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文檔簡(jiǎn)介

1、SPC統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 Statistical Process Control1第一篇:基礎(chǔ)篇SPC2SPC 6的概念最初源于管制圖的原理,就是當(dāng)管制圖中的管制界限寬度應(yīng)用6倍標(biāo)準(zhǔn)差并在考慮偏移1.5倍標(biāo)準(zhǔn)差后,管制界限仍然在規(guī)格界限內(nèi),此時(shí)的品質(zhì)不良率為3.4ppm。一、6簡(jiǎn)述3SPC6簡(jiǎn)述6圖示:USLLSLSLLCLCLUCL1.5664SPC6簡(jiǎn)述不同數(shù)最直觀的概念5SPC6是統(tǒng)計(jì)學(xué)中的一個(gè)名詞,SPC中的管制圖就是用6來(lái)進(jìn)行品質(zhì)分析的。隨著社會(huì)的發(fā)展,社會(huì)各界對(duì)品質(zhì)的要求也愈發(fā)嚴(yán)格,所以所有工作都要圍繞最終品質(zhì)達(dá)到3.4ppm來(lái)進(jìn)行,這就形成了6體系。6簡(jiǎn)述 6體系的形成與發(fā)展6SPC6

2、體系產(chǎn)生后,圍繞它已經(jīng)產(chǎn)生了多個(gè)含義,所引伸出的內(nèi)容及應(yīng)用的領(lǐng)域也遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了原有的統(tǒng)計(jì)學(xué)所界定的范圍,因?yàn)椋?它已成為一種處世哲學(xué) 它是一種價(jià)值體現(xiàn) 它已成為一個(gè)事件的最終目標(biāo)6簡(jiǎn)述6體系的形成與發(fā)展7SPCMeasurement (測(cè)量)Analysis(分析)Control(控制)Improvement(改善)6簡(jiǎn)述6的運(yùn)作方法8SPC設(shè)計(jì)好好材料好制程好出貨好體系高效率好印象好價(jià)格好服務(wù)6簡(jiǎn)述如何才能實(shí)現(xiàn)6呢? 9SPCa.查檢表b.層別法c.魚(yú)骨圖d.柏拉圖e.散布圖g.管制圖f.直方圖二、品管的七大方法10SPC品管的七大方法查檢表 收集現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)層別法 對(duì)收集來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分類魚(yú)骨圖

3、對(duì)一個(gè)現(xiàn)象或結(jié)果進(jìn)行深入分析柏拉圖 對(duì)多種原因進(jìn)行分析,找出最大問(wèn)題散布圖 尋找兩個(gè)或兩個(gè)以上問(wèn)題間的相關(guān)性管制圖 了解品質(zhì)的變化狀態(tài)并預(yù)測(cè)未來(lái)狀況直方圖 了解品質(zhì)現(xiàn)狀11SPC品管七大方法的內(nèi)在聯(lián)系現(xiàn)場(chǎng)查檢表匯總數(shù)據(jù)監(jiān)控預(yù)測(cè)找出相關(guān)管制圖細(xì)部狀況找出原因直方圖魚(yú)骨圖解決問(wèn)題層別法散布圖12SPC三、Minitab軟件簡(jiǎn)述它是一個(gè)統(tǒng)計(jì)軟件包 它使繁瑣的運(yùn)算和繪圖簡(jiǎn)單化擁有眾多成功完成六個(gè)西格瑪項(xiàng)目所需的工具(各種圖形、用于數(shù)據(jù)分析的統(tǒng)計(jì)工具、報(bào)告等) 下拉選項(xiàng)菜單驅(qū)動(dòng)的軟件 當(dāng)前軟件版本:13.3213SPCMinitab軟件簡(jiǎn)述Minitab能夠做到 描述性統(tǒng)計(jì) 能力分析(Zst/Zlt)

