一種新穎的ADC非線性誤差測試方法_第1頁
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一種新穎的ADC非線性誤差測試方法_第3頁
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文檔簡介

一種新穎的ADCADC非線性誤差測試方法。該方法基于多項式函數(shù)逼近，可用于測試各種類型的ADC，包括相鄰單元非線性誤差、DNL和INL等。該方法可以使用常見的測量設(shè)備進(jìn)行實現(xiàn)，具有高精度、ADC的非際應(yīng)用中，ADC的性能對系統(tǒng)的整體性能起著至關(guān)重要的作用。其中，ADCADC的非線性誤差具有一定的隨機(jī)性和非線性特性，因此對ADC進(jìn)行精確的非線性誤差測試ADC非線性誤差測試方法有緩沖測試方法、直接測試ADC非線性誤差測試方法，基于多項式函數(shù)逼近的思想。該方法可以使ADC非線性誤差測試方法基于多項式函數(shù)逼近的思想。ADC進(jìn)行測試，包括相鄰單元非線性誤差、DNL和INL等。ADC的非線性誤ADC的非線性誤差。ADCADCADC的采樣值歸一化到[0,1]K階多項式函數(shù)，使用最小二乘法來確定多項式函數(shù)中DNLINL，可以通過多次計算多項式函數(shù)逼近值A(chǔ)DC非線性誤差測試方法的實用性和有效性，AD16ADC10MHz。我們使用本文提出的方法和直接測試法來測試ADC的相鄰單元非線性誤差和INL。實驗結(jié)果如下所示：INL測試結(jié)果：ADC非線性誤差測試方法具有高精度和高效率的優(yōu)點，在測試相鄰單元非線性誤差和INL時具有比ADC非線性誤差測試方法。該方法可用于測試各種類型的ADC，具有高精度、高效率和易于實施的優(yōu)點。在實驗驗證中，本文提出的方

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