電氣間隙和爬電距離測量、耐受特性、直流局部放電試驗方法、補充資料、正極性重復方波下局部放電試驗

1、T/CEC XXXXXXXX附錄A（資料性附錄）電氣間隙和爬電距離的測量以下示例中指定的尺寸 X 具有取決于污染程度的最小值，如果相關間隙小于 3 mm，則最小尺寸 X 可減小到該間隙的三分之一，具體如表A.1所示.表A.1 不同污染等級下的最小尺寸污染度X 尺寸最小值10.25 毫米21.0 毫米31.5 毫米爬電距離和電氣間隙的測量方法如下所示：示例 1 至 11。這些情況不區(qū)分間隙和凹槽或絕緣類型。做出以下假設：任何凹槽都假定用長度等于規(guī)定寬度 X 并放置在最不利位置的絕緣連接橋接（見示例 3）；當凹槽的距離等于或大于規(guī)定的寬度 X 時，爬電距離沿凹槽的輪廓測量（見示例 2）； 當這些部

2、件處于最不利的位置時，測量可以相對于彼此處于不同位置的部件之間測量的爬電距離和電氣間隙。表 A.2電氣間隙和爬電距離的測量方法沿面路徑條件規(guī)則路徑包括寬度小于 X mm 的任意深度的平行或會聚側面凹槽。如圖所示，爬電距離和間隙直接跨過凹槽測量。路徑包括任意深度且等于或大于 X mm 的平行邊槽。間隙是“視線”距離。 爬電路徑遵循凹槽的輪廓。路徑包括寬度大于 X mm 的 V 形凹槽。間隙是“視線”距離。 爬電路徑遵循凹槽的輪廓，但通過 X mm 鏈接將凹槽底部“短路”。考慮中的路徑包括一個肋。間隙是肋頂部上方最短的直接空氣路徑。 爬電路徑遵循肋的輪廓。正在考慮的路徑包括一個未粘合的接頭，每側都

3、有小于 X 毫米寬的凹槽。爬電距離和間隙路徑是顯示的“視線”距離。路徑包括一個未粘合的接頭，其每側有等于或大于 X 毫米寬的凹槽。間隙是“視線”距離。 爬電路徑遵循凹槽的輪廓路徑包括一個未粘合的接頭，其一側的凹槽小于 X 毫米寬，而另一側的凹槽等于或大于 X 毫米寬。間隙和爬電路徑區(qū)域如圖所示。表 A.2 （續(xù)）沿面路徑條件規(guī)則通過未粘合接頭的爬電距離小于通過屏障的爬電距離間隙是屏障頂部上方最短的直接空氣路徑。螺釘頭和凹槽壁之間的間隙足夠?qū)挕ｉg隙和爬電路徑區(qū)域如圖所示。螺釘頭和凹槽壁之間的間隙太窄。當距離等于 X mm 時，爬電距離的測量是從螺釘?shù)綁Ρ?。中間有個導電部分 C。電氣間隙=爬電距離

4、= d + D。附錄B（規(guī)范性附錄）表 B.1 耐受瞬時過電壓的電氣間隙要求的沖擊耐受電壓1）3）/kV大氣中海拔從海平面至2000m的最小電氣間隙情況A非均勻電場（見3.15）情況B均勻電場（見3.14）污染等級4）污染等級4）1mm2mm3mm1mm2mm3mm0.330.010.22)0.82)0.010.22)0.82)0.400.020.020.500.040.040.600.060.060.800.100.101.00.150.151.20.250.250.21.50.50.50.30.32.01.01.01.00.450.452.51.51.51.50.600.603.02.02

5、.02.00.800.804.03.03.03.01.21.21.25.04.04.04.01.51.51.56.05.55.55.52.02.02.08.08.08.08.03.03.03.010.01111113.53.53.5121414144.54.54.5151818185.55.55.5202525258.08.08.0253333331010103040404012.512.512.540606060171717507575752222226090909027272780130130130353535100170170170454545表B.1 （續(xù)）1）此電壓對功能絕緣而言是預