4、繪圖-類型繁多 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)(DOE)及結(jié)果分析 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(SPC)14SPCMinitab軟件的結(jié)構(gòu)3個(gè)交互式窗口: Session窗口 -存儲(chǔ)所有操作的記錄(以備參考) Worksheet窗口 - 用于數(shù)據(jù)輸入(工作表格式) Project Manager窗口 - 工程管理窗口15SPCMinitab軟件的常用功能1.正態(tài)性檢驗(yàn): 操作:StatBasic StatsNormality Test 功能:用于檢驗(yàn)所采樣的數(shù)據(jù)是否符合正態(tài)分布 判定規(guī)則: 如果P-Value小于0.05,那么您的數(shù)據(jù)不服從正態(tài)分 布,反之則服從。16SPCMinitab軟件的常用功能2.等同性檢驗(yàn): 操作:St

5、atBasic Stats2-Sample t 功能:用于檢驗(yàn)兩組數(shù)據(jù)分布是否具有等同性 判定規(guī)則: 如果P-Value小于0.05,那么兩組數(shù)據(jù)分布情況存在 本質(zhì)性的差異,反之則可認(rèn)為兩組數(shù)據(jù)具有同質(zhì)性。17SPCMinitab軟件的常用功能3.描述統(tǒng)計(jì): 操作:StatBasic StatsDescriptive Statistics 功能:用于獲得對(duì)于一組數(shù)據(jù)的綜合性統(tǒng)計(jì)描述 復(fù)選功能:同時(shí)用圖形來(lái)表示 Graphs按扭Graphical summaryOK18SPCMinitab軟件的常用功能4.分組直方圖: 操作:GraphChart 功能:用于對(duì)不同Unit的同一Parameter

6、進(jìn)行比較 分組設(shè)置:根據(jù)Unit的不同進(jìn)行分組 Options按扭設(shè)置ClusterOK19SPCMinitab軟件的常用功能5.時(shí)間序列圖: 操作:GraphTime Series Plot 功能:用于觀察某一變量隨時(shí)間的變化關(guān)系 復(fù)選功能:多圖同頁(yè) 點(diǎn)擊Frame選Mutiple GraphsOverlay graphs on the same page20SPCMinitab軟件的常用功能6.箱圖: 操作:GraphBoxplot 功能:用于對(duì)比不同樣本或不同類型數(shù)據(jù) 復(fù)選功能:多圖同頁(yè) 點(diǎn)擊Frame選Mutiple GraphsOverlay graphs on the same p

7、age 管制圖和直方(正態(tài)分布)圖將在第三篇中 詳細(xì)介紹21SPC第二篇:概念篇22SPC統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制,也稱“統(tǒng)計(jì)制程管制”,英文為:Statistical Process Control,它是一種利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理,對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的產(chǎn)品品質(zhì)進(jìn)行控制、改善,從而預(yù)防不合格品發(fā)生的質(zhì)量控制方法,簡(jiǎn)稱SPC。?什麼是統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制? 23SPCSPC的功效3W2H 找出什麼時(shí)候會(huì)發(fā)生異常(WHEN) 找出發(fā)生什麼具體異常(WHAT) 分析發(fā)生異常的原因(WHY) 得出解決異常的方法(HOW) 建立預(yù)防方案(HOW)24SPC我們?yōu)槭颤N要引入SPC這個(gè)概念? 我們引入SPC的目的是要將先進(jìn)的品質(zhì)理論和品質(zhì)

8、工具與生產(chǎn)實(shí)際相結(jié)合,從而 降低成品不良率,提高生產(chǎn)效率, 提高企業(yè)自身的品質(zhì)意識(shí)及產(chǎn)品品質(zhì) 增強(qiáng)產(chǎn)品在國(guó)內(nèi)、國(guó)際市場(chǎng)上的競(jìng)爭(zhēng)力 預(yù)防未來(lái)生產(chǎn)中不良品的產(chǎn)生25SPCSPC的主要內(nèi)容 SPC的主要內(nèi)容分為計(jì)數(shù)值和計(jì)量值兩種,所涉及的內(nèi)容包括抽樣檢驗(yàn)、數(shù)據(jù)整理、圖形分析、制程分析、改善監(jiān)控等。 計(jì)數(shù)值計(jì)量值 兩個(gè)概念:以計(jì)產(chǎn)品的件數(shù)或點(diǎn)數(shù)來(lái)表達(dá) 以實(shí)際測(cè)量或測(cè)試的數(shù)據(jù)來(lái)表達(dá)(如:高歪蓋、熱變形、瓶身氣泡及熔缺)(如:扭矩、凈含量、殺菌溫度、空瓶頂壓)26SPCSPC的運(yùn)作流程 收集原始數(shù)據(jù)將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成直觀圖形了解數(shù)據(jù)的真實(shí)性,分析圖形實(shí)時(shí)監(jiān)控品質(zhì)狀況找出影響最大原因找出未來(lái)可能出現(xiàn)的品質(zhì)狀況27

