燈具分布光度測(cè)量基本要求解析

1、分布光度測(cè)量的基本要求對(duì)于分布光度計(jì)，根據(jù)測(cè)試的需要，有如下要求:1光度測(cè)量距離發(fā)光強(qiáng)度的測(cè)量是通過測(cè)量某一定距離上的照度，根據(jù)光度學(xué)的距離平方反比定律，計(jì)算得到光強(qiáng)值。本部分設(shè)定了隱藏，您已回復(fù)過了，以下是隱藏的內(nèi)容其中：I為測(cè)試方向上的光強(qiáng)，E為探測(cè)器光電接收面的照度，R為測(cè)試距離但是對(duì)于許多燈具，尤其是LED燈具，近場(chǎng)的光度定律不適用，CIE文件對(duì)此作了明確的規(guī)定， 燈具的光度測(cè)試距離應(yīng)足夠大，滿足如下條件對(duì)于熒光燈類燈具R>D X對(duì)于投光燈類燈具R>D X 200/ 0 D:發(fā)光面積最大尺寸0 :光束的半峰邊角通常， 采用兩種測(cè)量距離：寬光束燈具為：12m15m，窄光束高強(qiáng)

2、度燈為 30m35m，保證遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量精度。2光度測(cè)量精度光度探測(cè)器是分布光度計(jì)的重要組成部分之一，探測(cè)器的光譜響應(yīng)S （入）精度應(yīng)與人眼的明視覺光譜光視效率函數(shù)V（入）致，即S（入）=V（入）根據(jù)國際照明委員會(huì) CIE規(guī)定，對(duì)于氣體放電燈的光強(qiáng)分布測(cè)量，探測(cè)器的V（入匹配誤差fl應(yīng)不超過2%。要使探測(cè)器的光譜響應(yīng)匹配到與V（入曲線一致，通常采用一組不同材料的濾光片，加在硅光池前面。由于受玻璃材料的光譜透射比曲線的限制，要達(dá)到fl小于2%的精度并非易事。因此高精度的分布光度計(jì)的探頭還需從德國進(jìn)口。也有一些探頭采用部分濾光片法實(shí)現(xiàn)精確V（入）的匹配。這種光度探測(cè)器只適合于均勻光束的測(cè)量。在分布光度測(cè)

3、量中， 空間光束分布極不均勻，部分濾光片法匹配的探測(cè)器，實(shí)際應(yīng)用的誤差會(huì)非常大。目前在分布光度計(jì)中應(yīng)用的硅光電探測(cè)器，靈敏度會(huì)隨溫度升高而降低， 溫度變化1C,大約會(huì)引起0.1%的靈敏度變化。此外光電流放大電路的倍率也會(huì)受溫度的影響。因此必須 對(duì)光度探頭和電路恒溫，溫度應(yīng)控制在1C以內(nèi)。3.角度精度分布光度計(jì)測(cè)試的是燈具在各個(gè)方向上的光度數(shù)據(jù)，對(duì)其旋轉(zhuǎn)和定位系統(tǒng)的角度精度有較高的要求，包含角度精度、軸線精度、反光鏡面形精度等。對(duì)于帶反光鏡的分布光度計(jì)，反光鏡的平面度非常重要，面形誤差和角度安裝誤差都會(huì) 以兩倍影響角度精度； 面形誤差還會(huì)影響測(cè)量光束的空間特性，引起更大的測(cè)量誤差。 如果在測(cè)量過

4、程中探測(cè)器的測(cè)量光束軸相對(duì)于反光鏡需作空間旋轉(zhuǎn)（錐面）運(yùn)動(dòng)，那么反光鏡的面形誤差將以四倍影響角度精度。目前國際上高檔的分布光度計(jì)，反光鏡與鏡架均采用特殊的結(jié)構(gòu)連接，浙大三色公司和德國LMT公司制造的分布光度計(jì)，反光鏡采用局部連接的方法，鏡面的平行度通過激光精確校準(zhǔn)。某些設(shè)備的反光鏡采用直接粘結(jié)的方法，鏡面平面度很難保證，粘結(jié)膠固化會(huì)引起鏡面內(nèi)的應(yīng)力，使鏡面鍍層脫落、 鏡面玻璃產(chǎn)生雙折射誤差等問題。長期使用中鋼架會(huì)時(shí)效變形，使鏡面造成永久性的扭曲，不可調(diào)校。4.雜散光雜散光是分布光度測(cè)量中影響測(cè)試精度最重要的因素之一。在分布光度測(cè)量設(shè)備的選購、實(shí)驗(yàn)室建造中必須引起足夠的重視。應(yīng)該注意的是，任何黑色的表面也都存在百分之幾的光學(xué)反射。 雜散光的影響對(duì)于測(cè)量窄光束燈具尤其明顯，例如，若投光燈的光束角為4°即使環(huán)境的反射比只有 1%，背景雜散光的影響將引起總光通量的誤差約達(dá)40%以上。因此，分布光度計(jì)中的光電探測(cè)器應(yīng)只接收燈具發(fā)光面或僅從反光鏡反射后的光束，其它雜散光，如反光鏡邊緣、地面、墻面等反射引起