離應(yīng)至少為厚度的1/2。5.7.6.2.2檢測(cè)盤形或餅形鍛件時(shí)，采用直探頭至少從一個(gè)平面進(jìn)行檢測(cè)，如有可能還應(yīng)從圓周面進(jìn)行掃查。5.7.6.2.3檢測(cè)圓柱形鍛件時(shí)，可從整個(gè)外表面(側(cè)面和圓周面)用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)長度與直徑之比超過6或軸向長度超過600mm時(shí)，應(yīng)從2個(gè)端面以盡可能大的范圍用直探頭作軸向檢測(cè)，當(dāng)衰減等原因使雙端檢測(cè)不能超過軸向長度的1/2時(shí)，可用斜探頭代替直探頭對(duì)直探頭不能檢測(cè)到的部分進(jìn)行軸向檢測(cè)。注：斜探頭代替直探頭時(shí)的檢測(cè)方法用外徑相同且材質(zhì)一致的圓柱形鍛件，在周向加工1個(gè)60°V形槽，V形槽長度為30mm,深度為圓柱形鍛件直徑(最終成型)的3%(最大為3mm),使用探頭折射角為45°左右橫NB/T47013.3—2023波探頭，當(dāng)橫波斜探頭不能滿足檢測(cè)要求時(shí)，可選用縱波斜探頭；用半跨距法獲得V形槽的反射波幅不低于顯示屏滿刻度的20%,并以此作為基準(zhǔn)靈敏度，檢測(cè)結(jié)果按表17進(jìn)行驗(yàn)收。5.7.6.3斜探頭檢測(cè)奧氏體型不銹鋼環(huán)形鍛件和筒形鍛件斜探頭檢測(cè)方法應(yīng)按附錄F的規(guī)定。5.7.7缺陷記錄5.7.7.1由于缺陷的存在，而使基準(zhǔn)靈敏度下的底波降到滿刻度25%以下的部位。5.7.7.2缺陷波幅在距離-波幅曲線以上的部位。5.7.8質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.7.8.1單晶直探頭或雙晶直探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表16的規(guī)定。5.7.8.2斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合表17的規(guī)定。5.7.8.3在具體進(jìn)行質(zhì)量等級(jí)評(píng)定時(shí)，表16和表17應(yīng)獨(dú)立使用。表16直探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定單位為毫米工件厚度t80<t≤200200<t≤300300<t≤600質(zhì)量等級(jí)IⅡIⅡIⅡIⅡIⅡ缺陷平底孔當(dāng)量直徑或因缺陷引起底波降低后的幅度表17斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定等級(jí)IⅡ缺陷波幅缺陷波幅低于V形槽試塊距離-波幅曲線[V形槽深為工件公稱壁厚的3%(最大為3mm)]缺陷波幅大于或等于V形槽試塊距離-波幅曲線[V形槽深為工件公稱壁厚的3%(最大為3mm)]5.8承壓設(shè)備用無縫鋼管超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定5.8.1范圍5.8.1.1本條適用于外徑不小于12mm承壓設(shè)備用碳素鋼、低合金鋼無縫鋼管超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定。5.8.1.2對(duì)于承壓設(shè)備用中合金鋼無縫鋼管的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法按本條執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.8.1.3對(duì)于承壓設(shè)備用高合金鋼無縫鋼管的超聲檢測(cè)，對(duì)比試塊應(yīng)采用相應(yīng)材質(zhì)的專用對(duì)比試塊，檢測(cè)方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量等級(jí)評(píng)定應(yīng)符合本條的規(guī)定。5.8.1.4本條不適用于分層類缺陷的超聲檢測(cè)。5.8.2檢測(cè)原則除非要求檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，一般可只對(duì)縱向缺陷進(jìn)行檢測(cè)。5.8.3檢測(cè)設(shè)備5.8.3.1檢測(cè)設(shè)備應(yīng)由超聲檢測(cè)儀器、探頭、檢測(cè)裝置、機(jī)械傳動(dòng)裝置、分選裝置及其他輔助裝置等組成。5.8.3.2檢測(cè)時(shí)可使用線聚焦或點(diǎn)聚焦探頭，單個(gè)探頭壓電晶片邊長或直徑應(yīng)不大于25mm。5.8.3.3檢測(cè)裝置檢測(cè)裝置應(yīng)具有探頭相對(duì)鋼管位置的高精度調(diào)整機(jī)構(gòu)并能可靠地鎖緊或能實(shí)現(xiàn)良好的機(jī)械跟蹤，以保證動(dòng)態(tài)下聲束對(duì)鋼管的入射條件不變。5.8.3.4傳動(dòng)裝置傳動(dòng)裝置應(yīng)能使鋼管以均勻的速度通過檢測(cè)裝置并能保證在檢測(cè)中鋼管與檢側(cè)裝置具有良好的同心度。5.8.3.5分選裝置分選裝置應(yīng)能可靠地分開檢測(cè)合格與不合格的鋼管。