9、SPC專案處理有無(wú)問(wèn)題及時(shí)通知制造采取措施有注意實(shí)時(shí)監(jiān)控改善前中后狀況有無(wú)效果及效果是否明顯繼續(xù)生產(chǎn)監(jiān)控記錄納入標(biāo)準(zhǔn)化有立即采取措施無(wú)無(wú)28SPCSPC運(yùn)作成功的條件 高層管理者的大力支持 中層干部能夠在有良好的品質(zhì)觀念的基礎(chǔ)上 及時(shí)分析圖形 作一份詳盡、全面、系統(tǒng)的SPC系統(tǒng)規(guī)劃 必須使用專業(yè)軟件 數(shù)據(jù)收集要真實(shí)、適時(shí)29SPCSPC系統(tǒng)運(yùn)作的重點(diǎn) 相關(guān)人員的教育訓(xùn)練 全面的系統(tǒng)規(guī)劃 適時(shí)收集數(shù)據(jù) 適時(shí)監(jiān)控圖形 問(wèn)題的改善 形成標(biāo)準(zhǔn)30第三篇:方法篇SPC31SPC-數(shù)據(jù)收集數(shù)據(jù)收集的四個(gè)原則真實(shí)及時(shí)簡(jiǎn)潔標(biāo)準(zhǔn)32SPC-數(shù)據(jù)收集制訂抽樣計(jì)劃及查檢表現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)并如實(shí)記錄數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)錄入數(shù)據(jù)收集的流程

10、確定檢驗(yàn)項(xiàng)目33SPC-數(shù)據(jù)收集注意:數(shù)據(jù)要連續(xù)抽取子組容量通常為5或5個(gè)以上子組數(shù)量通常為25組或25組以上!抽樣頻率特性易檢驗(yàn)或品質(zhì)較差 增加抽樣頻率 品質(zhì)轉(zhuǎn)好且穩(wěn)定 降低抽樣頻率 34SPC-SPC圖形架構(gòu)SPC 圖形架構(gòu)計(jì) 數(shù) 值 圖 形計(jì) 量 值 圖 形PPM/不良推移普通管制分析單品質(zhì)特性圖多品質(zhì)特性圖不良率推移圖、PPM推移圖P-Chart、NP- Chart 、C- Chart 、U- Chart 、柏拉圖多品質(zhì)特性圖X-R Chart、X-S Chart、X-Rm Chart 、M-R Chart 、直方圖、Cpk推移圖35SPC兩個(gè)基本概念-SPC 常用品質(zhì)指標(biāo) 準(zhǔn)確度 精

11、確度ABB:精確,偏差很小,但離目 標(biāo)值較遠(yuǎn)(準(zhǔn)確度不足)A:準(zhǔn)確,平均值很好,但 偏差較大(精確度不足)36SPC二者在正態(tài)圖上的反映:SPC 常用品質(zhì)指標(biāo)LSLUSLTarget123曲線2:值很小但平 均值u發(fā)生了 偏移。曲線1:平均值u很好, 但很大 曲線3:理想情況37SPC常用的品質(zhì)指標(biāo):UCL控制上限LCL控制下限CL控制中心線USL規(guī)格上限LSL規(guī)格下限SL規(guī)格中心線 LCLCLUCL標(biāo)準(zhǔn)偏差SPC 常用品質(zhì)指標(biāo)38SPCSPC 常用品質(zhì)指標(biāo)Cp(Pp)制程潛力,反映了過(guò)程的集中程度, 即數(shù)據(jù)的精確度(Pp為未來(lái)值)Ca偏移度,反映了數(shù)據(jù)整體距規(guī)格中心的偏 移程度,即數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確