6、期發(fā)生在跨電氣間隙兩端的最大沖擊電壓；對其他基本絕緣而言是指電路中可能發(fā)生的最大沖擊電壓。2）表中給出的污染等級 2 和 3 的最小電氣間除是在潮濕條件下（見IEC 60664-5）相關爬電距離耐受特性降低的基礎上提出的。3）對有沖擊電壓要求的 IGBT器件，允許采用插值法。4）除了最小電氣間隙為 1.6 mm 外，污染等級 4 的電氣間期同污染等級 3。表 B.2 耐受穩(wěn)態(tài)電壓、暫時過電壓或再現(xiàn)峰值電壓的電氣間隙的確定和其附加資料表 B.2a 耐受穩(wěn)態(tài)電壓、暫時過電壓或再現(xiàn)峰值電壓的電氣間隙的確定電壓1）（峰值）/ kV大氣中海拔從海平面至2 000 m的最小電氣間隙情況A非均勻電場條件（見

7、3.15）/ mm情況B均勻電場條件（見3.14）/ mm0.040.0012）0.0012）0.060.0022）0.0022）0.10.0032）0.0032）0.120.0042）0.0042）0.150.0052）0.0052）0.200.0062）0.0062）0.250.0082）0.0082）0.330.010.010.40.020.020.50.040.040.60.060.060.80.130.11.00.260.151.20.420.21.50.760.32.01.270.452.51.80.63.02.40.84.03.81.25.05.71.56.07.928.011.

8、031015.23.512194.515255.520348254410305512.5407717501002260278035表B.2a（續(xù)）100451)其他電壓的電氣間隙值可采用插值法獲得。2)這些值根據(jù)大氣壓下的實驗數(shù)據(jù)得出。表B.2b 避免局部放電的電氣間隙的確定的附加資料電壓1）（峰值）/kV大氣中海拔從海平面至2 000 m的最小電氣間隙情況A非均勻電場條件（見3.15）/mm0.04同表B.2a中情況A的規(guī)定0.060.10.120.150.200.250.330.40.50.60.81.01.21.52.02.52.03.03.24.0115.0246.0648.01841

9、029012320152）20253040506080表B.2b（續(xù)）1001)其他電壓的電氣間隙值可采用插值法獲得。2)非均勻電場條件下確定電氣間隙不可能沒局部放電現(xiàn)象。注：如果電氣間隙受到穩(wěn)態(tài)電壓 2.5 kV （峰值）及以上的電壓作用，依據(jù)表 B.2a 中擊穿值確定的尺寸可能不能提供沒有電暈放電（局部放電）的操作，特別是在非均勻電場中。為了提供無電暈放電操作，采用表 B.2b 中給出的較大電氣間隙或改善電場分布是很有必要的。表 B.3 海拔修正系數(shù)海拔/m正常氣壓/kPa電氣間隙的倍增系數(shù)2 0008013 000701.144 000621.295 000541.486 000471.

10、77 000411.958 00035.52.259 00030.52.6210 00026.53.0215 000126.6720 0005.514.5表 B.4 避免由于電痕化故障的爬電距離電壓有效值1）/V最小爬電距離印制線路材料污染等級12123所有材料組別/mm所有材料組別除b/mm所有材料組別/mm材料組別材料組別mmmmmmmmmmmm100.0250.0400.0800.4000.4000.4001.0001.0001.00012.50.0250.0400.0900.4200.4200.4201.0501.0501.050160.0250.0400.1000.4500.4500

11、.4501.1001.1001.100200.0250.0400.1100.4800.4800.4801.2001.2001.200250.0250.0400.1250.5000.5000.5001.2501.2501.250320.0250.0400.140.530.530.531.301.301.30400.0250.0400.160.560.801.101.401.601.80500.0250.0400.180.600.851.201.501.701.90630.040.0630.200.630.901.251.601.802.00800.0630.1000.220.670.951.30

12、1.701.902.101000.1000.1600.250.711.001.401.802.002.201250.1600.2500.280.751.051.501.902.102.401600.2500.4000.320.801.101.602.002.202.502000.4000.6300.421.001.402.002.502.803.202500.5601.0000.561.251.802.503.203.604.003200.7501.600.751.62.203.204.004.505.004001.02.01.02.02.84.05.05.66.35001.32.51.32.