5.8.4專用對(duì)比試塊5.8.4.1試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同、材質(zhì)、熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼管制備，試塊的長度應(yīng)滿足檢測(cè)方法和檢測(cè)設(shè)備要求。5.8.4.2參考反射體5.8.4.2.1參考反射休形狀檢測(cè)縱向缺陷和橫向缺陷所用的參考反射體應(yīng)分別為平行于管軸的縱向槽和垂直于管軸的橫向槽，其斷面形狀均可為矩形或V形，參考反射體示意圖見圖10,矩形槽的2個(gè)側(cè)面應(yīng)相互平行且垂直于槽的底面；當(dāng)采用電蝕法加工時(shí)，允許槽的底面和底面角部略呈圓形，V形槽的夾角應(yīng)為60°。檢測(cè)時(shí)參考反射體形狀的選用由供需雙方商定。全部矩形槽V形槽a)橫向參考反射體試塊(CG-C試塊)示意圖圖10參考反射體試塊(CG試塊)示意圖全部V形槽b)縱向參考反射體試塊(CG-L試塊)示意圖圖10參考反射體試塊(CG試塊)示意圖(續(xù))5.8.4.2.2參考反射體位置a)縱向槽應(yīng)在對(duì)比試塊的中部外表面和端部區(qū)域內(nèi)、外表面處各加工1個(gè)，3個(gè)槽的公稱尺寸相同，當(dāng)鋼管內(nèi)徑小于25mm時(shí)可不加工內(nèi)壁縱向槽。橫向槽應(yīng)在試樣的中部外表面和端部區(qū)域內(nèi)、外表面處各加工1個(gè)，3個(gè)槽的名義尺寸相同，當(dāng)內(nèi)徑小于50mm時(shí)可不加工內(nèi)壁橫向槽。b)當(dāng)工件厚度與外徑之比大于或等于0.2時(shí)，試塊上規(guī)定的內(nèi)外壁槽均應(yīng)加工制作。5.8.4.2.3參考反射體尺寸參考反射體的尺寸按表18分為3級(jí)，具體級(jí)別的選擇按有關(guān)鋼管產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行。表18參考反射體尺寸單位為毫米級(jí)別深度壁厚比最小深度深度允許相對(duì)偏差/%寬度b長度縱向橫向I5不大于深度的2倍，最大為1.540或周長的50%(取小者)Ⅱ8Ⅲ注：參考反射體最大深度為3.0。5.8.4.2.4制作與測(cè)量參考反射體可采用電蝕、機(jī)械或其他方法加工，對(duì)比試樣上應(yīng)有明顯的標(biāo)識(shí)或編號(hào)，參考反射體深度可用光學(xué)方法、覆形方法或其他方法測(cè)量。5.8.5基準(zhǔn)靈敏度的確定5.8.5.1直接接觸法5.8.5.1.1直接接觸法檢測(cè)橫向缺陷使用橫波斜探頭將對(duì)比試塊上內(nèi)、外壁參考反射體回波調(diào)整至合適高度，用直線連接參考反射體回波高點(diǎn)，該連線及連線范圍在考慮相關(guān)補(bǔ)償后即作為基準(zhǔn)靈敏度。由于管徑的原因，對(duì)比試塊上無內(nèi)壁參考反射體時(shí)，可用外壁參考反射體的一次反射回波和二次反射回波制作距離-波幅曲線(DAC)。5.8.5.1.2直接接觸法檢測(cè)縱向缺陷a)對(duì)于內(nèi)外徑之比大于或等于60%(工件厚度與外徑比小于或等于0.2)的鋼管檢測(cè)，使用橫波斜探頭將對(duì)比試塊上內(nèi)、外壁參考反射體回波調(diào)整至合適高度，用直線連接參考反射體回波高點(diǎn)，該連線及連線范圍在考慮相關(guān)補(bǔ)償后即作為基準(zhǔn)靈敏度。由于管徑的原因，對(duì)比試塊上無內(nèi)壁參考反射體時(shí)，可用外壁參考反射體的一次反射回波和二次反射回波制作距離-波幅曲線(DAC),并在考慮相關(guān)補(bǔ)償后作為基準(zhǔn)b)對(duì)于內(nèi)外徑之比小于60%(工件厚度與外徑比大于0.2)的鋼管檢測(cè)，使用橫波斜探頭并利用對(duì)比試塊上外壁參考反射體進(jìn)行校準(zhǔn)，即以該參考反射體的回波波高在考慮相關(guān)補(bǔ)償后作為基準(zhǔn)靈敏度，用于檢測(cè)外壁缺陷；同時(shí)使用縱波斜探頭并利用對(duì)比試塊上內(nèi)壁參考反射體進(jìn)行校準(zhǔn)，即以該參考反射體的回波波高(如顯示屏滿刻度的80%)在考慮相關(guān)補(bǔ)償后作為基準(zhǔn)靈敏度，用于檢測(cè)內(nèi)壁缺陷。5.8.5.2液浸法5.8.5.2.1對(duì)內(nèi)外徑之比大于或等于60%(工件厚度與外徑比小于或等于0.2)的鋼管檢測(cè)a)水層距離應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況(如聚焦探頭的焦距)來確定。試塊內(nèi)、外表面參考反射體所產(chǎn)生的回波幅度，使其達(dá)到合適的高度，并在考慮相關(guān)補(bǔ)c)當(dāng)內(nèi)、外壁參考反射體信號(hào)使用同一個(gè)報(bào)警閘門時(shí)，此時(shí)應(yīng)盡可能使對(duì)比試塊內(nèi)、外表面參考反射體所產(chǎn)生的回波幅度相同，檢測(cè)儀的報(bào)警靈敏度應(yīng)按照內(nèi)、外壁的信號(hào)中以及周向不同位置的信號(hào)中較低幅度的信號(hào)進(jìn)行設(shè)定。當(dāng)內(nèi)、外壁參考反射體信號(hào)使用2個(gè)不同的報(bào)警閘門時(shí)，檢測(cè)儀的報(bào)警靈敏度應(yīng)按照內(nèi)、外壁參考反射體在周向不同位置中較低幅度的信號(hào)分別進(jìn)行設(shè)定。同時(shí)，2個(gè)閘門的寬度應(yīng)滿足管壁內(nèi)各部