12、度Cpk(Ppk)、Z它是偏移程度和離散程度的 綜合體現(xiàn),是工程能力最真 實(shí)、最全面的反映(Ppk為 未來(lái)值)39SPCSPC 常用品質(zhì)指標(biāo)Ca=CLSLUSL(LSL) SLCLLCLUCLCLSLSLLSLUSLSL40SPCSPC 常用品質(zhì)指標(biāo)Cp=USLLSLUCL LCLCLLCLUCLUSLLSLUCLLCL(n)41SPCSPC 常用品質(zhì)指標(biāo)CPU=USLCL3CPL=CLLSL3CLLCLUCLUSLCL3CLLSL342SPC通常:Ca越小越好,正常應(yīng)在0.1內(nèi)Cp越大越好,正常應(yīng)大于1.33,理想值為1.67Cpk越大越好,正常應(yīng)大于1.0,理想值為1.5SPC 常用品質(zhì)指

13、標(biāo)Cpk=(1Ca)Cp Cpk=Min( CPU,CPL )Z=3Cpk 43SPCP-Chart即不良率管制圖,用于對(duì)制程中產(chǎn)品的不良率進(jìn)行管制。-圖形制作與分析 1 P-Chart功用:掌握取樣母體的不良率狀況,了解本系統(tǒng)正常 狀況下的不良狀況。對(duì)突發(fā)事件的影響程度及時(shí)了解。預(yù)測(cè)下一階段的不良率。44SPC1.P-Chart的制作:圖形制作與分析1 P-Charta. 收集數(shù)據(jù)b. 計(jì)算每組不良率Pi =nidi100P:不良率n:檢驗(yàn)數(shù)d:不良數(shù)i: 第i組數(shù)據(jù)c. 計(jì)算平均不良率(中心線)CL=PBar =ni100di45SPCd. 計(jì)算管制上下限UCL=Pbar + 3=Pbar

14、+3(Pi Pbar)2/nLCL=Pbar3=Pbar3(Pi Pbar)2/nUCL=Pbar +3Pbar(1-Pbar)/niLCL=Pbar3Pbar(1-Pbar)/ni或圖形制作與分析1 P-Chart46SPC2.制作圖形(應(yīng)用Minitab軟件)進(jìn)入P圖界面: (StatControl ChartsP)OK在Variable中輸入不良數(shù)所在列在Subgroup Size中輸入子組容量(子組容量相同)在Subgroup in中輸入子組所在列(子組容量不同)圖形制作與分析1 P-Chart47SPC圖形制作與分析1 P-Chart48SPC3.圖形分析當(dāng)圖中出現(xiàn)以下情況時(shí),通???/p>

15、認(rèn)為出現(xiàn)了異常情況連續(xù)幾點(diǎn)在中心線上方或下方點(diǎn)跑出了管制界限連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降連續(xù)幾點(diǎn)互著一升一降呈現(xiàn)明顯的非隨機(jī)現(xiàn)象(不要過(guò)分解釋數(shù)據(jù),因?yàn)?有時(shí)隨機(jī)狀態(tài)也會(huì)呈現(xiàn)非隨機(jī)現(xiàn)象)圖形制作與分析1 P-Chart49SPC非隨機(jī)分布過(guò)于集中、分散或呈現(xiàn)明顯規(guī)律性:圖形制作與分析1 P-Chart50SPC非隨機(jī)數(shù)值分段:圖形制作與分析1 P-Chart51SPC通常情況下,若大約2/3的點(diǎn)應(yīng)落在控制限1/3的中間區(qū)域內(nèi);約1/3的點(diǎn)落在其他2/3區(qū)域;1/20的點(diǎn)落在外1/3區(qū)域,則可認(rèn)為過(guò)程是受控的。圖形制作與分析1 P-ChartUCLLCLCL132352SPC問(wèn)題1:若遠(yuǎn)遠(yuǎn)多于2/3的點(diǎn)落

