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1、實用動力(上海)有限公司閔行基地金屬材料試樣制作規(guī)范 版 本: 修訂次: 狀 態(tài):分發(fā)號:批 準審 核編 制 文 件 修 改 履 歷 表NO修 訂 內(nèi) 容日 期版次頁 數(shù)文件審批、修改通知記錄表編號1新 訂 A/092修 訂 B/09一. 金屬材料拉伸試驗試樣制作規(guī)范金屬材料在做拉伸試驗之前首先要制作符合試驗要求的拉伸試樣。試樣的形狀與尺寸取決于要試驗的金屬產(chǎn)品的形狀與尺寸。通常從該產(chǎn)品、壓制坯或鑄錠切取樣坯,經(jīng)機加工制成試樣。但具有恒定截面的產(chǎn)品(型材、棒材、線材等)和鑄造試樣(鑄鐵和鑄造非鐵合金)可以不經(jīng)機加工而進行拉伸試驗。 試樣的橫截面可以為圓形、矩形、多邊形、環(huán)形,特殊情況下可以為某

2、些其它形狀。(一.)機加工的試樣如果試樣的夾持端與平行長度的尺寸不相同,它們之間應以過渡圓弧連接。此圓弧的半徑尺寸有可能很重要,因此必須按規(guī)定做。試樣夾持端的形狀應適應試驗機的夾頭。試樣的軸線應與力的作用線重合。(二.)不經(jīng)機加工的試樣如試樣為未經(jīng)機加工的產(chǎn)品或試棒的一段長度,兩端夾頭間的長度應足夠,以使原始標距的標記與夾頭有合理的距離。鑄造試樣應在其夾持端和平行長度之間以過渡圓弧連接。此圓弧的半徑可能很重要,因此必須按規(guī)定做。(三.)試樣的類型產(chǎn) 品 類 型簿板-板材 線材 棒材 型材 試棒尺寸見相應的附圖0.1mm厚度3mmA厚度3mm直徑或厚度4mmB直徑或厚度4mmmC管 材D(四.)

3、圖中的符號說明符號單位說明amm矩形橫截面試樣厚度或管壁厚度bmm矩形橫截面試樣平行長度的寬度或管的縱向剖條寬或扁絲寬度dmm圓形橫截面試樣平行長度的直徑或圓絲直徑rmm過渡圓弧半徑Amm夾持頭的邊長Dmm管子外徑Lomm原始標距 Lcmm平行長度Ltmm試樣總長度 Somm2原始截面積mm圓形試樣的夾持頭直徑 (五.)試樣的尺寸A厚度0.1mm3mm的薄板試樣的尺寸1. 矩形橫截面比例試樣(圖A)扁形原始橫截面積計算公式: So=aba. 比例試樣b非比例試樣B厚度3mm板材和扁材以及直徑或厚度4mm的線材、棒材、和型材試樣的尺寸1. 圓形橫截面比例試樣(圖B1)圓形原始橫截面積計算公式:S

4、o=1/4d 2 a. 比例試樣dLtrk=5.65k=11.3LoLc試樣編號LoLc試樣編號2535LtLc+4d0.75d5dLo+d/2R110dLo+d/2R012030R2R021525R3R031020R4R04816R5R05612R6R06510R7R0738R8R081. 一般無明確規(guī)定,優(yōu)先采用R2、R4或R7試樣。2. 通常采用比例系數(shù)K=5.56 一欄,但如果需要也可以采用k=11.3 一欄。 3. AIC 的試驗機夾持直徑20mm。4. 原始標距Lo應為5mm的倍數(shù),中間數(shù)值向較大的一方修正,Lo的刻線精度為±0.01mm。 b非比例試樣 非比例試樣的原始

5、標距(Lo)與原始面積(So)無固定關系,如相關產(chǎn)品的標準規(guī)定,可以使用其它非比例試樣尺寸。2. 矩形橫截面比例試樣(圖B2)a. 比例試樣b非比例試樣C直徑或厚度4mm線材、棒材和型材試樣的尺寸 試樣通常為產(chǎn)品的一部分,不經(jīng)機加工(如下圖)。 (圖C)a非比例試樣d 或aLoLcLt試樣編號4100150Lc+20R9200250R10注:如小直徑線材在兩夾頭間的自由長度可以等于Lo。如不測定斷后伸長率,兩夾頭間的自由長度可以為50mm。D管材試樣的尺寸管段試樣應在其兩端加以塞頭,塞頭至最近的標距標記的距離不應小于D/4。(圖D1)LoLcLt試樣編號5.65SoLo+D/2Lc+100S1

6、50100S2允許壓扁管段試樣的兩夾持頭部(圖D2)。(圖D2)管段原始橫截面積計算公式:So=a(D-d)注意:1. AIC的拉伸試驗機的最大拉力為100kN80%.為此在制作試樣時要考慮試樣的最大直徑能確保被拉斷。2. 由于AIC的拉伸試驗機的夾持力偏小,在做拉伸試驗試試棒會打滑。因此,我們要求在制作試棒時兩端的夾持部分要相對加長,A40mm 。二.光譜分析試樣的制作規(guī)范AIC光譜分析的材料試樣一般都由供應商提供。供應商在制作試樣時應注意以下事項:1. 試樣的材料必需是制作工件的同一種且同一批的材料。用不同的材料檢測的結果是不一樣的,不能真實地反映工件的化學成份。2. 試樣的形狀和尺寸如下: 標記(材料牌號)30mmh 0.5mm 3. 在加工不同金屬(鐵、銅、鋁)的試樣時,不能用同一把車刀車削,必需分別用規(guī)定的刀具車削。試樣表面不能沾有其他材料的分子,以免造成光譜分析的結果

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