13、53.65.06.37.18.0(7.9)4)6301.83.21.83.24.56.38.0(7.9)4)9.0(8.4)4)10.0(9.0)4)8002.44.02.44.05.68.010.0(9.0)4)11.0(9.6)4)12.5(10.2)4)1 0003.25.03.25.07.110.012.5 (10.2)4)14.0 (11.2)4）16.0(12.8)4）1 2504.26.39.012.516.0(12.8)4）18.0(14.4)4）20.0(16.0)4）1 6005.68.011.016.020.0(16.0)4）22.0(17.6)4）25.0(20.0)4

14、）表 B.4（續(xù)）電壓有效值1）/V最小爬電距離污染等級12123所有材料組別/mm所有材料組別除b/mm所有材料組別/mm材料組別材料組別mmmmmmmmmmmm2 50010.012.518.025.032.0(25.6)4）36.0(28.8)4）40.0(32.0)4）3 20012.516.022.032.040.0(32.0)4）45.0(36.0)4）50.0(40.0)4)4 00016.020.028.040.050.0(40.0)4）56.0(44.8)4）63.0(50.4)4）5 00020.025.036.050.063.0(50.4)4）71.0(56.8)4）80

15、.0(64.0)4）6 30025.032.045.063.080.0(64.0)4）90.0(72.2)4）100.0(80.0)4）8 00032.040.056.080.0100.0(80.0)4）110.0(88.0)4）125.0(100.0)4）10 00040.050.071.0100.0125.0(100.0)4）140.0(112.0)4）160.0(128.0)4）12 50050.03）63.03）90.03）125.03）16 00063.03）80.03)110.03）160.03）20 00080.03）100.03）140.03）200.03）25 000100.

16、03）125.03)180.03）250.03)32 000125.03）160.03）220.03）320.03）40 000160.03）200.03）280.03）400.03）50 000200.03）250.03）360.03）500.03）63 000250.03）320.03）450.03）600.03）1）此電壓對功能絕緣是工作電壓：對非直接由電網(wǎng)供電的系統(tǒng)，設備和內(nèi)部電路的基本絕緣和附加絕緣是在設備額定值范圍內(nèi)運行條件的最繁重的組合情況下和外施額定電壓時可能發(fā)生在系統(tǒng)、設備或內(nèi)部電路中的最高有效值電壓。2）材料組別II b不推薦用于污染等級3、電壓超過 630 V。3）基于外

17、推法獲得的臨時數(shù)據(jù)，各產(chǎn)品標準技術委員會如果有其他的經(jīng)驗數(shù)據(jù)也可用其自己的數(shù)據(jù)。4）括號中的值適合使用筋時減小的爬電距離。表 B.5 不同海拔處驗證電氣間隙的試驗電壓額定沖擊電壓/kV在海平面的沖擊試驗電壓/kV在海拔200m處的沖擊試驗電壓/kV在海拔500m處的沖擊試驗電壓/kV0.330.3570.3550.3500.50.5410.5370.5310.80.9340.9200.8991.51.7511.7251.6852.52.9202.8742.8084.04.9234.8244.6756.07.3857.2367.0138.09.8479.6489.35012.014.77014.

18、47114.025注 1：關于電氣間隙的電氣強度的影響因素（氣壓、海拔、溫度、濕度）的有關說明見7.2.2.2。注 2：電氣間隙試驗時，相關的固體絕緣會承受試驗電壓。由于表 B.5的沖擊試驗電壓對額定沖擊電壓而言有所增加，因此固體絕緣必須照此電壓設計。其結果是增加固體絕緣承受沖擊耐受能力。表 B.6 固體絕緣試驗環(huán)境條件嚴酷度試 驗溫度/相對濕度/%時間/h循環(huán)次數(shù)a）干熱+55-481b）干熱循環(huán)-10 +55-循環(huán)時間243c）熱沖擊（溫度突變）-10 +55-2)d）濕熱30/401)939611) 濕熱試驗的標準溫度按 IEC 60068-2-78。2) 溫度變化時間與試品的發(fā)熱時間常

19、數(shù)有關，見 GB/T 2423.22-2002。注：對于濕熱試驗，一些產(chǎn)品標準仍使用25 。表 B.7 海拔修正系數(shù)海拔/m距離修正系數(shù)Kd00.7842000.8035000.83310000.8442 0001表 B.8 IGBT器件要求的沖擊耐受電壓額定電壓 (Um)kV要求的沖擊耐受電壓kV1.28.01.79.03.311.54.513.56.517.58.020.010.024.012.027.515.033.018.038.520.042.022.045.524.049.527.054.530.060.040.078.550.096.560.0115.080.0151.0100.