16、在控制限1/3中間區(qū)域,則原因可能為:控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò)過(guò)程或取樣方法分層數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯圖形制作與分析1 P-ChartUCLLCL1323CL53問(wèn)題2:若遠(yuǎn)遠(yuǎn)少于2/3的點(diǎn)( 40%)落在控制限1/3中間區(qū)域,則原因可能為:子組中包含非同一過(guò)程的數(shù)據(jù) 當(dāng)出現(xiàn)失控狀態(tài)時(shí),要對(duì)問(wèn)題進(jìn)行仔細(xì)分析,找出原因加以改善,并重新計(jì)算及描畫(huà)均值和控制限,保證所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)都處于受控狀態(tài)。圖形制作與分析1 P-ChartSPCUCLLCL1323CL控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò)54SPCNP-Chart即不良數(shù)管制圖,作用同P圖相似。圖形制作與分析2 NP-Chart通常用于:自動(dòng)化程度較高,對(duì)不良分析以計(jì)數(shù)為

17、主不良數(shù)相對(duì)較低批量相對(duì)較低各批檢驗(yàn)數(shù)相同55SPC1.NP-Chart的制作:a. 收集數(shù)據(jù)b. 計(jì)算平均不良數(shù)P:平均不良數(shù)n:檢驗(yàn)數(shù)d:不良數(shù)i: 第i組數(shù)據(jù)CL=PBar =P=nidi圖形制作與分析2 NP-Chart56c. 計(jì)算管制上下限UCL=Pbar +3Pbar(1-Pbar)LCL=Pbar3Pbar(1-Pbar)2. 圖形制作(同P 圖)3. 圖形分析SPC圖形制作與分析2 NP-Chart57SPCU-Chart即單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖,可用來(lái)對(duì)不同工種或不同生產(chǎn)部門進(jìn)行品質(zhì)考核。圖形制作與分析3 U-Chart1.U-Chart的制作:a. 收集數(shù)據(jù)b. 計(jì)算單位缺點(diǎn)數(shù)

18、Ui=NiCiUi表示第i組數(shù)據(jù)的單位缺點(diǎn)數(shù)Ci表示第i組數(shù)據(jù)的缺點(diǎn)數(shù)Ni表示第i組數(shù)據(jù)的檢驗(yàn)數(shù)58c. 計(jì)算管制上下限UCL=Ubar +3Ubar/NiLCL=Ubar3Ubar/Ni2. 圖形制作(同P 圖)3. 圖形分析U=Ubar=NiCi=CLSPC圖形制作與分析3 U-Chart59SPCC-Chart即缺點(diǎn)數(shù)管制圖,可用來(lái)對(duì)不同條件下的部門考核,要求檢驗(yàn)數(shù)相同。C-Chart的制作:a. 收集數(shù)據(jù)b. 計(jì)算管制上下限UCL=Cbar +3CbarCbar=kCk=CLLCL=Cbar -3Cbar圖形制作與分析4 C-Chart60推移圖主要用于反映過(guò)去一段時(shí)間內(nèi)的品質(zhì)不良狀況

19、,但不能用作預(yù)測(cè)分析。推移圖的制作:不良率計(jì)算:P=Nd100P=Nd1000000(PPM不良率)(百分比不良率)SPC圖形制作與分析5 不良率推移圖61柏拉圖通常用來(lái)分析各種不良原因的重點(diǎn)部分,并將其作為改善的重點(diǎn)。柏拉圖的作法:a.對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類b.將分類的數(shù)據(jù)由多到少排列,計(jì)算所占百分比c.計(jì)算各類總和d.繪制圖形(應(yīng)用Minitab軟件)SPC圖形制作與分析6 PARATO柏拉圖62SPC進(jìn)入PARETO圖界面: (StatQuality toolsPareto chart)在“Chart defects data in”中輸入各因素不良數(shù)所在列在“Chart defect tabl

20、e”中輸入影響因素所在列OK圖形制作與分析6 PARATO柏拉圖63SPC圖形制作與分析6 PARATO柏拉圖64SPC圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖 均值極差圖通常用來(lái)監(jiān)控制程品質(zhì)狀態(tài)及發(fā)展趨勢(shì),了解品質(zhì)的進(jìn)展?fàn)顟B(tài),比較常用。均值極差管制圖解析管制圖(監(jiān)控和測(cè)定初期品質(zhì))制程管制圖(品質(zhì)狀況的對(duì)比、衡量)65SPC1.圖形制作a.計(jì)算Xi、Ri、X、RXi=nXiRi=Max(Xi)Min(Xi)XKXi=XCLR=RiK=RCL圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖66SPCb.計(jì)算管制限UCLX=X+A2RLCLX=X-A2RCLX=XUCLR=D4RCLR=RLCLR=D3

21、Rb.1 查表法圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖67SPCb.2.2 計(jì)算管制上下限b.2 計(jì)算法b.2.1 計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差(Ri - R)2/(I 1)R=X=(XiX)2/KLCLX=X3XUCLX=X+3X圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖68c.繪制圖形(應(yīng)用Minitab軟件)疊加各列: (ManipStackStack Columns)進(jìn)入X-R圖界面: (StatControl chartsXbar-R)在“Single column”中輸入疊加后數(shù)據(jù)所在列在“Subgroup size”中輸入子組容量OKSPC圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖69c.繪制圖形S

22、PC圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖70d.圖形分析規(guī)格界限:相關(guān)部門制訂的標(biāo)準(zhǔn)或要求達(dá)到 的期望值。管制界限:通過(guò)計(jì)算得出的控制上下限。二者之間存在如下關(guān)系:SPC圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖71SPC(a)管制界 限規(guī)格界 限(b)(c)圖形制作與分析7 Xbar-R均值極差圖(d)72SPC圖形制作與分析8 Xbar-均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 均值標(biāo)準(zhǔn)差圖的作用同均值極差圖相似,同樣也分為解析管制圖和制程管制圖兩類,但極差值受子組內(nèi)個(gè)別值的影響較大,而標(biāo)準(zhǔn)差值則相對(duì)較小,這一點(diǎn)在每組樣本數(shù)在10以上時(shí)表現(xiàn)得較為明顯。1.圖形制作a.計(jì)算Xi、Si73SPCb.計(jì)算中心線及管制上下

23、限Xi=nXi(Xi - X)2/(n 1)Si=b.1 計(jì)算中心線S=SiSinb.1.1 均值圖CL(同X/bar圖)b.1.2 標(biāo)準(zhǔn)差圖CL圖形制作與分析8 Xbar-均值標(biāo)準(zhǔn)差圖74b.2計(jì)算管制上下限b.2.1 均值圖UCL、LCL(同X/bar圖)(Si - S)2/K=b.2.2 標(biāo)準(zhǔn)差圖UCL、LCLUCLS=CL+3LCLS=CL3c.繪制圖形(同X-R圖)圖形制作與分析8 Xbar-均值標(biāo)準(zhǔn)差圖SPC75SPCd. 圖形分析圖形制作與分析8 Xbar-均值標(biāo)準(zhǔn)差圖76SPC圖形制作與分析9Mid-R中位數(shù)極差圖 Mid-R圖是對(duì)Xbar-R圖 和Xbar-圖的一種補(bǔ)充,通常

24、用于樣本容量小于10的情況。1.中位數(shù)的概念 將數(shù)據(jù)由大到小排列,若數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)為奇數(shù)則中位數(shù)取中間的一個(gè)數(shù)據(jù);若為偶數(shù)則取中間兩個(gè)任一個(gè)都可以。2.數(shù)據(jù)列表并計(jì)算中位數(shù)77SPC3.計(jì)算中心線及上下限(Xim - Xm)2/KXm=UCLxm=CLxm+3 XmLCLxm=CLxm3 Xm Xm=XimN=CLxm4.繪制圖形及圖形分析圖形制作與分析9Mid-R中位數(shù)極差圖78SPC圖形制作與分析10X-MR單值移動(dòng)極差圖 通常用于收集數(shù)據(jù)的成本比較高或輸出性質(zhì)比較一致時(shí),即每組的樣本數(shù)都為1。1.圖形制作a.移動(dòng)差的計(jì)算R1= SLX1 Ri= XiX(1)b.計(jì)算中心線及管制上下限Xi=KX