20、0185.0附錄C（資料性附錄）電氣間隙耐受特性的基本參數(shù)表 C.1 海拔2 000 m 處的耐受電壓（kV）電氣間隙情況A非均勻電場情況 B均勻電場mm0.010.020.030.040.050.06 250.080.0400.0750.1100.1450.1750.2150.2700.040.070.110.140.170.210.270.0100.0120.0150.0200.0250.0300.000.0500.06250.0800.33+0.350.370.400.440.470.520.560.60+0.700.330.350.370.400.440.470.520.560.600

21、.700.100.120.150.200.250.300.400.500.600.800.810.911.04+1.151.231.311.441.551.651.810.810.911.041.261.451.261.952.252.533.04表 C.1（續(xù)）電氣間隙情況A非均勻電場情況 B均勻電場mm1.01.21.52.02.53.04.05.06.08.01.952.202.563.093.604.074.935.726.467.843.504.094.956.337.658.9411.413.81.220.710.012.015.020.025.030.040.050.060.08

22、0.0100.09.1010.612.916.419.923.329.836.042.053.765.025.0+29.636.447.458.369.090.0111.0131.0171.0210.0+1情況 B： 1.2/50和 50/60 Hz 2情況 A： 1.2/50 3情況 A： 50/60 Hz圖 C.1在高于海平面 2 000 m 處的耐受電壓附錄D（規(guī)范性附錄）直流局部放電試驗方法D.1 試驗電路D.1.1 概述試驗電路應按 GB/T 7354-2018規(guī)定布置。本附錄給出的下述電路作為舉例并符合該標準要求。注 1：在大多數(shù)情況下，按本附錄舉例設計的試驗設備足以滿足要求。特殊

23、情況（如存在極高的環(huán)境干擾）有必要參見 GB/T 7354-2018。注 2：基本操作的說明見 E. 2。D.1.2 接地試品的試驗電路Ut試驗電壓；Z濾波器；Ca試品（通?？煽醋鳛殡娙荩?；Ck耦合電容器；Zm測量阻抗。圖 D.1 接地的試品D.1.3 不接地試品的試驗電路圖 D.2 不接地的試品D.1.4 選擇依據(jù)兩個電路基本上是一樣的，但是試品的雜散電容影響靈敏度是不一樣的。試品高壓端的對地電容按 D.1.2 的電路會降低電路的靈敏度，而按 D.1.3 的電路會提高電路的靈敏度，因此，應根據(jù)情況選擇合適的電路D.1.5 測量阻抗測量用阻抗在試驗頻率下應產(chǎn)生一個可忽略不計的低電壓降。為了提供

24、合理的靈敏度，根據(jù) E.2應選取對應測量頻率的阻抗。如果采用電壓限制元件，則這些元件不應影響測量范圍內(nèi)的數(shù)值。D.1.6 耦合電容器 Ck該電容器應為低感型，其諧振頻率大于3 f2（見 D.3），且在所用的最高試驗電壓及以下不應有局部放電。D.1.7 濾波器不作強制要求。如果使用的話，則對于測量頻率的阻抗應為高阻抗。D.2 試驗參數(shù)D.2.1 概述各有關產(chǎn)品標準技術委員會應規(guī)定：規(guī)定的放電量；局部放電的環(huán)境條件（D 2.3）。注：對型式試驗和常規(guī)試驗，可能需要不同的規(guī)范。D.2.2 試驗電壓的要求通常采用直流電壓，總諧波畸變應小于 3 %。D.2.3 環(huán)境條件建議在室溫和平均濕度（23 ，50

25、 %相對濕度，見 GB/T 2421-1999 中 5.3）下進行試驗。D.3 測量儀器的要求D.3.1 概述可采用寬頻帶電荷測量儀也可采用窄頻帶測量儀（見 D.3.3）。根據(jù) D.3.2 給定的保護措施，只可采用無線電干擾電壓表。試驗電壓的頻率 ft 和測量阻抗 Zm 的頻率特性（見 D.1.5）確定測量頻率的下限值，它不應小于 10 ft。測量頻率的上限值由局部放電脈沖的形狀及試驗電路頻率特性決定。它不需大于 2 MHz。對于窄頻帶局部放電測量儀，應根據(jù)窄頻帶的干擾源來選擇測量頻率（見 E.3.3）。注：推薦使用窄頻帶局部放電測量儀。D.3.2 局部放電儀表的分類對流過測量阻抗 Zm 的電