25、iRm=KRi=CLX=CLRm79SPCUCLX=X+E2RmLCLX=XE2RmUCLRm=D4RmLCLRm=D3Rm(E2、D3、D4查表所得)2.繪制圖形(應(yīng)用Minitab軟件)進(jìn)入I-MR圖界面: (StatControl chartsI-MR)在“Variable”中輸入數(shù)值所在列OK圖形制作與分析10X-MR單值移動(dòng)極差圖80SPC3.圖形分析圖形制作與分析10X-MR單值移動(dòng)極差圖81SPC圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖 直方圖是一種利用正態(tài)分布的原理,將50個(gè)以上數(shù)據(jù)進(jìn)行分組,用柱形來(lái)說(shuō)明各組數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)。1.直方圖的功用測(cè)試制程能力計(jì)算產(chǎn)品不良率調(diào)查是否混入兩個(gè)以上不

26、同群體指定規(guī)格界限82SPC研究設(shè)計(jì)的規(guī)格界限是否可用于制程管制判定數(shù)據(jù)的真假與規(guī)格相比較2.圖形制作a.計(jì)算全體數(shù)據(jù)的極差b.計(jì)算組數(shù)R=MaxMin K=1+3.32LogN圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖83c.計(jì)算組距組距=極差/組數(shù)d.確定起點(diǎn)值及終點(diǎn)值起點(diǎn)值=最小值測(cè)定值最小位數(shù)/2終點(diǎn)值=最大值測(cè)定值最小位數(shù)/2e.計(jì)算各組上下點(diǎn)及中點(diǎn)第一組下界=起始點(diǎn)值第一組上界=第二組下界=起始點(diǎn)值+組距SPC圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖84SPC第K組上界=終點(diǎn)數(shù)值各組中心點(diǎn)=(各組上界+各組下界)/2f.計(jì)算各組內(nèi)數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)g.繪制圖形(應(yīng)用Minitab軟件)疊加各列: (Man

27、ipStackStack Columns)進(jìn)入正態(tài)分布圖界面: (StatQuality ToolsCapability Analysis(Normal)圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖85SPC3.圖形分析a.偏態(tài)型參數(shù)中含有成分相對(duì)較高或較低的數(shù)據(jù)在“Single column”中輸入疊加后的數(shù)值所在列在“Subgroup size”中輸入子組容量在“Lower spec”中輸入標(biāo)準(zhǔn)下限在“Upper spec”中輸入標(biāo)準(zhǔn)上限進(jìn)入“Options”界面在“Target”中輸入標(biāo)準(zhǔn)中心值OK圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖86SPC變異剛開(kāi)始或已經(jīng)對(duì)變異采取了措施b.絕壁型產(chǎn)品經(jīng)過(guò)全檢設(shè)備出現(xiàn)較大松動(dòng)或磨損分析時(shí)間長(zhǎng),測(cè)量頻率小c.雙峰型數(shù)據(jù)中混有不同過(guò)程的測(cè)量值數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)編輯因生產(chǎn)過(guò)程出現(xiàn)問(wèn)題而做了調(diào)整圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖87SPCd.缺齒型因儀器精度不夠測(cè)定值需要適當(dāng)?shù)墓烙?jì)數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)編輯不同特性的數(shù)據(jù)混在一起e.離島型數(shù)據(jù)輸入有誤制程中有少量其他原因混入因制程中出現(xiàn)特殊原因而產(chǎn)生變異圖形制作與分析11 直方(正態(tài))圖88SPCf.高原型數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)編輯測(cè)量數(shù)據(jù)過(guò)少儀器精度不夠,測(cè)量數(shù)據(jù)較多品質(zhì)一般而且數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)挑選g.不規(guī)則型數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)編

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