26、流積分，給出一個與 qm 成比率的讀數(shù)（見圖 E.1）。積分可通過測量阻抗來實現(xiàn)。應測量單個脈沖并應估算具有最大值的脈沖，為限制由于脈沖重疊造成的誤差，脈沖的分辨時間 應小于 100 s。 D.3.3 試驗電路的頻帶寬度局部放電測量儀通常會限制試驗電路的頻帶寬度。局部放電測量儀根據(jù)他們的頻帶寬度可分為寬頻或窄頻。a） 下限截止頻率 f1 和上限截止頻率 f2 是當采用寬頻測量儀時頻率特性比恒定值降低 3 dB。而當采用窄頻測量儀時，頻率響應從峰值降低 6 dB；b） 對于窄頻測量儀，測量頻率 f 0 與頻率響應中的諧振峰值是相等的；c） 頻寬度 f 為：f f2 f 1對于寬頻帶測量儀，f 與

27、 f2 是同一個數(shù)量級。對于窄頻帶測量儀，f 比 f1 小得多。D.4 校準D.4.1干擾電平測量前的放電量校準試驗電路（圖 D.3 或圖 D.4）應在規(guī)定的放電量下用沒有局部放電的電容器 CX 取代試品 Ca 進行校準。電容器 CX 的阻抗應與試品 Ca 的阻抗相似。直流電源應按照規(guī)定的局部放電試驗電壓進行調(diào)整，但不激勵，且其初級繞組應短路。用校準過的脈沖發(fā)生器將規(guī)定的放電量施加在電容器的端子上，放電探測器上的放電量顯示應調(diào)整到對應于校準信號。Ut 試驗電壓；Z 濾波器；C0 校準脈沖發(fā)生器的電容；Ca 或CX 試品（通?？煽醋鳛殡娙荩?；Ck 耦合電容器；Zm 測量阻抗。圖 D.3 接地試品

28、的校準 圖 D.4 不接地試品的校準D.4.2 驗證干擾電平采用 D.4.1 的布置，局部放電試驗電壓應上升至最高試驗電壓。最大干擾電平應小于規(guī)定放電量的 50 %，否則要求按 D.3 進行測量。D.4.3 局部放電試驗的校準將試品接入電路中，重復 D.4.1 的程序。如改變試驗電路或更換試品，則需重新校準。對于許多相似的試品，如滿足下列要求，偶爾進行重新校準可能就足夠了：耦合電容器的阻抗小于試品阻抗的 1/10； 試品的阻抗與校準期間的數(shù)值偏差不超過 10 %。注：在規(guī)定重新校準的時間間隔時，各產(chǎn)品標準技術委員會應考慮到在局部放電測量儀的靈敏度不夠的情況下，可能檢測不到潛在的有害放電。D.4

29、.4 校準脈沖發(fā)生器基本上由一小電容 C0（該電容已經(jīng)充電至 U0）組成。脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的電流脈沖的上升時間應小于 0.03/ f2。C0 值不應大于 0.1 Ck。脈沖的尾部時間應大于 100 s。為了驗證局部放電測量儀的性能，應對其在所有測量范圍內(nèi)進行校準。測量用的阻抗和連接用的電纜應包括在該程序中。下列特性應進行檢驗：校準用的脈沖發(fā)生器的精度和穩(wěn)定性；在脈沖重復率為 100 Hz 下各種幅度脈沖的讀數(shù)；采用恒定幅度脈沖和提高脈沖重復率的脈沖分辨時間；下限截止頻率 f1 和上限截止頻率 f1。局部放電測量儀每次修理后均應進行上述檢驗，但是在任何情況下每年至少檢驗一次。附錄E（資料性附錄）直

30、流局部放電試驗方法補充資料E.1 局部放電初始電壓和熄滅電壓的測量試驗電壓從低于局部放電初始電壓的值開始上升直至發(fā)生局部放電（局部放電初始電壓 Ui）止。試驗電壓再上升 10 %后，將該電壓下降至局部放電小于規(guī)定的放電量（局部放電熄滅電壓 Ue）止。因此，可以不超過試品所規(guī)定的絕緣試驗電壓。注：局部放電總滅電壓可能會受到大于局部放電初始電壓值的電壓作用時間的影響，在連續(xù)測量中，Ui和Ue可能均會受到影響。本試驗程序也適用于研究性測量。E.2局部放電試驗電路的說明每個電路由下列器件組成：試品 Ca（在特殊情況下，也可以是阻抗 Za）；耦合電容器 Ck；由測量阻抗 Zm，連接電纜和局部放電測量儀組

31、成的測量電路；任選的濾波器 Z（用于減小由試驗電壓源旁路的電荷）。Ut試驗電壓：Z濾波器：S局部放電電流源：Ca試品電容：Ck耦合電容器：Zm測量阻抗：qi內(nèi)部電荷（不能測量）；q視在電荷：qm可測量的電荷：qv1試品的兩端損耗的電荷：qv2試驗電壓源兩瑞損耗的電荷：qv3對地雜散電容兩端損耗的電荷：Ce對地雜散電容。圖 E.1 局部放電試驗電路直接測量視在電荷 q 要求在試品接線端子處進行短路以測量頻率。這種條件可用下列方式近似實現(xiàn)： Ck(Ca+Ce);高阻抗 Z；低測量阻抗 Zm。否則會發(fā)生電荷 qv2 和 qv3 顯著損耗。在校準時應考慮到這些電荷的損耗，而他們會限制靈敏度。如果試品具

32、有高的電容，這種情況會更加嚴重。E.3局部放電試驗電路的說明E.3.1 概述局部放電測量結果可能會極大地受到干擾的影響。這種干擾可能由電導耦合或電磁干擾引入。在沒有屏蔽的工業(yè)性試驗場所，由于干擾單個電荷脈沖可能會高達 100 pC。即使在良好的條件下，可能預計不小于 20 pC?？蓪崿F(xiàn)小至 1 pC 的干擾電平，但要求對試驗電路進行屏蔽，注意接地措施并對電網(wǎng)的輸入進行濾波。E.3.2 干擾源基本上有兩種不同的干擾源。E.3.2.1非激勵試驗電路中的干擾源這些干擾是由于例如接通分斷鄰近電路造成的。在電導耦合情況下，只有當與低壓電網(wǎng)電源連接時才會發(fā)生干擾。在電磁耦合的情況下，在分斷電網(wǎng)電源（包括保

33、護導體）的情況下，也會發(fā)生干擾。E.3.2.2 激勵試驗電路中的干擾源通常干擾是隨著試驗電壓的增大而增大的，且由試品外面的局部放電造成，在試驗變壓器中，高壓連接引線，襯套以及不良連接點處均可能發(fā)生局部放電，試驗電壓的諧波也可能影響干擾水平。E.3.3 降低干擾的措施在試驗電路的中間饋線處采用線路濾波器能降低電導耦合造成的干擾。但不應有對地回路。電磁干擾，例如無線電信號，對于窄頻帶局部放電測量儀用簡單的方法即改變一下測量頻率fe。就可排除。對于寬頻帶局部放電測量儀，可能需要有頻帶抑制濾波器，只有采取屏蔽措施才能抑制寬頻帶信號。采用高電導率的全密封屏蔽措施是最有效的方法。附錄F（資料性附錄）正極性

34、重復方波下局部放電試驗F.1 概述由于 IGBT 器件在換流器應用中常依據(jù) PWM 波提供驅(qū)動策略，所以 IGBT 器件運行過程中承受正極性重復方波電壓，對器件進行正極性重復方波電壓下的局部放電試驗是非常有必要的。正極性重復方波試驗電壓波形要求見 5.2.2.2。F.2 局部放電測量方法F.2.1引言測量正極性重復方波電壓下的 PD，要求脈沖探測系統(tǒng)對方波電壓上升沿與下降沿處的干擾（GB/T 236422017中稱其為殘留電壓沖擊）有很強的抑制能力，并且抑制的 PD 脈沖可忽略不計。PD 脈沖受測量系統(tǒng)處理之后其量值應大于干擾值。所需抑制干擾的大小取決于試驗電壓幅值和上升、下降時間。如方波電壓幅值增加，則需要更強的抑制力以確保探測器輸出端的 PD 脈沖量值高于殘留干擾。同樣，如施加的沖擊電壓的上升時間減少，那么由于方波干擾和 PD 脈沖間頻譜的重疊增加，所需抑制力也應增強。可用高壓電容器或高頻電流互感器 (HFCT)探測試品中的 PD 電流脈沖。探測器與測量系統(tǒng)的其余部分結合使用可將沖擊電壓的幅值抑制至小于 PD 脈沖的預期幅值(如使用合適的濾波器)。由于方波電壓和 PD 脈沖均含有高頻成分，所以電